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PLBT硅光电负阻器件及光控正弦波振荡器 被引量:1
1
作者 张培宁 张以谟 +4 位作者 郭维廉 郑云光 李树荣 梁惠来 张世林 《天津大学学报》 EI CAS CSCD 2000年第2期252-254,共3页
首次报道了 PL BT硅光电负阻器件及光控正弦波振荡器的初步研究结果 ,介绍了硅光电负阻器件 (PL BT)
关键词 硅光电负阻器件 振荡器 光控正弦波振荡 plbt
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采用PLBT光控振荡器的周期解
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作者 储健 高和平 马强 《自动化与仪表》 2008年第8期58-60,共3页
采用硅光电负阻器件PLBT可以构成光控振荡器。只要对在光照下PLBT的输出特性进行合理的解析描述,就可以应用KBM方法求解该系统的第一次近似解以及高次近似解。在设计这种振荡器时,该解析解有助于正确选择电路参数。
关键词 硅光电负阻器件 拉姆达光电双极晶体管 非线性微分方程 摄动理论 KBM平均法
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集成型硅光电负阻器件及应用研究 被引量:7
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作者 张培宁 郭维廉 +4 位作者 张以谟 郑云光 李树荣 梁惠来 张世林 《光子学报》 EI CAS CSCD 1999年第5期424-426,共3页
本文报道了对集成型硅光电负阻器件及其应用的初步研究结果.文中介绍了硅光电负阻器件(PLBT)的特性并对用该器件所构成的光控正弦波振荡器进行了实验研究.根据实验结果。
关键词 硅光电负阻器件 振荡器 集成型 plbt
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硅光电负阻器件的光双稳态瞬态特性
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作者 郑元芬 郭维廉 +7 位作者 张世林 张培宁 李树荣 郑云光 陈弘达 吴荣汉 林世鸣 芦秀玲 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第8期66-68,71,共4页
在本文中 ,一方面对电路参数与硅光电负阻器件的光学双稳态开关时间的关系进行了研究 ,另一方面对器件在低、中、高三个不同输入光强区的光学双稳态响应的变化趋势进行了研究 .硅光电负阻器件包括有各种类型 ,本文主要对“λ”型双极光... 在本文中 ,一方面对电路参数与硅光电负阻器件的光学双稳态开关时间的关系进行了研究 ,另一方面对器件在低、中、高三个不同输入光强区的光学双稳态响应的变化趋势进行了研究 .硅光电负阻器件包括有各种类型 ,本文主要对“λ”型双极光电负阻晶体管 (PLBT) 展开更多
关键词 硅光电负阻器件 plbt 光双稳开关时间
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Modeling and Simulation of Photoelectronic Lambda Bipolar Transistor 被引量:1
5
作者 张世林 张波 郭维廉 《Transactions of Tianjin University》 EI CAS 2005年第5期348-352,共5页
Based on the region model of lambda bipolar transistor ( LBT), a dividing region theory model of PLBT is set up,simulated and verified. Firstly, the principal operations of different kinds of photoelectronic lambda bi... Based on the region model of lambda bipolar transistor ( LBT), a dividing region theory model of PLBT is set up,simulated and verified. Firstly, the principal operations of different kinds of photoelectronic lambda bipolar transistor ( PLBT) are characterized by a simple circuit model. Through mathematical analysis of the equivalent circuit, the typical characteristics curve is divided into positive resistance, peak, negative resistance and cutoff regions. Secondly, by analyzing and simulating this model, the ratio of MOSFET width to channel length, threshold voltage and common emitter gain are discovered as the main structure parameters that determine the characteristic curves of PLBT. And peak region width, peak current value, negative resistance value and valley voltage value of PLBT can be changed conveniently according to the actual demands by modifying these parameters. Finally comparisons of the characteristics of the fabricated devices and the simu- lation results are made, which show that the analytical results are in agreement with the observed devices characteristics. 展开更多
关键词 silicon photoelectronic negative resistance device bipolar transistor device modeling
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