间接耦合光电探测结构中光致负阻特性的进一步实验研究
被引量：1
A Further Experiment of Photo-negative Resistance in Indirect Coupling Photodetecting Structure
出处
《高技术通讯》
EI
CAS
CSCD
1993年第3期21-24,共4页
Chinese High Technology Letters
基金
863计划资助项目
关键词
间接耦合
光电探测
光致负阻
Indirect coupling photo-detecting structure
Coupling region
Threshold light intensity
Photo-negative resistance
Nonlinear transport process
同被引文献4
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