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基于IEEE 1500标准的IP核测试壳设计 被引量：13
1
作者 乔立岩 向刚 +1 位作者 俞洋 王帅 《电子测量技术》 2010年第7期88-91,95,共5页
随着集成电路规模的不断扩大,基于IP核复用的SOC设计技术被广泛应用,但是由于IP核的来源不同,设计标准的不兼容等因素,使得SOC的测试变得越来越困难。IEEE1500标准设立的目标是标准化IP核提供商与用户之间的测试接口,简化核测试信息的... 随着集成电路规模的不断扩大,基于IP核复用的SOC设计技术被广泛应用,但是由于IP核的来源不同,设计标准的不兼容等因素,使得SOC的测试变得越来越困难。IEEE1500标准设立的目标是标准化IP核提供商与用户之间的测试接口,简化核测试信息的复用。本文在研究IEEE1500标准的硬件结构基础上,讨论了1500的测试指令集,然后以基准电路集ISCAS89中的s349时序电路为例,对其进行全扫描设计之后,详细说明了基于IEEE1500标准的IP核测试壳各部分的设计过程,最后通过仿真实验,验证了在不同测试指令和故障模式下,测试壳的有效性。 展开更多
关键词 ieee1500标准 SOC测试 测试壳
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基于安全控制边界单元的IP核测试封装方法 被引量：2
2
作者 俞洋 向刚 乔立岩 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第A03期99-103,共5页
为了解决测试信息传递的问题,IEEE组织推出了IEEE1500 IP(Intellectual Property)核测试封装标准以标准化IP核测试接口.然而该标准给出的典型测试封装存在由测试数据扫描移入造成的不安全隐患.本文提出了一种基于安全控制边界单元的IP... 为了解决测试信息传递的问题,IEEE组织推出了IEEE1500 IP(Intellectual Property)核测试封装标准以标准化IP核测试接口.然而该标准给出的典型测试封装存在由测试数据扫描移入造成的不安全隐患.本文提出了一种基于安全控制边界单元的IP核测试封装方法.这种方法的核心思想是在典型的测试封装边界单元的基础上添加一个CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)传输门,有效消除了测试过程中扫描移位对被测IP核电路的影响.实验结果表明,这种基于安全控制边界单元的测试封装能够在完成测试任务的同时,有效降低IP核输入端口的测试数据数据跳变次数,使IP核处于安全状态,还可以降低扫描移位过程中产生的动态测试功耗. 展开更多
关键词 系统芯片 ieee1500标准 测试封装 传输门
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基于IEEE Std1500的IP核并行测试控制架构设计
3
作者 李广进 陈圣俭 +1 位作者 牛金涛 高华 《计算机测量与控制》 CSCD 北大核心 2012年第9期2338-2340,2344,共4页
随着IEEE 1500标准的不断推广应用,兼容该标准的IP核也越来越多,具有IEEE 1500标准结构的IP核也被越来越多的应用到片上系统的设计中;由于IEEE 1500标准定义了外壳架构和测试访问机制,因此如何实现片上系统中IP核的外壳架构和测试访问... 随着IEEE 1500标准的不断推广应用,兼容该标准的IP核也越来越多,具有IEEE 1500标准结构的IP核也被越来越多的应用到片上系统的设计中;由于IEEE 1500标准定义了外壳架构和测试访问机制,因此如何实现片上系统中IP核的外壳架构和测试访问机制的测试控制便成为研究的热点问题;文章在研究标准的基础上,基于外壳架构和CAS-BUS测试访问机制,提出IP核的并行测试控制架构,通过多IP核的仿真时序图分析,验证了测试控制架构的有效性;该架构能够实现多IP核的并行测试控制,节约了测试时间,提高了测试效率,为片上系统的测试控制提供一种新思路。 展开更多
关键词 ieee1500标准 IP核 外壳 测试访问机制 并行
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多时钟域并行测试控制器的设计 被引量：1
4
作者 焦芳 张玥 +1 位作者 严韫瑶 严伟 《电子技术应用》 北大核心 2016年第9期29-31,35,共4页
采用了IEEE1149中TAP控制器的概念与IEEE1500 wrapper的概念相结合,设计出一款基于IEEE1500测试标准同时兼容IEEE1149测试标准的测试控制器,并设计了满足不同时钟域同时并行配置通用寄存器的功能,可以节省多个时钟域串行配置寄存器的时... 采用了IEEE1149中TAP控制器的概念与IEEE1500 wrapper的概念相结合,设计出一款基于IEEE1500测试标准同时兼容IEEE1149测试标准的测试控制器,并设计了满足不同时钟域同时并行配置通用寄存器的功能,可以节省多个时钟域串行配置寄存器的时间,提高了测试效率。结果中的verdi仿真图表明文章所设计的测试结构达到了预期。 展开更多
关键词 ieee1500标准 IEEE1149标准 TAP WRAPPER 测试
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SOC嵌入式数字IP核通用测试方法 被引量：6
5
作者 马昕煜 徐瀚洋 王健 《微电子学与计算机》 北大核心 2019年第2期26-30,共5页
本文基于IEEE标准设计了一种通用的、低成本的嵌入式IP核测试方法.该方法通过仅重新定义待测IP的端口数量和名称,即可完成各种数字IP核测试电路设计以及集成,该方法支持IEEE1500标准中的所定义的全部11条通用指令所对应的工作模式,以此... 本文基于IEEE标准设计了一种通用的、低成本的嵌入式IP核测试方法.该方法通过仅重新定义待测IP的端口数量和名称,即可完成各种数字IP核测试电路设计以及集成,该方法支持IEEE1500标准中的所定义的全部11条通用指令所对应的工作模式,以此来提供丰富的IP核测试控制以及观测模式;测试软件兼容符合IEEE1687的测试数据,可做到无需修改测试图形文件即可自动完成测试、提取诊断信息.为了验证本方法的有效性,我们在FPGA上实现并测试了多种异构IP核和大量的同构IP核,在整个测试过程中,该测试方法在保证支持国际主流测试标准、具有较高的测试自动化程度的同时,利用其通用性简化了数字IP核的测试集成和复用过程. 展开更多
关键词 ieee1500 IEEE1687 IP核测试 RAM
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