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基于微指令覆盖的最小指令集测试算法 被引量:2
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作者 张盛兵 高德远 樊晓桠 《计算机学报》 EI CSCD 北大核心 2000年第10期1083-1087,共5页
着重讨论了如何利用微处理器中的自测试设计来缩短功能测试序列的长度 .首先 ,依据指令的表示模型 ,将指令测试分成微指令序列和微指令执行两个测试层次 ,提出了一个基于微指令覆盖的最小指令集测试算法 ,只需检测指令集的一个子集就能... 着重讨论了如何利用微处理器中的自测试设计来缩短功能测试序列的长度 .首先 ,依据指令的表示模型 ,将指令测试分成微指令序列和微指令执行两个测试层次 ,提出了一个基于微指令覆盖的最小指令集测试算法 ,只需检测指令集的一个子集就能达到指令测试的目的 .然后 ,通过定义指令的测试代价和测试效率 ,提出了一个可以有效地选择最小测试指令集的方法 .最后 ,将算法应用于 NRS40 0 0微处理器的功能测试 ,仅为传统的全指令集测试序列的 37.7% . 展开更多
关键词 微处理器 功能测试 微指令 最小指令集测试算法
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微处理器浮点运算功能的测试方法研究 被引量:3
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作者 曲英杰 夏宏 王沁 《计算机工程与应用》 CSCD 北大核心 2001年第7期42-43,46,共3页
该文给出了一种微处理器浮点运算功能的测试方法,该方法的测试工作量少、测试时间短,而同时又具有较高的测试覆盖率。工程实践表明,该方法确实是一种可行的、有效的功能测试方法。
关键词 微处理器 功能测试 浮点运算 测试覆盖率 CPU 测试
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微处理器系统功能测试 被引量:3
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作者 张峰 王家礼 方葛丰 《现代电子技术》 2005年第10期108-110,共3页
针对微处理器系统测试问题,提出了一种全新的功能测试方法。详细介绍了该方法的硬件组成和测试生成。该方法以结构故障模型为基础,将数字电路故障分为3大类6种故障,分别为固定型故障、开路型故障和短路型故障3种,其中固定型故障又可分... 针对微处理器系统测试问题,提出了一种全新的功能测试方法。详细介绍了该方法的硬件组成和测试生成。该方法以结构故障模型为基础,将数字电路故障分为3大类6种故障,分别为固定型故障、开路型故障和短路型故障3种,其中固定型故障又可分为固定0和固定1两种,开路故障分为开路为0、开路为1以及开路为Z三种。为了验证该方法的有效性,本文针对一块以MC6 80 0为微处理器的电路板进行了测试程序开发。实验结果表明,故障覆盖率取得了满意的结果。 展开更多
关键词 微处理器系统 功能测试 故障覆盖率 结构故障模型
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基于惯性权重优化的测试用例生成方法 被引量:3
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作者 李昭 陈雨杭 +1 位作者 沈金伟 聂旭清 《计算机工程与设计》 北大核心 2023年第6期1743-1748,共6页
针对组合测试测试用例生成环节中局部最优的问题,提出一种基于惯性权重优化的测试用例生成方法。结合粒子群算法的优点,以生成最小规模覆盖表为目标,改进适应值函数,设计一种惯性权重微分递减策略;在此基础上,更新调优后的惯性权重值,... 针对组合测试测试用例生成环节中局部最优的问题,提出一种基于惯性权重优化的测试用例生成方法。结合粒子群算法的优点,以生成最小规模覆盖表为目标,改进适应值函数,设计一种惯性权重微分递减策略;在此基础上,更新调优后的惯性权重值,使用测试用例演化策略迭代生成测试用例集,提升生成更小规模覆盖表的能力。实验结果表明,该方法在高覆盖需求下,覆盖表最小生成规模和平均生成规模优于其它方法。 展开更多
关键词 软件测试 测试用例生成 惯性权重递减 适应值函数 测试用例集 覆盖表生成 最小规模覆盖表
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