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前驱体对PECVD制备类金刚石涂层的结构与性能的影响
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作者 黄志宏 《表面技术》 北大核心 2026年第1期115-121,共7页
目的探究不同含氢量的碳氢前驱体对直流脉冲PECVD制备DLC涂层的结构(化学键、sp^(3)含量)和力学性能(硬度、弹性模量)的影响规律。方法采用直流脉冲PECVD技术,以乙炔、氢稀释乙炔、甲烷、氢稀释甲烷为前驱体,制备4种类金刚石涂层,即DLC(... 目的探究不同含氢量的碳氢前驱体对直流脉冲PECVD制备DLC涂层的结构(化学键、sp^(3)含量)和力学性能(硬度、弹性模量)的影响规律。方法采用直流脉冲PECVD技术,以乙炔、氢稀释乙炔、甲烷、氢稀释甲烷为前驱体,制备4种类金刚石涂层,即DLC(C_(2)H_(2))、DLC(C_(2)H_(2)+H_(2))、DLC(CH_(4))、DLC(CH_(4)+H_(2))。通过扫描电子显微镜、拉曼光谱、X射线光电子能谱和纳米压痕技术系统研究不同含氢量前驱体对涂层厚度、化学键结构、sp^(3)含量、力学性能的影响。结果DLC(C_(2)H_(2))的沉积速度为0.83μm/h,是DLC(CH_(4))涂层的3倍,氢稀释轻微影响涂层的沉积速度。随着前驱体含氢量的升高,总体趋势是DLC涂层的ID/IG降低,G峰红移,sp^(3)含量增加,硬度和弹性模量下降。DLC(C_(2)H_(2))具有最大的ID/IG(3.1)、最高的G峰峰位(1567 cm^(-1))和较低的sp^(3)含量(6.1%)。同时,DLC(C_(2)H_(2))表现出最大的硬度和弹性模量,分别为26.9、240 GPa。结论采用C_(2)H_(2)制备DLC涂层具有优质、高效的特点,C_(2)H_(2)是硬质DLC涂层最佳的前驱体。前驱体含氢量提高了DLC涂层中sp^(3)-CH_(n)含量,未提高sp^(3)-CC含量,而sp^(3)-CH_(n)终止CC网络,导致DLC涂层的力学性能下降。氢掺入减小了DLC涂层中sp^(2)团簇尺寸,同时增大了键角无序度。 展开更多
关键词 类金刚石碳 pecvd 拉曼 前驱体 sp^(3) 硬度 弹性模量
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PECVD工艺腔结构设计与工艺验证
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作者 陈嘉荣 康永新 +2 位作者 王敏 康冬妮 张慧俊 《电子工艺技术》 2026年第2期20-23,共4页
设计了一种用于PECVD(等离子体增强化学气相沉积)的工艺腔结构,并对相关工艺进行验证。首先阐述了PECVD工艺腔的设计原理,利用相关软件对工艺腔结构进行优化。通过对工艺腔内部组件的合理布局以及参数设定,可实现更好的等离子体分布和... 设计了一种用于PECVD(等离子体增强化学气相沉积)的工艺腔结构,并对相关工艺进行验证。首先阐述了PECVD工艺腔的设计原理,利用相关软件对工艺腔结构进行优化。通过对工艺腔内部组件的合理布局以及参数设定,可实现更好的等离子体分布和反应气体传输效果。随后搭建工艺腔测试系统并进行工艺验证,试验结果表明,该工艺腔结构在特定工艺条件下,能够有效提高薄膜沉积质量和均匀性,各项性能指标达到设计预期,满足实际生产需求。 展开更多
关键词 pecvd 工艺腔结构 设计 工艺验证
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铝加热盘氟化层厚度对PECVD设备和工艺的影响
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作者 郭月 姜宗帅 《中国新技术新产品》 2026年第5期55-57,共3页
PECVD(等离子体增强化学气相沉积)工艺在半导体和集成电路制造行业中起着至关重要的作用。其工艺稳定性直接决定了产品晶圆的性能与良率。铝加热盘在PECVD设备中是极其重要的部件,对PECVD的热场、射频场和颗粒污染等方面有着重要影响。... PECVD(等离子体增强化学气相沉积)工艺在半导体和集成电路制造行业中起着至关重要的作用。其工艺稳定性直接决定了产品晶圆的性能与良率。铝加热盘在PECVD设备中是极其重要的部件,对PECVD的热场、射频场和颗粒污染等方面有着重要影响。本文主要对铝加热盘表面氟化层的形成机制和对PECVD设备和工艺的影响进行介绍,并通过实测数据及PECVD机台表现系统分析了铝加热盘氟化层厚度增加对PECVD工艺的热传递效率、射频场的阻抗分布以及腔体内和晶圆的颗粒污染的影响。最后,提出了通过减少NF3流量的方法来降低铝加热盘氟化层的增长速度,减少对PECVD设备运行和工艺表现的影响,为提高PECVD设备工艺稳定性和产品良率提供了一定的参考价值。 展开更多
关键词 pecvd 铝加热盘 氟化层 热传导 颗粒污染
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FFKM密封圈在PECVD设备中耐等离子体性能与寿命研究
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作者 郭月 姜宗帅 《中国新技术新产品》 2026年第6期69-71,共3页
等离子体增强化学气相沉积(PECVD)是半导体制造中薄膜沉积的核心工艺,其反应腔室内的密封材料需要耐受高活性等离子体冲刷、强化学腐蚀及高温环境。本文系统研究了全氟醚橡胶(FFKM)胶圈在PECVD设备中的耐等离子体腐蚀性能,通过分析材料... 等离子体增强化学气相沉积(PECVD)是半导体制造中薄膜沉积的核心工艺,其反应腔室内的密封材料需要耐受高活性等离子体冲刷、强化学腐蚀及高温环境。本文系统研究了全氟醚橡胶(FFKM)胶圈在PECVD设备中的耐等离子体腐蚀性能,通过分析材料配方、微观结构与性能的关联机制,揭示了其耐腐蚀机理。通过耐等离子体氟化的恶化试验,得到全氟醚橡胶胶圈的质量损失率,同时根据静态密封最小压缩率推算胶圈由于等离子体腐蚀引发泄漏时累计沉积晶圆的数量,并且结合机台上的密封胶圈发生泄漏时实际沉积的晶圆数量作为对比。本研究为半导体高端装备密封材料的寿命评估提供理论依据,为评估全氟醚橡胶胶圈的维护周期及使用寿命作为参考,具有一定的工程应用价值。 展开更多
关键词 pecvd FFKM 耐等离子体性能
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管式PECVD设备源柜的空间布局设计与优化
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作者 朱辉 范子彦 +1 位作者 田安 黄心沿 《太阳能》 2025年第9期88-94,共7页
为增大管式PECVD设备中源柜(下文简称为“管式PE源柜”)内部的安装、调试及后期维护空间,且实现从源柜侧安装和更换石英管,首先对管式PE源柜的常规空间布局进行了设计优化;然后对不同的优化方案进行了对比;最后对最佳优化方案的应用效... 为增大管式PECVD设备中源柜(下文简称为“管式PE源柜”)内部的安装、调试及后期维护空间,且实现从源柜侧安装和更换石英管,首先对管式PE源柜的常规空间布局进行了设计优化;然后对不同的优化方案进行了对比;最后对最佳优化方案的应用效果进行了介绍,并对未来优化方向进行了展望。研究结果显示:相较于管式PE源柜的常规空间布局,采用将内部管道从反应室抽口伸出后先左转,再直行从管式PE源柜背面中间伸出,并与外部管道对接的优化方案(即B2版优化方案)后,管式PE源柜的现场调试效率提升了20%,石英管更换效率提升了40%,且源柜的美观性也得到大幅提升。 展开更多
关键词 管式pecvd 源柜 空间布局 石英管 效率提升
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PECVD工艺腔的气体流场均匀性优化
6
作者 陈嘉荣 黄晋 +1 位作者 王敏 魏宇祥 《电子工艺技术》 2025年第6期56-59,共4页
在等离子体增强化学汽相沉积(PECVD)制备工艺中,反应腔内气体流场均匀性对薄膜沉积质量起着关键作用。借助ANSYS Fluent软件,针对典型PECVD设备腔室,探究工艺腔进气喷淋结构对气体流场的影响。通过设定参数构建模型并开展计算流体动力学... 在等离子体增强化学汽相沉积(PECVD)制备工艺中,反应腔内气体流场均匀性对薄膜沉积质量起着关键作用。借助ANSYS Fluent软件,针对典型PECVD设备腔室,探究工艺腔进气喷淋结构对气体流场的影响。通过设定参数构建模型并开展计算流体动力学(CFD)仿真,定义量化指标评估流场均匀性。结果显示,单层喷淋板存在气体偏流、均匀性差的问题;三层喷淋板能显著提升流场均匀性,在射频干扰工况下,优化后的三层喷淋结构可有效稳定流场。工艺试验进一步验证了仿真结果的可靠性,为薄膜均匀沉积的工艺腔设计提供理论与实践支持。 展开更多
关键词 pecvd工艺 喷淋板结构 CFD 气体流场均匀性 工艺验证
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管式PECVD设备“防导通”型石墨舟载具研究
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作者 陈晖 杨莎 袁琛 《电子工业专用设备》 2025年第6期14-18,28,共6页
针对管式PECVD设备沉积半导体薄膜工艺过程中载具电极阻抗下降甚至击穿导通的问题,提出了“防导通”型的管式PECVD石墨舟载具,介绍了其防导通原理机制,并进行了实验研究。实验测试证明了改进型防导通结构的有效性。此外,实验揭示了不同... 针对管式PECVD设备沉积半导体薄膜工艺过程中载具电极阻抗下降甚至击穿导通的问题,提出了“防导通”型的管式PECVD石墨舟载具,介绍了其防导通原理机制,并进行了实验研究。实验测试证明了改进型防导通结构的有效性。此外,实验揭示了不同工艺温度、工艺压力对载具防导通性能的影响,旨在为拓展管式PECVD在半导体镀膜领域的应用提供有效的技术支持。 展开更多
关键词 管式pecvd 半导体薄膜 防导通 石墨舟载具
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PECVD法制备锆合金包壳管表面SiC涂层及性能研究
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作者 卢永恒 刘伟 +4 位作者 钱跃庆 孟莹 王炫力 李洋 宋希文 《热加工工艺》 北大核心 2025年第16期152-158,共7页
SiC是一种极具潜力的耐事故燃料包壳涂层材料。为避免锆合金包壳管强度的高温失效,需要开发SiC涂层的低温制备技术。采用等离子体增强化学气相沉积(PECVD)法,以甲基硅烷作为唯一反应气源,沉积温度低于锆合金最终退火温度(~600℃),在锆... SiC是一种极具潜力的耐事故燃料包壳涂层材料。为避免锆合金包壳管强度的高温失效,需要开发SiC涂层的低温制备技术。采用等离子体增强化学气相沉积(PECVD)法,以甲基硅烷作为唯一反应气源,沉积温度低于锆合金最终退火温度(~600℃),在锆合金包壳管表面制出均匀致密的SiC涂层。利用X射线衍射仪、拉曼光谱仪、扫描电子显微镜、附着力划痕仪、万能试验机对锆合金包壳管SiC涂层的物相组成、微观形貌、结合强度和力学性能进行分析测试。结果表明:与常规化学气相沉积(CVD)制备技术相比,采用PECVD方法制备的SiC涂层为微晶态结构,涂层均匀、致密且光滑、平整,与锆合金包壳管基底结合良好。相比于CVD-SiC涂层样品,其轴向抗拉强度提高了约110 MPa,具有明显的性能优势。 展开更多
关键词 等离子体增强化学气相沉积 锆合金包壳管 SIC涂层 轴向抗拉强度
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隧穿层和后退火温度对PECVD法制备的TOPCon钝化性能影响的研究
9
作者 王皓正 林文杰 +3 位作者 彭梦云 王永谦 邱开富 余学功 《太阳能学报》 北大核心 2025年第11期193-199,共7页
深入探讨利用等离子增强化学气相沉积(PECVD)技术在制备N型高效隧穿氧化层钝化接触(TOPCon)太阳电池中的应用,着重分析隧穿氧化层与多晶硅层的关键工艺参数及其对电池钝化性能的影响。实验结果显示,隧穿氧化层的厚度对电池的钝化效果起... 深入探讨利用等离子增强化学气相沉积(PECVD)技术在制备N型高效隧穿氧化层钝化接触(TOPCon)太阳电池中的应用,着重分析隧穿氧化层与多晶硅层的关键工艺参数及其对电池钝化性能的影响。实验结果显示,隧穿氧化层的厚度对电池的钝化效果起到至关重要的作用。当氧化时间控制在105 s时钝化效果最佳,主要是因为此隧穿氧化层厚度能在载流子的隧穿概率与界面钝化效果之间实现最佳平衡。此外,退火温度也是钝化性能的关键影响因素,其最佳范围为915~930℃。高温退火不仅可促进磷掺杂的激活,还可减少界面缺陷,显著提高界面质量。多晶硅层的磷元素掺杂量也会影响钝化性能。随着磷掺杂量的增加,多晶硅层的场钝化效果增强,从而可提升整体的钝化性能。然而,过高的磷掺杂量可能会导致硅表面出现严重的俄歇复合现象,从而削弱钝化效果。通过精确控制隧穿氧化层的厚度和退火温度,可提升TOPCon电池的钝化效果,分析氧化时间及退火温度的影响,揭示各参数之间的复杂相互作用。最终,通过对Topcon电池关键工艺参数的深入模拟,揭示优化条件下的高效能表现,以期为工艺改进和实际应用提供科学依据与技术支持。 展开更多
关键词 太阳电池 晶体硅 化学气相沉积 N型高效隧穿氧化层钝化接触 隧穿层 退火温度
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基于RF-PECVD的大口径红外元件DLC膜层制备工艺研究
10
作者 张天行 李忠 +2 位作者 徐旭 薛俊 熊涛 《光学与光电技术》 2025年第3期136-142,共7页
为解决大口径红外元件类金刚石(Diamond-Like Carbon,DLC)膜层的镀膜工艺难题,满足长焦距、大视场光学系统的技术需求,采用射频等离子增强化学气相沉积(Radio Frequency Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition,RF-PECVD)制备工艺方... 为解决大口径红外元件类金刚石(Diamond-Like Carbon,DLC)膜层的镀膜工艺难题,满足长焦距、大视场光学系统的技术需求,采用射频等离子增强化学气相沉积(Radio Frequency Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition,RF-PECVD)制备工艺方法,基于容性耦合等离子体驻波效应及趋肤效应机理,在大口径红外元件基底制备了红外类金刚石膜。通过优化改进等离子体电场均匀性,有效降低了膜层应力并提升了其可靠性及膜层厚度均匀性。依据光学薄膜元件环境试验要求进行了高温、低温及湿热等试验,试验后膜层未出现膜层起皮、褶皱及脱落现象。结果表明,大口径红外类金刚石膜具备良好抗温度冲击及腐蚀等特性,满足光学元件镀膜的正常需求,进一步拓展了大口径DLC薄膜的制备工艺能力。 展开更多
关键词 大口径 红外元件 类金刚石膜 制备工艺 射频等离子增强化学气相沉积
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PECVD法生长氮化硅工艺的研究 被引量:31
11
作者 吴清鑫 陈光红 +1 位作者 于映 罗仲梓 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第5期703-705,710,共4页
采用了等离子体增强化学气相沉积法(plas-ma-enhanced chemical vapor deposition,PECVD)在聚酰亚胺(polyimide,PI)牺牲层上生长氮化硅薄膜,讨论沉积温度、射频功率、反应气体流量比等工艺参数对氮化硅薄膜的生长速率、氮硅比、残余应... 采用了等离子体增强化学气相沉积法(plas-ma-enhanced chemical vapor deposition,PECVD)在聚酰亚胺(polyimide,PI)牺牲层上生长氮化硅薄膜,讨论沉积温度、射频功率、反应气体流量比等工艺参数对氮化硅薄膜的生长速率、氮硅比、残余应力等性能的影响,得到适合制作接触式射频MEMS开关中悬梁的氮化硅薄膜的最佳工艺条件。 展开更多
关键词 pecvd 氮化硅 聚酰亚胺 残余应力 射频MEMS开关
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PECVD沉积氮化硅膜的工艺研究 被引量:21
12
作者 刘志平 赵谡玲 +2 位作者 徐征 刘金虎 李栋才 《太阳能学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第1期54-59,共6页
采用等离子体增强型化学气相沉积(PECVD)法在晶体硅太阳电池表面镀上一层氮化硅减反射膜,通过数值分析和实验研究的方法讨论了压强、SiH_4/NH_3比、总气体流量及时间等工艺参数对镀膜速率、折射率和镀膜均匀性及钝化效果的影响。在温度... 采用等离子体增强型化学气相沉积(PECVD)法在晶体硅太阳电池表面镀上一层氮化硅减反射膜,通过数值分析和实验研究的方法讨论了压强、SiH_4/NH_3比、总气体流量及时间等工艺参数对镀膜速率、折射率和镀膜均匀性及钝化效果的影响。在温度为450℃、NH_3/SiH_4=8:1、总气体流量为4320sccm、压力为170Pa、沉积时间为720s的条件下生长出平均膜厚为75nm、折射率为2.05、少子寿命相对较高的氮化硅膜,且应用于单晶整舟为168片的管式PECVD设备,片间膜厚级差在5nm以内,而折射率级差在0.3以内,少子寿命可提高约30%。 展开更多
关键词 pecvd 氮化硅 镀膜工艺 少子寿命
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PECVD低温制备微晶硅薄膜的研究 被引量:15
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作者 马康 王海燕 +3 位作者 吴芳 卢景霄 郜小勇 陈永生 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第1期97-101,共5页
实验采用等离子体增强化学气相沉积(PECVD)法在玻璃衬底上制备了微晶硅薄膜。研究了氢稀释比、衬底温度、射频功率等因素对薄膜晶化的影响,得出在一定范围内随着衬底温度的升高、射频功率和氢稀释比的增大,薄膜的晶化率得到提高;但进一... 实验采用等离子体增强化学气相沉积(PECVD)法在玻璃衬底上制备了微晶硅薄膜。研究了氢稀释比、衬底温度、射频功率等因素对薄膜晶化的影响,得出在一定范围内随着衬底温度的升高、射频功率和氢稀释比的增大,薄膜的晶化率得到提高;但进一步提高沉积温度、射频功率反而会使薄膜晶化效果变差,并对晶化硅薄膜低温生长的机理进行了初步的探讨。 展开更多
关键词 pecvd 微晶硅薄膜 晶化率 生长机制
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PECVD淀积SiO_2的应用 被引量:15
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作者 吕文龙 罗仲梓 +1 位作者 何熙 张春权 《功能材料与器件学报》 CAS CSCD 北大核心 2008年第1期33-37,共5页
研究了PECVD腔内压力、淀积温度和淀积时间等工艺条件对SiO2薄膜的结构、淀积速率和抗腐蚀性等性能的影响。结果表明,利用剥离工艺,并采用AZ5214E光刻胶作为剥离掩模成功制作了约2μm厚的包裹在金属铝柱周围的SiO2隔热掩模。
关键词 pecvd SIO2 AZ5214E 剥离
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PECVD淀积氮化硅薄膜性质研究 被引量:44
15
作者 王晓泉 汪雷 +3 位作者 席珍强 徐进 崔灿 杨德仁 《太阳能学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第3期341-344,共4页
使用等离子体增强化学气相沉积(PlasmaEnhancedChemicalVaporDeposition,PECVD)在P型硅片上沉积了氮化硅(SiNx)薄膜,使用薄膜测试仪观察了薄膜的厚度、折射率和反射光谱,利用扫描电子显微镜(SEM),原子力显微镜(AFM)观察了截面和表面形貌... 使用等离子体增强化学气相沉积(PlasmaEnhancedChemicalVaporDeposition,PECVD)在P型硅片上沉积了氮化硅(SiNx)薄膜,使用薄膜测试仪观察了薄膜的厚度、折射率和反射光谱,利用扫描电子显微镜(SEM),原子力显微镜(AFM)观察了截面和表面形貌,使用傅立叶变换红外光谱仪(FTIR)和能谱仪(EDX)分析了薄膜的化学结构和成分。最后,考察了薄膜在经过快速热处理过程后的热稳定性,并利用霍尔参数测试仪(Hall)比较了薄膜沉积前后载流子迁移率的变化。 展开更多
关键词 太阳电池 pecvd 氮化硅
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PECVD提高SiO_2薄膜致密性的研究 被引量:7
16
作者 郭文涛 谭满清 +2 位作者 焦健 郭小峰 孙宁宁 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第4期577-581,共5页
为了在高功率980 nm激光器工艺中制备高质量、均匀性好、致密性高的SiO2薄膜,本文研究了PECVD的反应压强、射频功率、SiH4与N2O流量比对SiO2薄膜的沉积速率和BOE腐蚀速率的影响。实验采用BOE腐蚀速率来反映SiO2薄膜的致密性,采用傅里叶... 为了在高功率980 nm激光器工艺中制备高质量、均匀性好、致密性高的SiO2薄膜,本文研究了PECVD的反应压强、射频功率、SiH4与N2O流量比对SiO2薄膜的沉积速率和BOE腐蚀速率的影响。实验采用BOE腐蚀速率来反映SiO2薄膜的致密性,采用傅里叶红外光谱仪得到SiO2薄膜的红外吸收特性,采用原子力显微镜(AFM)观察SiO2薄膜的表面形貌。通过优化各工艺参数最终获得了BOE腐蚀速率为9.18 nm/s的SiO2薄膜。 展开更多
关键词 pecvd SIO2薄膜 致密性 BOE腐蚀速率
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PECVD SiN_x薄膜应力的研究 被引量:22
17
作者 赵永军 王民娟 +1 位作者 杨拥军 梁春广 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1999年第3期183-187,共5页
等离子增强化学气相淀积 ( Plasma- enhanced Chemical Vaper Deposition,PECVD)Si Nx 薄膜在微电子和微机械领域的应用越来越重要 .它的一个重要的物理参数——机械应力 ,也逐渐被人们所重视 .本文研究了应力跟一些基本的淀积条件如温... 等离子增强化学气相淀积 ( Plasma- enhanced Chemical Vaper Deposition,PECVD)Si Nx 薄膜在微电子和微机械领域的应用越来越重要 .它的一个重要的物理参数——机械应力 ,也逐渐被人们所重视 .本文研究了应力跟一些基本的淀积条件如温度、压力、气体流量等之间的关系 .讨论了应力产生的原因以及随工艺条件变化的机理 .通过工艺条件的合理选择 ,做出了 0 .8~ 1 .0 μm厚的无应力的 PECVD Si Nx 展开更多
关键词 氮化硅 pecvd 薄膜应力
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PECVD法沉积类金刚石膜的结构及其摩擦学性能 被引量:13
18
作者 杨莉 陈强 张受业 《真空科学与技术学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第3期292-297,共6页
以C2H2为碳源,Ar气为辅助气体,利用射频等离子体化学气相沉积的方法在有机薄膜PET和载玻片上制备了类金刚石(diamond-like carbon,DLC)薄膜。通过红外光谱(FTIR)、拉曼光谱(Raman)分析了所制备DLC薄膜的结构;利用原子力显微镜(AFM)分析... 以C2H2为碳源,Ar气为辅助气体,利用射频等离子体化学气相沉积的方法在有机薄膜PET和载玻片上制备了类金刚石(diamond-like carbon,DLC)薄膜。通过红外光谱(FTIR)、拉曼光谱(Raman)分析了所制备DLC薄膜的结构;利用原子力显微镜(AFM)分析了薄膜的表面形貌;另外,还利用摩擦磨损仪对薄膜的机械性能进行了研究。实验得到:FTIR、Raman谱图分析发现碳氢膜主要由sp2和sp3杂化的碳氢化合物呈层状堆积而成,其组分与沉积参数密切相关;同时,sp2和sp3杂化比例影响所制备薄膜的致密性、均匀性和耐磨性能。 展开更多
关键词 pecvd 类金刚石膜 结构分析 摩擦性能
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PECVD制备富硅氮化硅薄膜的工艺条件及其性质的研究 被引量:10
19
作者 张龙龙 周炳卿 +1 位作者 张林睿 高玉伟 《硅酸盐通报》 CAS CSCD 北大核心 2014年第4期757-763,共7页
采用等离子体增强化学气相沉积法(PECVD)以SiH4和N2为反应气体,分别在射频功率、硅烷稀释度[SiH4/N2]、衬底温度为变量的情况下制备了富硅氮化硅薄膜材料,利用X射线衍射谱(XRD)、傅里叶变换红外谱(FTIR)、紫外-可见光吸收谱(UV-Vis)对... 采用等离子体增强化学气相沉积法(PECVD)以SiH4和N2为反应气体,分别在射频功率、硅烷稀释度[SiH4/N2]、衬底温度为变量的情况下制备了富硅氮化硅薄膜材料,利用X射线衍射谱(XRD)、傅里叶变换红外谱(FTIR)、紫外-可见光吸收谱(UV-Vis)对薄膜材料进行了表征,并研究了薄膜材料的微结构和晶化状况、光学特性等。实验结果表明,所沉积薄膜都为富硅的非晶氮化硅材料,改变射频功率、硅烷稀释度和衬底温度可以控制氮化硅薄膜中N元素的含量、光学带隙的大小和薄膜的折射率,并制备出最适宜富硅氮化硅薄膜,为进一步退火析出硅量子点奠定了基础。 展开更多
关键词 pecvd 富硅氮化硅薄膜 非晶结构 光学带隙
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