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InGaAlN四元合金的光学性质和低维结构 被引量:1
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作者 刘祥林 董逊 黎大兵 《液晶与显示》 CAS CSCD 2004年第1期5-9,共5页
研究了用MOCVD方法生长InGaAlN四元合金材料的生长规律,发现生长温度在800~880℃,其In组分随生长温度升高而降低。用变温光致发光谱和时间分辨谱研究了InGaAlN的光学性质。光致发光谱表明InGaAlN的发光强度随温度衰减规律与InGaN类似,... 研究了用MOCVD方法生长InGaAlN四元合金材料的生长规律,发现生长温度在800~880℃,其In组分随生长温度升高而降低。用变温光致发光谱和时间分辨谱研究了InGaAlN的光学性质。光致发光谱表明InGaAlN的发光强度随温度衰减规律与InGaN类似,但比GaN慢,室温下比GaN的发光强度大1个数量级以上。时间分辨光谱表明,在InGaAlN中存在低维结构的铟聚集区———在没有高温GaN中间层的InGaAlN材料中存在类似量子盘的二维铟聚集区;而在有高温GaN中间层的InGaAlN材料中存在类似量子点的零维铟聚集区。 展开更多
关键词 铟镓铝氮 四元合金 光学性质 低维结构 铟聚集 晶格常数 禁带宽度 量子阱 发光二极管 时间分辨光谱
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硅衬底垂直结构InGaAlN多量子阱发光二极管电致发光谱的干涉现象研究 被引量:1
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作者 熊传兵 江风益 +2 位作者 王立 方文卿 莫春兰 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2008年第12期7860-7864,共5页
测试了硅衬底垂直结构芯片在不同空间角度上的电致发光(EL)谱.指出硅衬底垂直结构InGaAlN多量子阱发光二极管的EL谱中多个峰型来源于干涉现象,而不是来自于多个阱层的发光.干涉峰的疏密反映p型层厚度的一致性,干涉现象的强弱反映p型欧... 测试了硅衬底垂直结构芯片在不同空间角度上的电致发光(EL)谱.指出硅衬底垂直结构InGaAlN多量子阱发光二极管的EL谱中多个峰型来源于干涉现象,而不是来自于多个阱层的发光.干涉峰的疏密反映p型层厚度的一致性,干涉现象的强弱反映p型欧姆接触层反光能力的强弱.芯片法线方向附近发光最强干涉现象最明显,芯片侧边的发光几乎没有干涉现象且发光强度最弱. 展开更多
关键词 ingaaln 发光二极管 垂直结构 电致发光
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