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消除边缘区效应的“三脉冲DLTS”法及对DX-中心俘获过程的测量
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作者 谢茂海 高季林 +1 位作者 葛惟锟 周洁 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1990年第1期1-6,共6页
本文提出了一种新的方法──“三脉冲DLTS”法,用于测量深能级的热俘获截面,目的在于消除使测量产生很大误差的边缘区效应的影响,最后用这种方法,对AlGaAs:Si中DX—中心的电子热俘获截面进行了测量,结合考虑大的深能级浓度这一因素,通... 本文提出了一种新的方法──“三脉冲DLTS”法,用于测量深能级的热俘获截面,目的在于消除使测量产生很大误差的边缘区效应的影响,最后用这种方法,对AlGaAs:Si中DX—中心的电子热俘获截面进行了测量,结合考虑大的深能级浓度这一因素,通过计算机的拟合过程,给出了非常令人满意的结果。 展开更多
关键词 深能级 dx-中心 半导体 俘获过程
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AlGaAs混晶中的Sn施主深能级
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作者 康俊勇 林虹 黄启圣 《厦门大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 1991年第1期29-32,共4页
用DLTS(深能级瞬态谱)及光照DLTS方法研究了不同组分(x=0.26、0.40、0.53)的 Al_xGa_(1-x)As:Sn材料。所有实验样品的DLTS谱都出现两个多子谱峰A和B。在光照下,低温处的A峰更为明显。实验分别测量了A、B能级的发射及俘获的瞬态过程,用... 用DLTS(深能级瞬态谱)及光照DLTS方法研究了不同组分(x=0.26、0.40、0.53)的 Al_xGa_(1-x)As:Sn材料。所有实验样品的DLTS谱都出现两个多子谱峰A和B。在光照下,低温处的A峰更为明显。实验分别测量了A、B能级的发射及俘获的瞬态过程,用混晶无序引起能级展宽模型拟合了实验数据,得到它们的发射激活能,俘获势垒及其组分关系。分析表明,A 及B能级同属于Sn替位施主杂质,并证明DX中心深能级的复杂性。 展开更多
关键词 ALGAAS SN 混晶半导体 深能级
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GaAsP混晶中Te施主深能级的研究 被引量:1
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作者 张文清 黄启圣 康俊勇 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1991年第1期1-5,共5页
用深能级瞬态谱(DLTS)方法研究了组分范围为x=0.11-0.95的掺Te的GaAs_(1-x)P_(?)混晶中的深能级.结果表明:样品中出现的深能级可分为A,B,C三类,其发射率激活能各约为:E_(?)~A=0.18ev,E_(?)~B=0.28eV,E_(?)~C=0.38eV.其中只有A能级在x=0.... 用深能级瞬态谱(DLTS)方法研究了组分范围为x=0.11-0.95的掺Te的GaAs_(1-x)P_(?)混晶中的深能级.结果表明:样品中出现的深能级可分为A,B,C三类,其发射率激活能各约为:E_(?)~A=0.18ev,E_(?)~B=0.28eV,E_(?)~C=0.38eV.其中只有A能级在x=0.23-0.95间的所有样品中出现,B和C能级的出现不存在明显的规律性.进一步研究了A能级的性质后,认为它来源于Te替位杂质的DX中心,而B、C能级的性质可能比较复杂. 展开更多
关键词 混晶 半导体 深能级 dx中心 能带
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光致发光谱测量掺硅AlGaAs中的DX能级
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作者 程兴奎 王卿璞 +5 位作者 马洪磊 V.W.L.Chin T.Osotchan T.L.Tansley M.R.Vaughan G.J.Griffiths 《山东大学学报(自然科学版)》 CSCD 1998年第3期357-360,共4页
在调制掺杂GaAs/AlGaAs多量子阱结构的光致发光谱中,靠近强发光峰的低能端存在几个弱峰,且发光强度随温度的增加而变化.这些弱峰是由于掺硅AlGaAs中DX中心上的电子向起受主作用的SiAs原子跃迁复合而引起.由... 在调制掺杂GaAs/AlGaAs多量子阱结构的光致发光谱中,靠近强发光峰的低能端存在几个弱峰,且发光强度随温度的增加而变化.这些弱峰是由于掺硅AlGaAs中DX中心上的电子向起受主作用的SiAs原子跃迁复合而引起.由此确定DX中心有四个能级,其激活能分别为0.35eV,0.37eV,0.39eV和0.41eV. 展开更多
关键词 掺硅 dx能级 光致发光谱 半导体 镓铝砷化合物
原文传递
ALLOY RANDOM EFFECT ON THE CHAR-ACTERISTICS OF DX CENTER
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作者 康俊勇 黄启圣 《Chinese Science Bulletin》 SCIE EI CAS 1989年第15期1258-1261,共4页
Ⅰ. INTRODUCTION The study on DX center has recently received much more attention. Its known composition-dependent features can be summerized below. There is a shallow and deep level related to Si, Sn and Te donor imp... Ⅰ. INTRODUCTION The study on DX center has recently received much more attention. Its known composition-dependent features can be summerized below. There is a shallow and deep level related to Si, Sn and Te donor impurities whose concentration ratio (N_S/N_D) depends only on AlAs mole fraction, not on the methods and conditions of crystal growth as shown in Fig. 1. Both binding energy of deep level and intensity of persistent-photoconductivity (PPC) at low temperature depend pronouncedly on AlAs- 展开更多
关键词 dx CENTER DEEP level ALLOY SEMICONDUCTORS
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