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一种Mbist新型算法March 3CL的设计 被引量：4
1
作者 陈之超 李小进 +1 位作者 丁艳芳 李玲玲 《电子测试》 2017年第11X期50-52,47,共4页
制造工艺的不断进步,嵌入式存储器在片上系统芯片中的集成度越来越大,同时存储器本身也变得愈加复杂,使得存储器出现了一系列新的故障类型,比如三单元耦合故障。存储器內建自测试技术是当今存储器测试的主流方法,研究高效率的Mbist算法... 制造工艺的不断进步,嵌入式存储器在片上系统芯片中的集成度越来越大,同时存储器本身也变得愈加复杂,使得存储器出现了一系列新的故障类型,比如三单元耦合故障。存储器內建自测试技术是当今存储器测试的主流方法,研究高效率的Mbist算法,是提高芯片成品率的必要前提。以SRAM的7种三单元耦合故障为研究对象,通过分析故障行为得到三单元耦合的72种故障原语,并且分析了地址字内耦合故障的行为,进而提出新的测试算法March 3CL。以2048X32的SRAM为待测存储器,利用EDA工具进行了算法的仿真,仿真结果表明,该算法具有故障覆盖率高、时间复杂度低等优点。 展开更多
关键词 SRAM 存储器內建自测试 三单元耦合故障 MARCH算法 可测性设计
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嵌入式存储器内建自测试的原理及实现 被引量：15
2
作者 陆思安 何乐年 +1 位作者 沈海斌 严晓浪 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2004年第2期205-208,共4页
随着集成电路设计规模的不断增大 ,在芯片中特别是在系统芯片 SOC( system on a chip)中嵌入大量存储器的设计方法正变得越来越重要。文中详细分析了嵌入式存储器内建自测试的实现原理 ,并给出了存储器内建自测试的一种典型实现。
关键词 嵌入式存储器 存储器内建自测试 MARCH算法
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一种基于存储器内建自测试的新型动态March算法设计 被引量：8
3
作者 蔡志匡 余昊杰 +2 位作者 杨航 王子轩 郭宇锋 《电子与信息学报》 EI CSCD 北大核心 2023年第9期3420-3429,共10页
存储器作为片上系统(SoC)中最大和最重要的模块之一,它的稳定性和可靠性关乎着整个芯片能否正常工作。为了提高存储器的测试效率,该文提出一种新型动态March算法——Dynamic-RAWC。相比经典的March RAW算法,Dynamic-RAWC算法有着更良好... 存储器作为片上系统(SoC)中最大和最重要的模块之一,它的稳定性和可靠性关乎着整个芯片能否正常工作。为了提高存储器的测试效率,该文提出一种新型动态March算法——Dynamic-RAWC。相比经典的March RAW算法,Dynamic-RAWC算法有着更良好的故障检测效果:动态故障覆盖率提高了31.3%。这个可观的效果得益于所提算法以经典的March RAW算法为基础进行优化,融入了Hammer,March C+算法的测试元素和一些新的测试元素。不同于普通March型算法的固定元素,所提算法支持用户自定义算法的执行顺序以适应不同的故障检测需求,能够动态地控制算法元素,在时间复杂度和故障覆盖率之间进行调整从而达到良好的平衡。 展开更多
关键词 存储器内建自测试 MARCH算法 动态故障 故障覆盖率
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片上SRAM内建自测试的实现方法 被引量：2
4
作者 马琪 裘燕锋 《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心 2010年第S1期185-189,共5页
存储器内建自测试(MBIST)技术是目前芯片嵌入式存储器测试的最通用方法.介绍了基于自编RTL和基于Synopsys Rambist EDA技术的两种片上SRAM BIST电路方法.
关键词 片上SRAM 内建自测试 mbist算法
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一款雷达信号处理SOC芯片的存储器内建自测试设计 被引量：5
5
作者 饶全林 何春 +1 位作者 饶青 刘辉华 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2008年第7期95-99,共5页
内建自测试(BIST)为嵌入式存储器提供了一种有效的测试方法.详细介绍了存储器故障类型及内建自测试常用的March算法和ROM算法.在一款雷达信号处理SOC芯片中BIST被采用作为芯片内嵌RAM和ROM的可测试性设计的解决方案.利用BIST原理成功地... 内建自测试(BIST)为嵌入式存储器提供了一种有效的测试方法.详细介绍了存储器故障类型及内建自测试常用的March算法和ROM算法.在一款雷达信号处理SOC芯片中BIST被采用作为芯片内嵌RAM和ROM的可测试性设计的解决方案.利用BIST原理成功地为芯片内部5块RAM和2块ROM设计了自测试电路,并在芯片的实际测试过程中成功完成对存储器的测试并证明内嵌存储器不存在故障. 展开更多
关键词 存储器内建自测试 故障模型 MARCH算法 ROM算法 可测试性设计
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面向存储器核的内建自测试 被引量：4
6
作者 檀彦卓 徐勇军 +2 位作者 韩银和 李华伟 李晓维 《计算机工程与科学》 CSCD 2005年第4期40-42,65,共4页
存储器内建自测试是当前针对嵌入式随机存储器测试的一种经济有效的途径。它实质是 BIST测试算法在芯片内部的硬件实现,形成“片上BIST测试结构”,作为E RAM核与芯片系统其他逻辑电路的接口,负责控制功能,实现片上E RAM的自动测试。根... 存储器内建自测试是当前针对嵌入式随机存储器测试的一种经济有效的途径。它实质是 BIST测试算法在芯片内部的硬件实现,形成“片上BIST测试结构”,作为E RAM核与芯片系统其他逻辑电路的接口,负责控制功能,实现片上E RAM的自动测试。根据一个实际项目,本文介绍了MBIST的整体设计过程,并针对测试开销等给出了定量和定性的讨论。 展开更多
关键词 嵌入式随机存储器 测试 存储器 存储器核 自测试技术
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基于改进算法的DICE结构抗辐射SRAM内建自测试电路设计 被引量：4
7
作者 王海新 曹贝 +1 位作者 付方发 李美慧 《黑龙江大学自然科学学报》 CAS 2020年第6期743-750,共8页
为测试DICE结构抗辐射静态随机存储器(Static random-access memory,SRAM)在生产制造后是否存在故障,针对DICE结构抗辐射SRAM设计存储器内建自测试电路(Memory built-in self-test,MBIST)。DICE结构SRAM不同于传统结构SRAM,由于它的存... 为测试DICE结构抗辐射静态随机存储器(Static random-access memory,SRAM)在生产制造后是否存在故障,针对DICE结构抗辐射SRAM设计存储器内建自测试电路(Memory built-in self-test,MBIST)。DICE结构SRAM不同于传统结构SRAM,由于它的存储单元结构更复杂,更多缺陷易出现在DICE结构SRAM的生产制造过程中。为了有针对性地测试出由这些缺陷导致的故障,提出了一种针对DICE结构SRAM的改进算法,此算法在March C算法的基础上仅增加了两个测试序列,使其不仅能覆盖March C算法所能覆盖的所有故障,还能覆盖DICE结构SRAM所特有的故障,提高了测试算法对DICE结构SRAM的综合故障覆盖率,在实际应用开发中,实现了对待测电路的特异性测试算法优化的目标。本算法对DICE结构SRAM设计MBIST电路,并对设计完成的MBIST电路RTL代码进行功能仿真,仿真结果证明了所设计电路的可行性和正确性,可为抗辐射SoC芯片内嵌SRAM测试提供符合工程项目开发的IP。 展开更多
关键词 DICE结构抗辐射SRAM 故障模型 MARCH算法 存储器内建自测试
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一种适用于FinFET单存储单元的高效的动态故障测试算法 被引量：2
8
作者 桑胜男 张立军 +1 位作者 郑坚斌 彭增发 《微电子学与计算机》 北大核心 2019年第4期17-22,共6页
FinFET作为现在最前沿的晶体管技术,在嵌入式存储器上得到了广泛应用.但是,新的工艺也带来了新的缺陷.Synopsys公司通过故障建模及测试发现:FinFET存储器比平面存储器对动态故障更敏感.而经典的测试算法仅仅针对静态故障.目前关于动态... FinFET作为现在最前沿的晶体管技术,在嵌入式存储器上得到了广泛应用.但是,新的工艺也带来了新的缺陷.Synopsys公司通过故障建模及测试发现:FinFET存储器比平面存储器对动态故障更敏感.而经典的测试算法仅仅针对静态故障.目前关于动态故障的测试算法极少,并且复杂度很高.因此,本文提出了一种改进的动态故障测试算法,该算法能够覆盖所有连续两次敏化操作的单单元动态故障. 展开更多
关键词 SRAM MARCH算法 动态故障 故障原语 mbist
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