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SDH设备电接口回损标准及其测试方法

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摘要本文阐述了电接口回波损耗(简称回损)的基本概念,介绍了SDH设备电接口回损的ITU国际标准。在此基础上,推荐了用网络分析仪测试电接口回损指标的方法,并且从理论上分析了该测试方法中应该注意的事项。

作者石晶苏宗田

机构地区中兴通讯股份有限公司

出处《电信科学》北大核心 2005年第2期84-86,共3页 Telecommunications Science

关键词回损 SDH设备接口回波损耗网络分析仪测试方法 ITU 推荐国际标准

分类号 TN253 [电子电信—物理电子学] TN25 [电子电信—物理电子学]

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电信科学

2005年第2期

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