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MBE生长的高质量AlGaAs/InGaAs双δ掺杂PHEMT结构的材料 被引量:1
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作者 曹昕 曾一平 +4 位作者 孔梅影 王保强 潘量 张昉昉 朱战萍 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第9期934-936,共3页
用 MBE方法制备的 PHEMT微结构材料 ,其 2 DEG浓度随材料结构的不同在 2 .0— 4.0× 1 0 12 cm- 2 之间 ,室温霍耳迁移率在 50 0 0— 650 0 cm2 · V- 1· s- 1之间 .制备的 PHEMT器件 ,栅长为 0 .7μm的器件的直流特性 :I... 用 MBE方法制备的 PHEMT微结构材料 ,其 2 DEG浓度随材料结构的不同在 2 .0— 4.0× 1 0 12 cm- 2 之间 ,室温霍耳迁移率在 50 0 0— 650 0 cm2 · V- 1· s- 1之间 .制备的 PHEMT器件 ,栅长为 0 .7μm的器件的直流特性 :Idss~ 2 80 m A/mm,Imax~ 52 0— 580 m A/mm,gm~ 32 0— 40 0 m S/mm,BVDS>1 5V( IDS=1 m A/mm) ,BVGS>1 0 V,微波特性 :P0 ~ 60 0— 90 0 m W/mm,G~ 6— 1 0 d B,ηadd~ 40— 60 % ;栅长为 0 .4μm的器件的直流特性 :Imax~ 80 0 m A/mm,gm>40 0 m S/mm. 展开更多
关键词 PHEMT MBE algaas/ingaas 掺杂
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C离子对AlGaAs/InGaAs异质结的辐照影响
2
作者 王海丽 杨梦婕 +3 位作者 马晓龙 许坤 段向阳 王献立 《郑州航空工业管理学院学报》 2024年第4期66-71,共6页
基于SRIM软件计算了不同能量的C离子在AlGaAs/InGaAs异质结中的平均投影射程和辐照损伤区,仿真了能量为500keV、800keV、1100keV的C离子入射到AlGaAs/InGaAs异质结中的能量损失情况,发现随着入射离子能量的增加,电离能比例增加,非电离... 基于SRIM软件计算了不同能量的C离子在AlGaAs/InGaAs异质结中的平均投影射程和辐照损伤区,仿真了能量为500keV、800keV、1100keV的C离子入射到AlGaAs/InGaAs异质结中的能量损失情况,发现随着入射离子能量的增加,电离能比例增加,非电离能比例降低,入射离子产生的电离能损远大于反冲原子产生的电离能损,反冲原子产生的声子能损远多于入射离子产生的声子能损;通过仿真还发现,当C离子的能量为800keV时,辐照损伤区在异质结处且在异质结处产生的空位缺陷最多。 展开更多
关键词 C离子辐照 algaas/ingaas异质结 电离能损 非电离能损 空位
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Gate Annealing of an Enhancement-Mode InGaP/AlGaAs/InGaAs PHEMT
3
作者 黎明 张海英 +3 位作者 徐静波 李潇 刘亮 付晓君 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第8期1487-1490,共4页
For enhancement-mode InGaP/A1GaAs/InGaAs PHEMTs,gate annealing is conducted between gate structures of Ti/Pt/Au and Pt/Ti/Pt/Au. Comparison is made after thermal annealing and an optimum annealing process is ob- taine... For enhancement-mode InGaP/A1GaAs/InGaAs PHEMTs,gate annealing is conducted between gate structures of Ti/Pt/Au and Pt/Ti/Pt/Au. Comparison is made after thermal annealing and an optimum annealing process is ob- tained. Using the structure of Ti/Pt/Au, about a 200mV positive shift of threshold voltage is achieved by thermal annea- ling at 320℃ for 40min in N2 ambient. Finally, a stable and consistent enhancement-mode PHEMT is produced successfully with higher threshold voltage. 展开更多
关键词 ENHANCEMENT-MODE InGaP/A1GaAs/ingaas PHEMT ANNEAL threshold voltage ring oscillator
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Abstraction of Small Signal Equivalent Circuit Parameters of Enhancement-Mode InGaP/AlGaAs/InGaAs PHEMT
4
作者 徐静波 尹军舰 +3 位作者 张海英 李潇 刘亮 叶甜春 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第3期361-364,共4页
An extraction method of the component parameter values of an enhancement-mode InGaP/AIGaAs/In-GaAs PHEMT small signal equivalent circuit is presented,and these component parameter values are extracted by using the EEH... An extraction method of the component parameter values of an enhancement-mode InGaP/AIGaAs/In-GaAs PHEMT small signal equivalent circuit is presented,and these component parameter values are extracted by using the EEHEMT1 model of IC-CAP software. The extraction results are verified by ADS software,and the DC I-V curves and S parameters simulated by ADS are basically accordant with those of the test results. These results indicate that the EEHEMT1 model can be used for extracting the component parameters of an enhancement-mode PHEMT. 展开更多
关键词 ENHANCEMENT-MODE InGaP/AIGaAs/ingaas PHEMT small signal equivalent circuit parameter extraction
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Ka波段AlGaAs/InGaAs低噪声PHEMT异质材料结构的计算机优化与实验结果 被引量:2
5
作者 陈效建 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第11期120-123,共4页
讨论了毫米波低噪声PHEMT的设计要点藉助Schroedinger/Poisson方程及器件方程,进行了Ka波段AlGaAs/InGaAs低噪声PHEMT用异质层结构的数值计算及CAD优化.确定出分子束外延MBE时诸层的最佳组分。浓度与厚度上述优化分析的结果用于器... 讨论了毫米波低噪声PHEMT的设计要点藉助Schroedinger/Poisson方程及器件方程,进行了Ka波段AlGaAs/InGaAs低噪声PHEMT用异质层结构的数值计算及CAD优化.确定出分子束外延MBE时诸层的最佳组分。浓度与厚度上述优化分析的结果用于器件的实验研制,取得了34.4Gfu下噪声系数(NF)1.92dB、相关增益Ga6. 展开更多
关键词 优化 低噪声 PPHEMT 异质材料 结构
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AlGaAs/InGaAs/GaAs赝配高电子迁移晶体管的kink效应研究 被引量:1
6
作者 刘红侠 郝跃 +2 位作者 张涛 郑雪峰 马晓华 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2003年第4期984-988,共5页
利用二维器件模拟软件MEDICI对AlGaAs InGaAs GaAs赝配高电子迁移晶体管器 (PHEMT)件进行了仿真 ,研究了PHEMT器件的掺杂浓度与电子浓度分布 ,PHEMT器件内部的电流走向及传输特性 ,重点研究了不同温度和不同势垒层浓度情况下PHEMT器件的... 利用二维器件模拟软件MEDICI对AlGaAs InGaAs GaAs赝配高电子迁移晶体管器 (PHEMT)件进行了仿真 ,研究了PHEMT器件的掺杂浓度与电子浓度分布 ,PHEMT器件内部的电流走向及传输特性 ,重点研究了不同温度和不同势垒层浓度情况下PHEMT器件的kink效应 .研究结果表明 :kink效应主要与处于高层深能级中的陷阱俘获 反俘获过程有关 。 展开更多
关键词 高电子迁移率晶体管 KINK效应 二维电子气 仿真 HEMT algaas/ingaas/GaAs 电学特性 砷化镓
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InGaAs/AlGaAs量子阱中量子尺寸效应对PL谱的影响 被引量:3
7
作者 于永芹 黄柏标 +7 位作者 尉吉勇 潘教青 周海龙 齐云 陈文澜 秦晓燕 张晓阳 任忠祥 《量子电子学报》 CAS CSCD 北大核心 2003年第3期345-349,共5页
本文采用金属有机物化学气相淀积(MOCVD)方法设计并生长了两组InGaAs/AlGaAs应变多量子阱,量子阱的厚度分别为3nm和6nm,对其光致发光谱(PL)进行了研究,二者的发光波长分别为843nm和942nm,用有限深单量子阱理论近似计算了由于量子尺寸效... 本文采用金属有机物化学气相淀积(MOCVD)方法设计并生长了两组InGaAs/AlGaAs应变多量子阱,量子阱的厚度分别为3nm和6nm,对其光致发光谱(PL)进行了研究,二者的发光波长分别为843nm和942nm,用有限深单量子阱理论近似计算了由于量子尺寸效应和应变效应引起的InGaAs/AlGaAs量子阱带隙的改变,这解释了两组样品室温下PL发射波长变化的原因。 展开更多
关键词 ingaas/algaas量子阱 量子尺寸效应 MOCVD 应变效应 金属有机物化学气相淀积 铟钙砷化合物 铝钙砷
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大应变InGaAs/GaAs/AlGaAs微带超晶格中波红外QWIP的MOCVD生长 被引量:3
8
作者 周勇 孙迎波 +2 位作者 周勋 刘万清 杨晓波 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 2013年第2期221-225,共5页
基于中波红外(峰值响应波长4.5μm)量子阱红外探测器QWIP进行了大应变In0.34Ga0.66As/GaAs/Al0.35Ga0.65As微带超晶格结构的MOCVD外延生长研究。通过对生长温度、生长速率、Ⅴ/Ⅲ比以及界面生长中断时间等生长参数的系统优化,获得了高... 基于中波红外(峰值响应波长4.5μm)量子阱红外探测器QWIP进行了大应变In0.34Ga0.66As/GaAs/Al0.35Ga0.65As微带超晶格结构的MOCVD外延生长研究。通过对生长温度、生长速率、Ⅴ/Ⅲ比以及界面生长中断时间等生长参数的系统优化,获得了高质量的外延材料。 展开更多
关键词 ingaas GaAs 大应变 微带超晶格结构 量子阱红外探测器 MOCVD
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AlGaAs/InGaAs功率PHEMT用异质材料的计算机优化与器件实验结果 被引量:4
9
作者 陈效建 刘军 郑雪帆 《固体电子学研究与进展》 CSCD 北大核心 1995年第2期133-141,共9页
借助一新的工艺模拟与异质器件模型用CAD软件──POSES(Poisson-SchroedingerEquationSolver),对以AlGaAs/InGaAs异质结为基础的多种功率PHEMT异质层结构系统(传统、... 借助一新的工艺模拟与异质器件模型用CAD软件──POSES(Poisson-SchroedingerEquationSolver),对以AlGaAs/InGaAs异质结为基础的多种功率PHEMT异质层结构系统(传统、单层与双层平面掺杂)进行了模拟与比较,确定出优化的双平面掺杂AlGaAs/InGaAs功率PHEMT异质结构参数,并结合器件几何结构参数的设定进行器件直流与微波特性的计算,用于指导材料生长与器件制造。采用常规的HEMT工艺进行AlGaAs/InGaAs功率PHEMT的实验研制。对栅长0.8μm、总栅宽1.6mm单胞器件的初步测试结果为:IDss250~450mA/mm;gm0250~320mS/mm;Vp-2.0-2.5V;BVDS5~12V。7GHz下可获得最大1.62W(功率密度1.0W/mm)的功率输出;最大功率附加效率(PAE)达47%。 展开更多
关键词 功率PHEMT CAD 异质结 双平面掺杂
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InGaAs/AlGaAs/GaAs单量子阱激光器的研究 被引量:2
10
作者 王玉霞 王晓华 +3 位作者 李林 赵英杰 芦鹏 张晶 《长春理工大学学报(自然科学版)》 2003年第4期76-77,共2页
利用金属有机化合物气相沉积 (MOCVD)技术 ,研制出了高质量的InGaAs/AlGaAs/GaAs单量子阱激光器 ,其有源区采用了分别限制单量子阱结构 (SCH -SQW) ,利用该材料做出的半导体激光器的连续输出功率大于 1W ,峰值波长 91 0nm± 2nm。
关键词 单量子阱激光器 金属有机化合物气相沉积 MOCVD ingaas/algaas/GaAs 分别限制异质结构
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δ掺杂的赝形高电子迁移率晶体管AlGaAs/InGaAs/GaAs结构的光谱研究 被引量:1
11
作者 沈文忠 唐文国 +1 位作者 沈学础 A.DIMOULAS 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1995年第5期779-787,共9页
报道δ掺杂赝形高电子迁移率晶体管结构Al(?)Ga(?)As/In(?)Ga(?),As/GaAs的综合光谱研究结果。采用光致发光光谱,平面光电流谱和光致发光激发光谱方法,并与理论计算相对比,确认了光致发光谱上n=1电子子带n=2电子子带到n=1重空穴子带间... 报道δ掺杂赝形高电子迁移率晶体管结构Al(?)Ga(?)As/In(?)Ga(?),As/GaAs的综合光谱研究结果。采用光致发光光谱,平面光电流谱和光致发光激发光谱方法,并与理论计算相对比,确认了光致发光谱上n=1电子子带n=2电子子带到n=1重空穴子带间的强发光峰,对弱峰C的研究表明它是n=1电子子带到n=1轻空穴子带复合跃迁的发光峰。由于费密能级高于第二电子子带,没有发现文献中曾报道过的属于费密边的发光峰;平面光电流谱和光致发光激发光谱观察到n=1重空穴子带到n=1,2,3电子子带的三个激子跃迁峰。与调制掺杂AlGaAs/InGaAs/GaAs系统相比,δ掺杂高电子迁移率晶体管系统载流子转移效串明显提高,但面载流子浓度对InGaAs阱的重整化效应和有效带隙的影响并不十分强烈。 展开更多
关键词 赝形异质结 电子迁移率 ingaas 砷化镓 晶体管
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GaAs、GaP、InP、InGaAsP、AlGaAs、InAlGaAs的化学腐蚀研究 被引量:6
12
作者 许兆鹏 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 1996年第1期56-63,共8页
为研制全集成光开关、微片式激光器等,对GaAs、GaP、InGaAsP、InAIGaAs、AlGaAs等材料的化学腐蚀进行了实验研究。为了研制InAlGaAs/InAlAs/InAlGaAs微片式激光器,开发了H3P... 为研制全集成光开关、微片式激光器等,对GaAs、GaP、InGaAsP、InAIGaAs、AlGaAs等材料的化学腐蚀进行了实验研究。为了研制InAlGaAs/InAlAs/InAlGaAs微片式激光器,开发了H3PO4/H2O2/H2O薄层腐蚀液和HCl/H2O选择性腐蚀液;为了研制InGaAsP/InP/InGaAsPTbar型光波导,开发了HCl/H3PO4/H2O2薄层腐蚀液和HCl/H2O2选择性腐蚀液;为了研制GaP、InGaP光波导,开发了HCl/HNO3/H2O薄层腐蚀液。它们都具有稳定、重复性好、速率可控、腐蚀后表面形貌好等特点。除此之外,蚀刻成的GaP光波导侧壁平滑无波纹起伏。此种结果尚未见报导。 展开更多
关键词 磷化镓 磷化铟 砷化镓 化学腐蚀
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780nm InGaAsP/InGaP/AlGaAs高功率半导体激光器
13
作者 曹玉莲 廉鹏 +5 位作者 王青 吴旭明 何国荣 曹青 宋国峰 陈良惠 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第9期1621-1624,共4页
采用MOCVD生长了InGaAsP/InGaP/AlGaAs材料系分别限制异质结构(SCH)的高功率半导体激光器.对于厚度为10nm的单量子阱,通过计算量子阱增益谱优化了器件的激射波长.在室温下外延材料的荧光峰值波长为764nm,由于In原子的记忆效应(Incarry-o... 采用MOCVD生长了InGaAsP/InGaP/AlGaAs材料系分别限制异质结构(SCH)的高功率半导体激光器.对于厚度为10nm的单量子阱,通过计算量子阱增益谱优化了器件的激射波长.在室温下外延材料的荧光峰值波长为764nm,由于In原子的记忆效应(Incarry-overeffect)和As/P的替换作用使材料的InGaP/AlGaAs界面不陡峭,通过在InGaP/AlGaAs间长一层5nm的GaAsP大大改善了界面质量.器件的阈值电流从界面改善前的560mA减小到改善后的450mA,斜率效率也从0.61W/A提高到了0.7W/A,特别是单面最大输出功率已经从370mW增加到了940mW,发生灾变性光学损伤时的工作电流已经由原来的1100mA上升为1820mA. 展开更多
关键词 InGaP/algaas 界面 增益 阈值电流 激光器
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980nm InGaAs/GaAs/AlGaAs应变量子阱激光器
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作者 徐遵图 徐俊英 +5 位作者 杨国文 张敬明 肖建伟 何晓曦 郑婉华 陈良惠 《高技术通讯》 CAS CSCD 1996年第11期4-6,共3页
报导了脊形波导InGaAs/GaAs/AlGaAs应变量子阱激光器的特性和实验结果。激光器阈值电流最低为9mA,典型值为15mA,线性输出光功率大于120mW,微分量子效率典型值为60%(镀高反膜和增透膜),50℃、... 报导了脊形波导InGaAs/GaAs/AlGaAs应变量子阱激光器的特性和实验结果。激光器阈值电流最低为9mA,典型值为15mA,线性输出光功率大于120mW,微分量子效率典型值为60%(镀高反膜和增透膜),50℃、80mW恒定功率条件下老化实验结果表明:该条件下激光器寿命超过1000小时。 展开更多
关键词 应变层 量子阱 激光器 ingaas algaas 砷化镓
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δ掺杂的赝配HEMTAlGaAs/InGaAs/GaAs结构的光电流谱
15
作者 沈文忠 黄醒良 +2 位作者 唐文国 李自元 沈学础 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1995年第2期107-112,共6页
本文首次报道了δ掺杂的赝配高电子迁移率晶体管结构(HEMTS)Al0.30Ga0.70As/In0.15Ga0.85As/GaAs的光电流谱研究.实验观察到了n=1重空穴子带到n=1电子子带和n=2电子子带的激子吸收... 本文首次报道了δ掺杂的赝配高电子迁移率晶体管结构(HEMTS)Al0.30Ga0.70As/In0.15Ga0.85As/GaAs的光电流谱研究.实验观察到了n=1重空穴子带到n=1电子子带和n=2电子子带的激子吸收峰以及GaAs本征吸收相位变化所引起的光电流结构,并对光电流谱随温度和偏压变化的行为进行了讨论. 展开更多
关键词 晶体管 HEMT 光电流谱 AIGAAS ingaas 砷化镓
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低压低能耗应用的InGaAs/AlGaAsPHEMT单片微波SPDT开关 被引量:2
16
作者 陈效建 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 1995年第3期244-251,共8页
提出了微波频率下PHEMT在作开关运用时一种简化的等效电路模型,其模型参数可从对实际PHEMT芯片的在片微波测试方便地确定。对于电路中元件采用不同尺寸组合情形下所进行的开关性能(插入损耗,隔离度,输入及输出反射损耗)... 提出了微波频率下PHEMT在作开关运用时一种简化的等效电路模型,其模型参数可从对实际PHEMT芯片的在片微波测试方便地确定。对于电路中元件采用不同尺寸组合情形下所进行的开关性能(插入损耗,隔离度,输入及输出反射损耗)的模拟计算表明,与实验结果符合良好。在对串/并联PHEMT型SPDT开关的CAD优化设计基础上进行了InGaAs/AlGaAsPHEMT单片SPDT微波开关的实验研制。从研制的MMIC芯片上在片测试得到的结果为:对应新的个人通信频段的应用,在0~2GHZ范围内,插入损耗<1.0dB,隔离度>50dB,输入及输出反射损耗均优于24dB。研制的这种高性能单片开关还可在低至-2.0V的控制电压下工作。 展开更多
关键词 微波集成电路 微波半导体器件
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InGaAs/AlGaAs量子阱红外探测器中势垒生长温度的研究 被引量:4
17
作者 霍大云 石震武 +2 位作者 张伟 唐沈立 彭长四 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2017年第6期334-340,共7页
InGaAs/AlGaAs量子阱是中波量子阱红外探测器件最常用的材料体系,本文以结构为2.4 nm In_(0.35)Ga_(0.65)As/40 nm Al_(0.34)Ga_(0.66)As的多量子阱材料为研究对象,利用分子束外延生长,固定InGaAs势阱的生长温度(465°C),然后依次... InGaAs/AlGaAs量子阱是中波量子阱红外探测器件最常用的材料体系,本文以结构为2.4 nm In_(0.35)Ga_(0.65)As/40 nm Al_(0.34)Ga_(0.66)As的多量子阱材料为研究对象,利用分子束外延生长,固定InGaAs势阱的生长温度(465°C),然后依次升高分别选取465,500,545,580°C生长AlGaAs势垒层,从而获得四个不同的多量子阱样品.通过荧光光谱以及X射线衍射测试系统分析了势垒层生长温度对InGaAs量子阱发光和质量的影响,并较准确地给出了量子阱大致的温致弛豫轨迹:465—500°C,开始出现相分离,但缺陷水平较低,属弹性弛豫阶段;500—545°C,相分离加剧并伴随缺陷水平的上升,属弹性弛豫向塑性弛豫过渡阶段;545—580°C,相分离以及缺陷水平急剧上升,迅速进入塑性弛豫阶段,尤其是580°C时,量子阱的材料质量被严重破坏. 展开更多
关键词 中波红外探测 量子阱红外探测器件 ingaas/algaas多量子阱 温致弛豫
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45°内反射镜高功率InGaAs/AlGaAs/GaAs面发射半导体激光器结构设计和制备
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作者 李梅 曲轶 +4 位作者 王晓华 徐莉 李辉 刘维峰 刘国军 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第4期395-398,共4页
研究了具有45°内反射镜的0 98μm辐射波长的应变InGaAs/AlGaAs/GaAs单量子阱面发射半导体激光器结构,并采用MBE方法进行了材料制备。同时利用X射线双晶衍射,低温(10K)光致发光(PL)和电化学C V方法检测和分析了外延薄膜的光电和结... 研究了具有45°内反射镜的0 98μm辐射波长的应变InGaAs/AlGaAs/GaAs单量子阱面发射半导体激光器结构,并采用MBE方法进行了材料制备。同时利用X射线双晶衍射,低温(10K)光致发光(PL)和电化学C V方法检测和分析了外延薄膜的光电和结构特性。在光致发光谱线中我们得到了发射波长0 919μm的谱峰,谱峰范围跨跃0 911~0 932μm,双晶回摆曲线、电化学C V分布曲线显示所设计的结构基本得到实现。 展开更多
关键词 面发射半导体激光器 分子束外延 双晶回摆曲线 内反射镜 结构设计 制备 ingaas/A1GaAs/GaAs 单量子阱
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As元素分子态对InGaAs/AlGaAs量子阱红外探测器性能的影响 被引量:1
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作者 方俊 孙令 刘洁 《半导体光电》 CAS 北大核心 2018年第5期607-611,653,共6页
对As_2和As_4两种不同分子态下利用分子束外延技术(MBE)生长的单层AlGaAs薄膜和GaAs基InGaAs/AlGaAs量子阱红外探测器(QWIP)的性能进行了研究,发现As2条件下生长的单层AlGaAs材料荧光强度更大、深能级缺陷密度更低;相对于As4较为复杂的... 对As_2和As_4两种不同分子态下利用分子束外延技术(MBE)生长的单层AlGaAs薄膜和GaAs基InGaAs/AlGaAs量子阱红外探测器(QWIP)的性能进行了研究,发现As2条件下生长的单层AlGaAs材料荧光强度更大、深能级缺陷密度更低;相对于As4较为复杂的吸附、生长机制引入的缺陷,在As2条件下生长的InGaAs/AlGaAs QWIP具有更低的暗电流密度、更好的黑体响应、更高的比探测率和更优异的器件均匀性。生长制备的InGaAs/AlGaAs QWIP在60K的工作温度、-2V偏压下,暗电流密度低至7.8nA/cm^2,光谱响应峰值波长为3.59μm,4V偏压下峰值探测率达到1.7×1011 cm·Hz1/2·W-1。另外,通过As元素的不同分子态下InGaAs/AlGaAs QWIP光响应谱峰位的移动可以推断出As元素的不同分子态也会影响In的并入速率。 展开更多
关键词 分子束外延 ingaas/algaas量子阱红外探测器 As元素分子态 暗电流
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MBE自组织方法生长InGaAs/AlGaAs量子线FET材料
20
作者 张文俊 闫发旺 +2 位作者 崔奇 张荣桂 李献杰 《固体电子学研究与进展》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第2期223-226,共4页
利用分子束外延 (MBE)技术在高指数面 Ga As衬底上自组织生长了应变 In Ga As/Ga As量子线材料。原子力显微镜 (AFM)观测结果表明量子线的密度高达 4× 1 0 5/cm。低温偏振光致发光谱 (PPL)研究发现其发光峰半高宽 (FWHM)最小为 9.2... 利用分子束外延 (MBE)技术在高指数面 Ga As衬底上自组织生长了应变 In Ga As/Ga As量子线材料。原子力显微镜 (AFM)观测结果表明量子线的密度高达 4× 1 0 5/cm。低温偏振光致发光谱 (PPL)研究发现其发光峰半高宽 (FWHM)最小为 9.2 me V,最大偏振度可达 0 .2 2。以 Al Ga As为垫垒 ,In Ga As/Ga As量子线为沟道 ,成功制备了量子线场效应管 (QWR-FET)结构材料 ,并试制了器件 。 展开更多
关键词 MBE 自组织方法 ingaas/algaas量子线 FET材料 分子束外延 场效应管
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