半导体激光器的低频电噪声谱密度和器件的可靠性被引量：6

Low-frequency noise spectral density and reliability of semiconductor laser

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摘要本文给出了半导体激光器的低频电噪声谱密度和器件可靠性关系的实验结果。 The experimental results of semiconductor lasers about the relations between low-frequency noise spectral density and reliability of devices are reported in this paper.

作者石家纬金恩顺马靖戴逸松张新发

机构地区集成光电子学国家重点联合实验室吉林大学分区吉林工业大学

出处《中国激光》 EI CAS CSCD 北大核心 1993年第10期729-732,共4页 Chinese Journal of Lasers

基金集成光电子学国家重点联合实验室资助

关键词激光器噪声可靠性半导体激光器 laser, noise, reliability

分类号 TN248.4 [电子电信—物理电子学]

引文网络
相关文献

参考文献2

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中国激光

1993年第10期

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