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IEEE 1149.7 CJTAG IP核复位与选择单元模块设计
1
作者 侯杏娜 陈寿宏 +1 位作者 马峻 何正亮 《电子测量技术》 2017年第11期52-55,共4页
在深入研究IEEE 1149.7标准基础上,针对测试问题,构建符合标准架构的测试目标芯片CJTAG IP核,重点介绍IP核中复位与选择单元(RSU)模块的设计实现。该模块主要实现了四大功能:确定芯片启动模式、产生复位信号、逃脱检测及选择序列产生、I... 在深入研究IEEE 1149.7标准基础上,针对测试问题,构建符合标准架构的测试目标芯片CJTAG IP核,重点介绍IP核中复位与选择单元(RSU)模块的设计实现。该模块主要实现了四大功能:确定芯片启动模式、产生复位信号、逃脱检测及选择序列产生、IP核在线或离线选择。基于Quartus II应用平台设计,通过ModelSim完成仿真验证。仿真结果表明,该复位与选择单元模块产生的信号符合IEEE1149.7标准规定,能够支持目标芯片IP核实现相应的测试功能。 展开更多
关键词 ieee 1149.7 CJTAG IP核 复位与选择单元
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支持IEEE1149.7标准的边界扫描控制器的设计与研究 被引量：1
2
作者 颜学龙 尹亮亮 陈寿宏 《现代电子技术》 北大核心 2017年第4期147-150,共4页
为解决复杂芯片的测试与调试问题,提出支持IEEE 1149.7标准的边界扫描控制器。在对IEEE 1149.7标准和边界扫描测试技术进行深入研究的基础上,利用上位机进行软件编程,通过QuartusⅡ平台进行IP核的开发,成功设计出了支持IEEE 1149.7标准... 为解决复杂芯片的测试与调试问题,提出支持IEEE 1149.7标准的边界扫描控制器。在对IEEE 1149.7标准和边界扫描测试技术进行深入研究的基础上,利用上位机进行软件编程,通过QuartusⅡ平台进行IP核的开发,成功设计出了支持IEEE 1149.7标准的边界扫描测试控制器。实验结果表明,控制器能够产生符合IEEE 1149.7标准的两线星型信号和四线输出信号。 展开更多
关键词 ieee1149.7标准 USB总线 MScan扫描格式 边界扫描控制器
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基于IEEE1149.1至IEEE1149.7转换器的研究与实现 被引量：1
3
作者 颜学龙 王洋冰 陈寿宏 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2016年第11期133-136,141,共5页
IEEE1149.7标准相对于IEEE1149.1标准新增了很多测试与调试的功能,解决了现今复杂度高的芯片和系统无法测试的问题.在深入地研究IEEE1149.1和IEEE1149.7两种标准的基础上,利用自上而下的设计方法完成了由IEEE1149.1信号变为IEEE1149.7... IEEE1149.7标准相对于IEEE1149.1标准新增了很多测试与调试的功能,解决了现今复杂度高的芯片和系统无法测试的问题.在深入地研究IEEE1149.1和IEEE1149.7两种标准的基础上,利用自上而下的设计方法完成了由IEEE1149.1信号变为IEEE1149.7信号转换器的设计,在QuartusⅡ平台中通过Verilog语言实现,将设计应用在FPGA中,并用QuartusⅡ中嵌入式逻辑分析仪SignalTapⅡ采集FPGA的输出信号.输出结果表明所设计的方案可以将IEEE1149.1信号转化为IEEE1149.7信号,可用于IEEE1149.7的待测系统进行测试与调试. 展开更多
关键词 ieee1149.7 转移器 测试与调试
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基于IEEE1149.7标准的CJTAG测试设计方法研究 被引量：12
4
作者 陈寿宏 颜学龙 黄新 《电子技术应用》 北大核心 2013年第1期79-82,共4页
在深入研究IEEE1149.7标准的基础上,针对测试问题设计了CJTAG测试控制器,实现了T0、T1、T3和T4层级的主要功能。对该控制器的各个功能进行了仿真验证。结果表明该控制器产生的测试信号符合IEEE1149.7标准的规定,能够控制待测芯片实现相... 在深入研究IEEE1149.7标准的基础上,针对测试问题设计了CJTAG测试控制器,实现了T0、T1、T3和T4层级的主要功能。对该控制器的各个功能进行了仿真验证。结果表明该控制器产生的测试信号符合IEEE1149.7标准的规定,能够控制待测芯片实现相应的测试功能,取得了较好的测试效果。 展开更多
关键词 ieee 1149 7 CJTAG 测试控制器 边界扫描
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基于IEEE1149.7标准的TAP.7适配器研究
5
作者 黄新 蔡俊 颜学龙 《计算机测量与控制》 CSCD 北大核心 2012年第7期1934-1937,1947,共5页
随着电子技术的发展,芯片功能日趋复杂,在芯片中集成多个TAPC来实现芯片功能多样化成为发展趋势;为避免重复开发所带来的额外开销,利用现有的IP来创造复杂系统芯片成为研究重点,因此TAP.1接口与TAP.7接口适配问题成为芯片设计者所面临... 随着电子技术的发展,芯片功能日趋复杂,在芯片中集成多个TAPC来实现芯片功能多样化成为发展趋势;为避免重复开发所带来的额外开销,利用现有的IP来创造复杂系统芯片成为研究重点,因此TAP.1接口与TAP.7接口适配问题成为芯片设计者所面临的新问题;针对该问题,文章提出了一种基于IEEE 1149.7标准的适配接口TAP.7适配器;结合TAP.7接口结构和新增功能,对TAP.7适配器的设计原理和设计方案进行了详细的介绍;最后对该适配器的TAP.7命令功能和星型扫描技术进行了仿真验证,通过验证结果分析表明:TAP.7适配器实现了TAP.7功能,具备了接口适配的作用,达到了预期的设计目标。 展开更多
关键词 ieee1149.7标准 TAP.7接口 TAP.7适配器 星型扫描
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IEEE1149.7 T5层数据传输功能的研究
6
作者 颜学龙 王洋冰 陈寿宏 《仪表技术与传感器》 CSCD 北大核心 2016年第8期113-116,共4页
IEEE1149.7标准提出了两线传输机制,并且提供了T0到T5层的芯片内核的设计层次,增加了对芯片内核的测试与调试功能。在深入研究IEEE1149.7的基础上,建立了T5层数据传输功能的模型,利用Quartus II开发平台通过Verilog硬件描述语言设计了IE... IEEE1149.7标准提出了两线传输机制,并且提供了T0到T5层的芯片内核的设计层次,增加了对芯片内核的测试与调试功能。在深入研究IEEE1149.7的基础上,建立了T5层数据传输功能的模型,利用Quartus II开发平台通过Verilog硬件描述语言设计了IEEE1149.7标准中T5层的数据传输功能,并编写Testbech在Modelsim仿真软件中进行仿真验证。结果表明,设计的IP核符合IEEE1149.7中T5层数据传输功能规范。 展开更多
关键词 ieee 1149.7标准 T5层 数据传输功能 芯片内核
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基于IEEE1149.7的TAP控制器命令研究 被引量：4
7
作者 江坤 高俊强 《国外电子测量技术》 2013年第5期41-43,56,共4页
随着待测芯片的集成度越来越高,IEEE1149.1标准已很难满足芯片设计对测试与调试的要求。IEEE1149.7标准在保持与IEEE1149.1兼容的基础上增加了新功能,提供了一种全新的双引脚测试与调试方法。目前对IEEE1149.7的研究处于起步阶段,所以... 随着待测芯片的集成度越来越高,IEEE1149.1标准已很难满足芯片设计对测试与调试的要求。IEEE1149.7标准在保持与IEEE1149.1兼容的基础上增加了新功能,提供了一种全新的双引脚测试与调试方法。目前对IEEE1149.7的研究处于起步阶段,所以研究支持其的控制器命令对今后的发展具有重要的意义。本文在深入研究IEEE1149.7标准的基础上,利用QuartusII开发平台设计了基于TAP控制器命令的测试控制器,并进行了仿真验证。结果表明产生的命令测试信号符合IEEE1149.7标准对TAP控制器命令的规定。 展开更多
关键词 ieee 1149 7标准 TAP控制器命令 边界扫描 测试控制器
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IEEE1149.7标准两线星型扫描格式研究 被引量：5
8
作者 杨轲 颜学龙 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2015年第10期147-150,共4页
针对目前现代测试系统集成度越来越高,IEEE 1149.7标准提出了两线星型扫描拓扑的测试方法以满足需要较少的引脚来实现边界扫描的现状.以IEEE 1149.7标准为依据,在深入研究该标准的基础上,利用Quartus II仿真开发平台设计了基于该标准的... 针对目前现代测试系统集成度越来越高,IEEE 1149.7标准提出了两线星型扫描拓扑的测试方法以满足需要较少的引脚来实现边界扫描的现状.以IEEE 1149.7标准为依据,在深入研究该标准的基础上,利用Quartus II仿真开发平台设计了基于该标准的两线星型扫描控制器,并进行了仿真验证.结果表明测试控制器能够产生符合标准要求的Mscan扫描格式及Oscan扫描格式两线星型扫描测试信号. 展开更多
关键词 ieee 1149.7标准 两线星型扫描 MSCAN Oscan
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基于IEEE1149.7的新一代测试接口实现与应用 被引量：6
9
作者 徐志磊 郭筝 《信息技术》 2010年第8期164-166,169,共4页
随着芯片集成度的不断增加和对低功耗设计的重视,原初开发的JTAG(IEEE STD1149.1)面对新的挑战,不能满足当今设计的需要。CJTAG基于IEEE STD1149.7标准和传统的JTAG的边界扫描原理来提供一个更加强大的测试和调试的标准,来达到现在系统... 随着芯片集成度的不断增加和对低功耗设计的重视,原初开发的JTAG(IEEE STD1149.1)面对新的挑战,不能满足当今设计的需要。CJTAG基于IEEE STD1149.7标准和传统的JTAG的边界扫描原理来提供一个更加强大的测试和调试的标准,来达到现在系统的要求。CJTAG用更少的管脚来提供更多的功能,而同时保证了对IEEE1149.1的软件和硬件的兼容性。 展开更多
关键词 CJTAG接口 ieeeSTD1149.7 JTAG接口 ieeeSTD1149.1
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基于软件无线电模块的IEEE 802.11a接收机同步单元实验设计
10
作者 王莹 宋沛豪 《实验科学与技术》 2025年第5期1-7,共7页
针对“新工科”建设对大学生实践能力培养的要求,在通信原理实验教学中提出基于软件无线电模块的IEEE802.11a接收机OFDM同步算法教学实验,并给出帧同步、符号同步和频率同步的实验原理。在MATLAB开发环境下,进行OFDM同步单元程序设计和... 针对“新工科”建设对大学生实践能力培养的要求,在通信原理实验教学中提出基于软件无线电模块的IEEE802.11a接收机OFDM同步算法教学实验,并给出帧同步、符号同步和频率同步的实验原理。在MATLAB开发环境下,进行OFDM同步单元程序设计和软件无线电模块PLUTO配置。从而,利用PLUTO完成通带信号收发,并进行同步单元功能验证。学生通过该实验,能更好地掌握通信原理有关同步的理论知识,提升工程实践能力。 展开更多
关键词 软件无线电 ieee 802.11a OFDM 同步算法
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IEEE 1149.10协议的多扫描通道同步测试数据包优化策略
11
作者 杨竞波 黄新 何堂泉 《现代电子技术》 北大核心 2025年第2期55-60,共6页
为了提高IEEE 1149.10协议中多扫描通道同步测试数据包编码效率,提出一种基于多策略改进野狗算法(mMDOA)的多扫描通道数据包优化方法。首先,多策略改进野狗算法使用自适应追击步长与螺旋游走结合的迫害策略,并通过基于反向精英的食腐策... 为了提高IEEE 1149.10协议中多扫描通道同步测试数据包编码效率,提出一种基于多策略改进野狗算法(mMDOA)的多扫描通道数据包优化方法。首先,多策略改进野狗算法使用自适应追击步长与螺旋游走结合的迫害策略,并通过基于反向精英的食腐策略,帮助算法跳出局部最优,提升全局搜索的能力;其次,根据IEEE 1149.10多扫描通道同步测试数据包编码格式,提出新的扫描通道分组方法,通过扫描数据大小和数据交织大小计算组内扫描通道数目,以组内长度差为目标函数,使用mMDOA选择组内扫描通道。经实验验证,使用mMDOA算法能减少约30%数据包数量,并有效地缩短了数据包编码时间。 展开更多
关键词 ieee 1149.10协议 多扫描通道同步测试 改进野狗算法 螺旋游走策略 通道分组 数据包编码
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2025 IEEE第17届国际电子测量与仪器学术会议征文通知(ICEMI 2025)
12
《电子测量技术》 北大核心 2025年第12期196-196,共1页
IEEE国际电子测量与仪器会议是两年一度的学术盛会,从1992年至今已成功举办过16届,为电子测量与仪器领域的发展现状和前景的研讨及尖端技术的交流搭建了一个有效的平台。来自世界各地的数百位专家、教授、学者和工程技术人员在此欢聚一... IEEE国际电子测量与仪器会议是两年一度的学术盛会,从1992年至今已成功举办过16届,为电子测量与仪器领域的发展现状和前景的研讨及尖端技术的交流搭建了一个有效的平台。来自世界各地的数百位专家、教授、学者和工程技术人员在此欢聚一堂,交流信息、研讨问题、促进了相互间的了解和友谊。ICEMI 2025(IEEE#66537)将于2025年8月22~24日在北京市举办。在此,我们诚挚地邀请您,踊跃投稿并出席此届会议,与世界各地的同仁交流测量与仪器仪表技术的最新成果。 展开更多
关键词 电子测量 专家 ieee 教授 ICEMI 2025
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2025 IEEE第17届国际电子测量与仪器学术会议征文通知(ICEMI 2025)
13
《电子测量与仪器学报》 北大核心 2025年第2期262-262,共1页
IEEE国际电子测量与仪器会议是两年一度的学术盛会,从1992年至今已成功举办过16届,为电子测量与仪器领域的发展现状和前景的研讨及尖端技术的交流搭建了一个有效的平台。来自世界各地的数百位专家、教授、学者和工程技术人员在此欢聚一... IEEE国际电子测量与仪器会议是两年一度的学术盛会,从1992年至今已成功举办过16届,为电子测量与仪器领域的发展现状和前景的研讨及尖端技术的交流搭建了一个有效的平台。来自世界各地的数百位专家、教授、学者和工程技术人员在此欢聚一堂,交流信息、研讨问题、促进了相互间的了解和友谊。ICEMI 2025(IEEE#66537)将于2025年8月22~24日在北京市举办。在此,我们诚挚地邀请您,踊跃投稿并出席此届会议,与世界各地的同仁交流测量与仪器仪表技术的最新成果。 展开更多
关键词 电子测量 专家 ieee 教授 ICEMI 2025
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2025 IEEE第17届国际电子测量与仪器学术会议征文通知(ICEMI 2025)
14
《电子测量技术》 北大核心 2025年第6期196-196,共1页
IEEE国际电子测量与仪器会议是两年一度的学术盛会,从1992年至今已成功举办过16届,为电子测量与仪器领域的发展现状和前景的研讨及尖端技术的交流搭建了一个有效的平台。来自世界各地的数百位专家、教授、学者和工程技术人员在此欢聚一... IEEE国际电子测量与仪器会议是两年一度的学术盛会,从1992年至今已成功举办过16届,为电子测量与仪器领域的发展现状和前景的研讨及尖端技术的交流搭建了一个有效的平台。来自世界各地的数百位专家、教授、学者和工程技术人员在此欢聚一堂,交流信息、研讨问题、促进了相互间的了解和友谊。ICEMI 2025(IEEE#66537)将于2025年8月22~24日在北京市举办。在此,我们诚挚地邀请您,踊跃投稿并出席此届会议,与世界各地的同仁交流测量与仪器仪表技术的最新成果。 展开更多
关键词 电子测量 专家 ieee 教授 ICEMI 2025
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2025 IEEE第17届国际电子测量与仪器学术会议征文通知(ICEMI 2025)
15
《电子测量技术》 北大核心 2025年第14期198-198,共1页
IEEE国际电子测量与仪器会议是两年一度的学术盛会,从1992年至今已成功举办过16届,为电子测量与仪器领域的发展现状和前景的研讨及尖端技术的交流搭建了一个有效的平台。来自世界各地的数百位专家、教授、学者和工程技术人员在此欢聚一... IEEE国际电子测量与仪器会议是两年一度的学术盛会,从1992年至今已成功举办过16届,为电子测量与仪器领域的发展现状和前景的研讨及尖端技术的交流搭建了一个有效的平台。来自世界各地的数百位专家、教授、学者和工程技术人员在此欢聚一堂,交流信息、研讨问题、促进了相互间的了解和友谊。ICEMI 2025(IEEE#66537)将于2025年8月22~24日在北京市举办。在此,我们诚挚地邀请您,踊跃投稿并出席此届会议,与世界各地的同仁交流测量与仪器仪表技术的最新成果。 展开更多
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2025 IEEE第17届国际电子测量与仪器学术会议征文通知(ICEMI 2025)
16
《电子测量技术》 北大核心 2025年第10期196-196,共1页
IEEE国际电子测量与仪器会议是两年一度的学术盛会,从1992年至今已成功举办过16届,为电子测量与仪器领域的发展现状和前景的研讨及尖端技术的交流搭建了一个有效的平台。来自世界各地的数百位专家、教授、学者和工程技术人员在此欢聚一... IEEE国际电子测量与仪器会议是两年一度的学术盛会,从1992年至今已成功举办过16届,为电子测量与仪器领域的发展现状和前景的研讨及尖端技术的交流搭建了一个有效的平台。来自世界各地的数百位专家、教授、学者和工程技术人员在此欢聚一堂,交流信息、研讨问题、促进了相互间的了解和友谊。ICEMI 2025(IEEE#66537)将于2025年8月22~24日在北京市举办。在此,我们诚挚地邀请您,踊跃投稿并出席此届会议,与世界各地的同仁交流测量与仪器仪表技术的最新成果。 展开更多
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2025 IEEE第17届国际电子测量与仪器学术会议征文通知(ICEMI 2025)
17
《电子测量技术》 北大核心 2025年第11期194-194,共1页
IEEE国际电子测量与仪器会议是两年一度的学术盛会,从1992年至今已成功举办过16届,为电子测量与仪器领域的发展现状和前景的研讨及尖端技术的交流搭建了一个有效的平台。来自世界各地的数百位专家、教授、学者和工程技术人员在此欢聚一... IEEE国际电子测量与仪器会议是两年一度的学术盛会,从1992年至今已成功举办过16届,为电子测量与仪器领域的发展现状和前景的研讨及尖端技术的交流搭建了一个有效的平台。来自世界各地的数百位专家、教授、学者和工程技术人员在此欢聚一堂,交流信息、研讨问题、促进了相互间的了解和友谊。ICEMI 2025(IEEE#66537)将于2025年8月22~24日在北京市举办。在此,我们诚挚地邀请您,踊跃投稿并出席此届会议,与世界各地的同仁交流测量与仪器仪表技术的最新成果。 展开更多
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2025 IEEE第17届国际电子测量与仪器学术会议征文通知(ICEMI 2025)
18
《电子测量技术》 北大核心 2025年第7期198-198,共1页
IEEE国际电子测量与仪器会议是两年一度的学术盛会,从1992年至今已成功举办过16届,为电子测量与仪器领域的发展现状和前景的研讨及尖端技术的交流搭建了一个有效的平台。来自世界各地的数百位专家、教授、学者和工程技术人员在此欢聚一... IEEE国际电子测量与仪器会议是两年一度的学术盛会,从1992年至今已成功举办过16届,为电子测量与仪器领域的发展现状和前景的研讨及尖端技术的交流搭建了一个有效的平台。来自世界各地的数百位专家、教授、学者和工程技术人员在此欢聚一堂,交流信息、研讨问题、促进了相互间的了解和友谊。ICEMI 2025(IEEE#66537)将于2025年8月22~24日在北京市举办。在此,我们诚挚地邀请您,踊跃投稿并出席此届会议,与世界各地的同仁交流测量与仪器仪表技术的最新成果。 展开更多
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2025 IEEE第17届国际电子测量与仪器学术会议征文通知(ICEMI 2025)
19
《电子测量技术》 北大核心 2025年第8期196-196,共1页
IEEE国际电子测量与仪器会议是两年一度的学术盛会,从1992年至今已成功举办过16届,为电子测量与仪器领域的发展现状和前景的研讨及尖端技术的交流搭建了一个有效的平台。来自世界各地的数百位专家、教授、学者和工程技术人员在此欢聚一... IEEE国际电子测量与仪器会议是两年一度的学术盛会,从1992年至今已成功举办过16届,为电子测量与仪器领域的发展现状和前景的研讨及尖端技术的交流搭建了一个有效的平台。来自世界各地的数百位专家、教授、学者和工程技术人员在此欢聚一堂,交流信息、研讨问题、促进了相互间的了解和友谊。ICEMI 2025(IEEE#66537)将于2025年8月22~24日在北京市举办。在此,我们诚挚地邀请您,踊跃投稿并出席此届会议,与世界各地的同仁交流测量与仪器仪表技术的最新成果。 展开更多
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《电子测量技术》 北大核心 2025年第9期198-198,共1页
IEEE国际电子测量与仪器会议是两年一度的学术盛会,从1992年至今已成功举办过16届,为电子测量与仪器领域的发展现状和前景的研讨及尖端技术的交流搭建了一个有效的平台。来自世界各地的数百位专家、教授、学者和工程技术人员在此欢聚一... IEEE国际电子测量与仪器会议是两年一度的学术盛会,从1992年至今已成功举办过16届,为电子测量与仪器领域的发展现状和前景的研讨及尖端技术的交流搭建了一个有效的平台。来自世界各地的数百位专家、教授、学者和工程技术人员在此欢聚一堂,交流信息、研讨问题、促进了相互间的了解和友谊。ICEMI 2025(IEEE#66537)将于2025年8月22~24日在北京市举办。 展开更多
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