介绍了一种基于现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)和数字模拟转换器(Digital Analog Converter,DAC)的线性扫频信号发生器,在调研常用窄带频率信号发生器的基础上结合各方案的优缺点提出了一种FPGA内嵌式线性扫频...介绍了一种基于现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)和数字模拟转换器(Digital Analog Converter,DAC)的线性扫频信号发生器,在调研常用窄带频率信号发生器的基础上结合各方案的优缺点提出了一种FPGA内嵌式线性扫频信号发生器,系统用Verilog编程实现直接数字频率合成器(Direct Digital Synthesizer,DDS)并以此为基础实现扫频信号输出。软件系统给定起始扫频频率,截止扫频频率,频率跳变时间间隔,频率跳变大小四个参数,系统即按照设定的参数输出需要的扫频信号。文中给出了详细的设计原理,并给出了实验测试结果。展开更多
介绍了一种基于现场可编程门阵列(FPGA,field programmable gate array)的高性能数模转换器(DAC,digital to analog converter)性能参数的回路测试方法。以FPGA、DAC和模数转换器(ADC,analog to digital converter)等元器件为硬件测试平...介绍了一种基于现场可编程门阵列(FPGA,field programmable gate array)的高性能数模转换器(DAC,digital to analog converter)性能参数的回路测试方法。以FPGA、DAC和模数转换器(ADC,analog to digital converter)等元器件为硬件测试平台,将待测数字信号转换成模拟信号再转换成数字信号,经过Matlab计算和分析后得到DAC芯片的静态特性参数和动态特性参数。其中失调误差为0.036%,增益误差为3.63%,信号噪声比为58 dB,信号噪声及失真比为57.75 dB,无杂散动态范围为62.84 dB,有效位数为9.3。测试结果表明:测试方法通用性好,精确度高,成本低。展开更多
电子设备集成度的提高对于音频集成电路生产和测试等环节的要求越来越高,尤其是音频数模转换器(Digital to Analog Converter,DAC),本质上为数模混合信号电路,采用数模混合信号自动化测试设备(Automatic Test Equipment,ATE)价格昂贵,...电子设备集成度的提高对于音频集成电路生产和测试等环节的要求越来越高,尤其是音频数模转换器(Digital to Analog Converter,DAC),本质上为数模混合信号电路,采用数模混合信号自动化测试设备(Automatic Test Equipment,ATE)价格昂贵,而采用传统自动测试仪测试覆盖率低、测试时间长,导致这类电路的测试成本较高且测试产能不足。介绍了一种基于现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)和LabWindows的音频DAC电路测试方案,硬件上用FPGA实现音频测试所需的直接数字频率合成(Direct Digital Frequency Synthesizers,DDFS)模块,软件上通过运用LabWindows自带的采样、加窗、快速傅里叶变换(Fast Fourier Transform,FFT)等数字信号处理函数,快速准确地测试各项模拟参数,并在用户界面(User Interface,UI)显示测试值和后台保存测试数据。展开更多
文摘介绍了一种基于现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)和数字模拟转换器(Digital Analog Converter,DAC)的线性扫频信号发生器,在调研常用窄带频率信号发生器的基础上结合各方案的优缺点提出了一种FPGA内嵌式线性扫频信号发生器,系统用Verilog编程实现直接数字频率合成器(Direct Digital Synthesizer,DDS)并以此为基础实现扫频信号输出。软件系统给定起始扫频频率,截止扫频频率,频率跳变时间间隔,频率跳变大小四个参数,系统即按照设定的参数输出需要的扫频信号。文中给出了详细的设计原理,并给出了实验测试结果。
文摘介绍了一种基于现场可编程门阵列(FPGA,field programmable gate array)的高性能数模转换器(DAC,digital to analog converter)性能参数的回路测试方法。以FPGA、DAC和模数转换器(ADC,analog to digital converter)等元器件为硬件测试平台,将待测数字信号转换成模拟信号再转换成数字信号,经过Matlab计算和分析后得到DAC芯片的静态特性参数和动态特性参数。其中失调误差为0.036%,增益误差为3.63%,信号噪声比为58 dB,信号噪声及失真比为57.75 dB,无杂散动态范围为62.84 dB,有效位数为9.3。测试结果表明:测试方法通用性好,精确度高,成本低。
文摘电子设备集成度的提高对于音频集成电路生产和测试等环节的要求越来越高,尤其是音频数模转换器(Digital to Analog Converter,DAC),本质上为数模混合信号电路,采用数模混合信号自动化测试设备(Automatic Test Equipment,ATE)价格昂贵,而采用传统自动测试仪测试覆盖率低、测试时间长,导致这类电路的测试成本较高且测试产能不足。介绍了一种基于现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)和LabWindows的音频DAC电路测试方案,硬件上用FPGA实现音频测试所需的直接数字频率合成(Direct Digital Frequency Synthesizers,DDFS)模块,软件上通过运用LabWindows自带的采样、加窗、快速傅里叶变换(Fast Fourier Transform,FFT)等数字信号处理函数,快速准确地测试各项模拟参数,并在用户界面(User Interface,UI)显示测试值和后台保存测试数据。
