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关于《AlGaN基远紫外LED研究进展》的编者按
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作者 闫建昌 《照明工程学报》 2025年第5期I0001-I0001,共1页
AlGaN基半导体紫外发光二极管(LED)具有无汞环保、工作电压低、开关迅速、波长精确可调、轻便灵活、易于集成等优势,在疫情防控、水净化、光固化、无创光疗、非视距通讯等领域有着广阔的应用,代表着新一代紫外光源的发展趋势。其中,260~... AlGaN基半导体紫外发光二极管(LED)具有无汞环保、工作电压低、开关迅速、波长精确可调、轻便灵活、易于集成等优势,在疫情防控、水净化、光固化、无创光疗、非视距通讯等领域有着广阔的应用,代表着新一代紫外光源的发展趋势。其中,260~280nm波段的深紫外LED因能强效破坏核酸碱基和超快速灭活,在抗击Covid-2019疫情中倍受关注。该波段紫外光会穿透人体皮肤等组织,对人类细胞有一定损害风险。 展开更多
关键词 水净化 algan基半导体 光固化 疫情防控
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AlGaN/GaN HEMT器件有效栅长和栅宽提取
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作者 吴淇暄 张贺秋 +4 位作者 朱江 宁思源 代晓 王子坤 梁红伟 《大连理工大学学报》 CAS 北大核心 2025年第1期105-110,共6页
有效栅长、有效栅宽和沟道电阻等AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)参数对于工艺控制和器件设计非常重要.基于AlGaN/GaN HEMT器件源漏之间的总电阻与栅长及栅宽的倒数之间的线性关系,提出了一种简单方法提取有效栅长和有效栅宽.制作了... 有效栅长、有效栅宽和沟道电阻等AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)参数对于工艺控制和器件设计非常重要.基于AlGaN/GaN HEMT器件源漏之间的总电阻与栅长及栅宽的倒数之间的线性关系,提出了一种简单方法提取有效栅长和有效栅宽.制作了两组AlGaN/GaN HEMT器件,这两组器件的源漏间距为80μm,栅源间距为10μm.其中一组器件固定栅宽为400μm,栅长分别为10、20、30、40、50、60μm;另一组器件固定栅长为40μm,栅宽分别为200、300、400、500、600、800μm.通过研究源漏之间的总电阻随栅长和栅宽变化规律,获得栅长与有效栅长的差值为0.48989μm,栅宽与有效栅宽的差值为-11.12191μm. 展开更多
关键词 algan/GAN高电子迁移率晶体管 器件参数 有效栅长 有效栅宽
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侧壁修复提升237 nm AlGaN基Micro-LED光功率密度研究
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作者 郝家龙 李宏博 +9 位作者 吕顺鹏 朱立财 孙文超 张若甲 刘钟旭 蒋科 贲建伟 张山丽 孙晓娟 黎大兵 《人工晶体学报》 北大核心 2025年第6期970-978,共9页
AlGaN基深紫外Micro-LED在无掩膜光刻、日盲紫外保密通信等领域具有重要应用前景。然而,侧壁效应和电流拥挤效应严重制约高电流密度下的光功率密度。本研究制备了发光波长237 nm,台面半径分别为12.5、25.0、50.0μm的深紫外Micro-LED,... AlGaN基深紫外Micro-LED在无掩膜光刻、日盲紫外保密通信等领域具有重要应用前景。然而,侧壁效应和电流拥挤效应严重制约高电流密度下的光功率密度。本研究制备了发光波长237 nm,台面半径分别为12.5、25.0、50.0μm的深紫外Micro-LED,并系统探究了侧壁修复对不同尺寸和不同阵列化Micro-LED的影响规律。研究发现,使用KOH修复侧壁可有效降低AlGaN基深紫外Micro-LED侧壁缺陷密度,减小反向漏电流密度,同时降低由侧壁缺陷导致的肖特基-里德-霍尔(SRH)非辐射复合。对于单台面器件,器件尺寸越小,最大光功率密度越高,但侧壁效应严重制约着小尺寸器件的光功率密度,导致小尺寸器件在低电流密度下光功率密度最低,侧壁修复后,半径12.5μm的器件峰值光功率密度提升最多,提升了186%,且在不同电流密度下光功率密度均最高;对于相同发光面积的阵列化器件,侧壁修复后,阵列化程度越高,光功率密度越高,4×4阵列12.5μm的Micro-LED比半径50.0μm的器件峰值光功率密度提高了116%,其原因是在保持较低侧壁缺陷的情况下,阵列化可以提高电流密度分布均匀性,进而提高光效。该研究有助于提高Micro-LED的光功率密度,并将推动短波深紫外Micro-LED走向实际应用。 展开更多
关键词 侧壁效应 电流拥挤效应 algan micro-LED 侧壁修复 阵列化工程
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漏场板提升增强型AlGaN/GaN/AlGaN HEMT击穿电压的研究 被引量:1
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作者 周世刚 于永强 +2 位作者 夏元治 钱君涵 吴春艳 《合肥工业大学学报(自然科学版)》 北大核心 2025年第5期622-627,共6页
p-GaN帽层增强型AlGaN/GaN/AlGaN HEMT存在背势垒,因此可显著降低GaN缓冲层泄漏电流,提升器件击穿电压,但会面临漏极下方电场强度峰值集中的问题,导致击穿电压偏离。文章通过Silvaco ATLAS仿真,探讨漏场板结构和漏场板下钝化层厚度对p-... p-GaN帽层增强型AlGaN/GaN/AlGaN HEMT存在背势垒,因此可显著降低GaN缓冲层泄漏电流,提升器件击穿电压,但会面临漏极下方电场强度峰值集中的问题,导致击穿电压偏离。文章通过Silvaco ATLAS仿真,探讨漏场板结构和漏场板下钝化层厚度对p-GaN帽层增强型AlGaN/GaN/AlGaN HEMT器件击穿电压的调制,优化漏极下方电场强度峰值分布。结果表明:漏场板的引入可显著提升器件的击穿电压,漏场板厚度在0.10~1.10μm范围时,器件的击穿电压随着漏场板厚度增大而增大;随着漏场板下方钝化层厚度的增大,漏场板边缘下方的沟道电场强度峰值减小,漏极下方的沟道电场强度峰值增大,当漏场板下方钝化层厚度增厚至0.25μm时,沟道电场强度峰值最小,器件的击穿电压提升至1370 V,增幅达53.6%。研究发现,击穿电压的提升主要是由于漏场板的电场调制效应降低了电场强度峰值。 展开更多
关键词 p-GaN帽层增强型algan/GaN/algan HEMT 漏场板 钝化层 击穿电压 电场强度
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基于AlGaN日盲火焰探测器的智能监测系统关键技术研究
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作者 王林林 李琦 《实验室检测》 2025年第16期7-9,共3页
目的 日盲紫外波段因大气层强烈吸收太阳辐射形成“日盲区”,为火焰探测提供了天然优势。本研究针对传统探测器误报率高的问题,提出双通道时空特征融合模型(DSFFM)。方法 通过卷积神经网络(CNN)提取紫外信号空间模式,结合长短期记忆网络... 目的 日盲紫外波段因大气层强烈吸收太阳辐射形成“日盲区”,为火焰探测提供了天然优势。本研究针对传统探测器误报率高的问题,提出双通道时空特征融合模型(DSFFM)。方法 通过卷积神经网络(CNN)提取紫外信号空间模式,结合长短期记忆网络(LSTM)捕捉时序动态,引入空间-时间双注意力机制动态分配特征权重,如近距离火焰的空间分布差异、远距离火焰的脉冲周期性等,为复杂环境下探测器的精准识别提供算法支持。结果 系统在强干扰环境下具备大于50m探测距离、小于100ms响应速度和720h稳定运行能力,为复杂工业场景提供了高可靠性火灾预警解决方案。结论 本研究通过硬件与智能算法的深度融合,有效突破了传统探测技术在复杂环境中的局限性,为智慧消防、矿山安全等领域提供了核心技术支撑。 展开更多
关键词 algan 日盲火焰检测 智能检测系统 关键技术 深度学习 双通道时空融合
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Numerical simulations on the photoelectric performance of AlGaN-based ultraviolet VCSELs with a slope-shaped p-type layer
6
作者 WEN Xin-xin JIA Wei +4 位作者 ZHAI Guang-mei DONG Hai-liang ZHAO Chao LI Tian-bao XU Bing-she 《中国光学(中英文)》 北大核心 2025年第3期499-509,共11页
Owing to the low p-type doping efficiency in the hole injection layers(HILs)of GaN-based ultra-violet(UV)vertical-cavity surface-emitting laser(VCSEL),effective hole injection in multi-quantum wells(MQW)is not achieve... Owing to the low p-type doping efficiency in the hole injection layers(HILs)of GaN-based ultra-violet(UV)vertical-cavity surface-emitting laser(VCSEL),effective hole injection in multi-quantum wells(MQW)is not achieved,significantly limiting the photoelectric performance of UV VCSELs.We developed a slope-shaped HIL and an EBL structure in AlGaN-based UV VCSELs.In this study,by improving hole in-jection efficiency,the hole concentration in the HIL is increased,and the hole barrier at the electron barrier layer(EBL)/HIL interface is decreased.This minimises the hindering effect of hole injection.A mathematic-al model of this structure was established using a commercial software,photonic integrated circuit simulator in three-dimension(PICS3D).We conducted simulations and theoretical analyses of the band structure and carrier concentration.Introducing polarisation doping through the Al composition gradient in the HIL en-hanced the hole concentration,thereby improving the hole injection efficiency.Furthermore,modifying the EBL eliminated the abrupt potential barrier for holes at the HIL/EBL interface,smoothing the valence band.This improved the stimulated radiative recombination rate in the MQW,increasing the laser power.There-fore,the sloped p-type layer can enhance the optoelectronic performance of UV VCSELs. 展开更多
关键词 UV VCSEL algan polarisation doping electron barrier layer(EBL) hole injection efficiency
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基于超晶格结构的高电流密度增强型AlGaN/GaN HEMT
7
作者 夏元治 吴春艳 +2 位作者 周世刚 钱君涵 于永强 《合肥工业大学学报(自然科学版)》 北大核心 2025年第10期1352-1356,共5页
凹槽栅是实现增强型AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(high electron mobility transistor,HEMT)的常见技术,但随着栅下AlGaN的刻蚀,极化效应减弱,二维电子气(two-dimensional electron gas,2DEG)浓度降低,电流密度显著降低。文章提出在凹... 凹槽栅是实现增强型AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(high electron mobility transistor,HEMT)的常见技术,但随着栅下AlGaN的刻蚀,极化效应减弱,二维电子气(two-dimensional electron gas,2DEG)浓度降低,电流密度显著降低。文章提出在凹槽栅金属-绝缘层-半导体(metal-insulator-semiconductor,MIS)结构栅下叠加4 nm GaN和1 nm AlN超晶格(superlattice,SL)结构,通过在AlGaN与GaN之间引入一层超晶格层、增加一层二维电子气沟道来提高电流密度,并利用Silvaco TCAD软件系统仿真凹槽深度、栅介质以及超晶格层对器件电流密度的影响。仿真结果表明:使用5 nm HfO_(2)栅介质层并增加一层超晶格层(4 nm GaN+1 nm AlN)的AlGaN/GaN SL-MISHEMT,阈值电压V_(th)为0.14 V,电流密度I_(ds)达到1014 mA/mm(V ds=10 V,V_(gs)=10 V);与常规AlGaN/GaN HEMT(V_(th)=-3.16 V)相比,器件阈值电压增加了3.28 V;与无超晶格层的AlGaN/GaN MISHEMT相比,电流密度提高了24%。 展开更多
关键词 algan/GaN高电子迁移率晶体管(HEMT) 凹槽栅 超晶格(SL) 功率器件仿真
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栅极几何结构对MIS栅结构常关p-GaN/AlGaN/GaN HEMTs性能的影响
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作者 都继瑶 《沈阳理工大学学报》 CAS 2025年第1期72-77,共6页
高电子迁移率晶体管(high electron mobility transistors,HEMTs)具有高速开关和极高击穿电场等特性,在功率器件领域应用广泛。为提高HEMT器件性能,通过实验研究了栅极几何结构对具有金属/绝缘体/半导体(MIS)栅极结构的常关型p-GaN/AlGa... 高电子迁移率晶体管(high electron mobility transistors,HEMTs)具有高速开关和极高击穿电场等特性,在功率器件领域应用广泛。为提高HEMT器件性能,通过实验研究了栅极几何结构对具有金属/绝缘体/半导体(MIS)栅极结构的常关型p-GaN/AlGaN/GaN HEMTs性能的影响。栅极介质层采用5 nm厚的原位生长AlN,AlN/p-GaN界面呈现出更明显的能带弯曲和更宽的耗尽区,有利于阈值电压向正向偏移,且其相对较宽的能带错位有助于抑制栅极电流。实验结果表明:与栅极非覆盖区长度为0μm和6μm的MIS栅极相比,非覆盖区长度为3μm的MIS栅极可提高器件综合性能,有效抑制正向栅极电流,将阈值电压提高至3 V,并较好地保持电流密度为46 mA/mm;栅极结构中两侧没有栅极覆盖的区域在导通过程和导通状态下均可引起较大的沟道电阻,且沟道电阻随着非覆盖区长度增加而上升。 展开更多
关键词 p-GaN/algan/GaN异质结 AlN介质层 常关型器件 金属/绝缘体/半导体 栅极非覆盖区
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Au敏感膜与栅极凹槽对AlGaN/GaN HEMT pH传感器的性能影响研究
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作者 王利强 敖金平 《科学技术创新》 2025年第21期13-16,共4页
本文研究Au敏感膜与栅极凹槽对AlGaN/GaN HEMT pH传感器的性能影响。栅极凹槽不仅将pH传感器在V_(DS)为1 V时的电流灵敏度从61.19μA/pH增加到286.0μA/pH,而且效率也从32.4 mA/(pH·W)提高至98.3 mA/(pH·W)。但是V_(DS)过大... 本文研究Au敏感膜与栅极凹槽对AlGaN/GaN HEMT pH传感器的性能影响。栅极凹槽不仅将pH传感器在V_(DS)为1 V时的电流灵敏度从61.19μA/pH增加到286.0μA/pH,而且效率也从32.4 mA/(pH·W)提高至98.3 mA/(pH·W)。但是V_(DS)过大会降低效率,消耗更多的功耗。Au作为pH敏感膜时,pH传感器(无凹槽和有凹槽)都具有良好的重复性,500次转移特性测试的ΔV_(REF)仅为25 mV左右。所以基于Au敏感膜凹槽pH传感器有着高电流灵敏度,高效率,以及低漂移的特性。 展开更多
关键词 algan/GaN HEMT pH传感器 Au敏感膜 凹槽 高灵敏度 高效率 低漂移
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Characterization of high-performance AlGaN-based solar-blind UV photodetectors
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作者 FU Yuting LIU Bing +2 位作者 ZHAN Jie ZHENG Fu SUN Zhaolan 《Optoelectronics Letters》 2025年第7期402-406,共5页
This study begins with the fabrication and simulation of high-performance back-illuminated AlGaN-based solar-blind ultraviolet(UV)photodetectors.Based on the photodetectors,a low-noise,high-gain UV detection system ci... This study begins with the fabrication and simulation of high-performance back-illuminated AlGaN-based solar-blind ultraviolet(UV)photodetectors.Based on the photodetectors,a low-noise,high-gain UV detection system circuit is designed and fabricated,enabling the detection,acquisition,and calibration of weak solar-blind UV signals.Experimental results demonstrate that under zero bias conditions,with a UV light power density of 3.45μW/cm^(2) at 260 nm,the sample achieves a peak responsivity(R)of 0.085 A·W^(−1),an external quantum efficiency(EQE)of 40.7%,and a detectivity(D^(*))of 7.46×10^(12) cm·Hz^(1/2)·W^(−1).The system exhibits a bandpass characteristic within the 240–280 nm wavelength range,coupled with a high signal-to-noise ratio(SNR)of 39.74 dB. 展开更多
关键词 high performance PHOTODETECTORS UV low noise solar blind ultraviolet high gain algan based
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Impact of epitaxial structural parameters on two-dimensional hole gas properties in p-GaN/AlGaN/GaN heterostructures
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作者 Fuzhou Wen Qianshu Wu +4 位作者 Jinwei Zhang Zhuoran Luo Senyuan Xu Hao Jiang Yang Liu 《Chinese Physics B》 2025年第7期510-517,共8页
Research on p-channel field-effect transistors(p-FETs)remains limited,primarily due to the significantly lower conductivity of the two-dimensional hole gas(2DHG)compared to the two-dimensional electron gas(2DEG)in n-c... Research on p-channel field-effect transistors(p-FETs)remains limited,primarily due to the significantly lower conductivity of the two-dimensional hole gas(2DHG)compared to the two-dimensional electron gas(2DEG)in n-channel field-effect transistors(n-FETs),which poses a significant challenge for monolithic integration.In this study,we investigate the impact of epitaxial structure parameters on 2DHG properties in p-Ga N/Al Ga N/Ga N heterostructures through semiconductor technology computer-aided design(TCAD)simulations and theoretical calculations,identifying the conditions necessary to achieve high-density 2DHG.Our simulations demonstrate that increasing the p-Ga N thickness leads to two critical thicknesses determined by surface states and acceptor ionization concentration:one corresponds to the onset of 2DHG formation,and the other to its saturation.Lowering the donor surface state energy level and increasing the acceptor ionization concentration promote 2DHG formation and saturation,although the saturated density remains independent of surface states.Additionally,a higher Al composition enhances intrinsic ionization due to stronger polarization effects,thereby increasing the 2DHG sheet density.Consequently,to achieve high-density 2DHG in p-Ga N/Al Ga N/Ga N heterostructures,it is essential to increase the Al composition,ensure that the p-Ga N thickness exceeds the critical thickness for 2DHG saturation,and maximize the acceptor ionization concentration.This study elucidates the impact of epitaxial structure parameters on 2DHG properties in p-Ga N/Al Ga N/Ga N heterostructures and provides valuable guidance for the optimization of p-FET designs. 展开更多
关键词 p-GaN/algan/GaN heterostructures 2DHG surface states acceptor doping
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AlGaN/GaN-based SBDs grown on silicon substrates with trenched n^(+)-GaN cap layer and local passivation layer to improve BFOM and dynamic properties
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作者 Zhizhong Wang Jingting He +9 位作者 Fuping Huang Xuchen Gao Kangkai Tian Chunshuang Chu Yonghui Zhang Shuting Cai Xiaojuan Sun Dabing Li Xiao Wei Sun Zi-Hui Zhang 《Journal of Semiconductors》 2025年第9期51-61,共11页
In this work,we design and fabricate AlGaN/GaN-based Schottky barrier diodes(SBDs)on a silicon substrate with a trenched n^(+)-GaN cap layer.With the developed physical models,we find that the n^(+)-GaN cap layer prov... In this work,we design and fabricate AlGaN/GaN-based Schottky barrier diodes(SBDs)on a silicon substrate with a trenched n^(+)-GaN cap layer.With the developed physical models,we find that the n^(+)-GaN cap layer provides more electrons into the AlGaN/GaN channel,which is further confirmed experimentally.When compared with the reference device,this increases the two-dimensional electron gas(2DEG)density by two times and leads to a reduced specific ON-resistance(Ron,sp)of~2.4 mΩ·cm^(2).We also adopt the trenched n^(+)-GaN structure such that partial of the n^(+)-GaN is removed by using dry etching process to eliminate the surface electrical conduction when the device is set in the off-state.To suppress the surface defects that are caused by the dry etching process,we also deposit Si_(3)N_(4)layer prior to the deposition of field plate(FP),and we obtain a reduced leakage current of~8×10^(−5)A·cm^(−2)and breakdown voltage(BV)of 876 V.The Baliga’s figure of merit(BFOM)for the proposed structure is increased to~319 MW·cm^(−2).Our investigations also find that the pre-deposited Si_(3)N_(4)layer helps suppress the electron capture and transport processes,which enables the reduced dynamic R_(on,sp). 展开更多
关键词 algan/GaN-based Schottky barrier diodes(SBDs) n^(+)-GaN cap layer Si_(3)N_(4)protective layer
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日盲紫外AlGaN光电阴极性能提升研究 被引量:1
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作者 陈冠宇 罗伟科 +3 位作者 梁帅 陈鑫龙 王艳 程奎 《光电子技术》 2025年第2期105-111,共7页
通过调节Al组分,可使AlGaN光电阴极在获得更高灵敏度的同时,更好地兼顾光电倍增管的日盲特性。通过优化高Al组分AlGaN材料生长工艺,实现了AlGaN型紫外光电倍增管阴极灵敏度和日盲特性的提升。优化了气流调制生长法的生长温度,抑制了晶... 通过调节Al组分,可使AlGaN光电阴极在获得更高灵敏度的同时,更好地兼顾光电倍增管的日盲特性。通过优化高Al组分AlGaN材料生长工艺,实现了AlGaN型紫外光电倍增管阴极灵敏度和日盲特性的提升。优化了气流调制生长法的生长温度,抑制了晶体生长过程中预反应的发生,减少了AlGaN晶体中的缺陷。采用Mg‑In共掺的方法,提高了Mg的掺杂效率。制备了基于AlGaN光电阴极的日盲紫外光电倍增管,进行了AlGaN光电阴极灵敏度和光谱响应曲线的测试。实验结果表明:通过AlGaN外延材料生长工艺及光电阴极制备工艺的优化,AlGaN光电阴极日盲性能和灵敏度取得显著提升,最终制备出产品的灵敏度达到45 mA/W@270 nm,且截止波长(峰值响应的50%)小于280 nm。 展开更多
关键词 光电阴极 日盲紫外 灵敏度 光谱
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AlGaN基深紫外LED光源灭活柯萨奇病毒研究 被引量:2
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作者 吴郁 蓝习瑜 +6 位作者 张梓睿 吴章鑫 刘忠宇 杨玲佳 张山丽 徐可 贲建伟 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2024年第8期1391-1397,共7页
为探究在高温热处理AlN模板上制备的不同发光波长AlGaN基LED器件对病毒的灭活效率,本工作在发光波长257~294 nm范围内制备了7组不同发光波长AlGaN基深紫外LED器件,并探究其对柯萨奇病毒灭活效率。实验结果表明,高温热处理AlN模板可以将... 为探究在高温热处理AlN模板上制备的不同发光波长AlGaN基LED器件对病毒的灭活效率,本工作在发光波长257~294 nm范围内制备了7组不同发光波长AlGaN基深紫外LED器件,并探究其对柯萨奇病毒灭活效率。实验结果表明,高温热处理AlN模板可以将AlN模板位错密度降低至1.33×10^(7)cm^(-2),为制备高效率AlGaN基LED器件奠定了良好基础;基于高温热处理AlN模板制备的AlGaN基LED器件,在灭活距离2 cm、紫外辐照时间30 s实验条件下,发光中心波长在257~278 nm之间的AlGaN基LED器件对柯萨奇病毒灭活率≥99.90%,而发光中心波长为288 nm、294 nm的LED对柯萨奇病毒灭活率仅为99.47%及96.15%。根据以上研究结果,波长在257~278 nm之间的AlGaN基LED器件适合在病毒消杀领域应用;在本工作实验条件下,波长大于288 nm的AlGaN基深紫外LED器件对病毒灭活效果较差。 展开更多
关键词 高温热处理 AlN模板 algan LED 病毒灭活
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Progress in efficient doping of Al-rich AlGaN 被引量:3
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作者 Jiaming Wang Fujun Xu +14 位作者 Lisheng Zhang Jing Lang Xuzhou Fang Ziyao Zhang Xueqi Guo Chen Ji Chengzhi Ji Fuyun Tan Xuelin Yang Xiangning Kang Zhixin Qin Ning Tang Xinqiang Wang Weikun Ge Bo Shen 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 2024年第2期10-20,共11页
The development of semiconductors is always accompanied by the progress in controllable doping techniques.Taking AlGaN-based ultraviolet(UV)emitters as an example,despite a peak wall-plug efficiency of 15.3%at the wav... The development of semiconductors is always accompanied by the progress in controllable doping techniques.Taking AlGaN-based ultraviolet(UV)emitters as an example,despite a peak wall-plug efficiency of 15.3%at the wavelength of 275 nm,there is still a huge gap in comparison with GaN-based visible light-emitting diodes(LEDs),mainly attributed to the inefficient doping of AlGaN with increase of the Al composition.First,p-doping of Al-rich AlGaN is a long-standing challenge and the low hole concentration seriously restricts the carrier injection efficiency.Although p-GaN cladding layers are widely adopted as a compromise,the high injection barrier of holes as well as the inevitable loss of light extraction cannot be neglected.While in terms of n-doping the main issue is the degradation of the electrical property when the Al composition exceeds 80%,resulting in a low electrical efficiency in sub-250 nm UV-LEDs.This review summarizes the recent advances and outlines the major challenges in the efficient doping of Al-rich AlGaN,meanwhile the corresponding approaches pursued to overcome the doping issues are discussed in detail. 展开更多
关键词 algan-based UV-LEDs Al-rich algan DOPING
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表面电荷密度及介电常数对AlGaN/GaN异质结中二维电子气性质的影响
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作者 王庆武 于白茹 郭华忠 《四川大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2024年第6期178-184,共7页
通过在Al_(x)Ga_(1-x)N层引入离化电荷面密度,结合自发极化和压电极化引起的极化电荷面密度,利用变分法计算二维电子气面密度随Al组分和Al_(x)Ga_(1-x)N厚度的变化关系.研究了相对介电常数对电子气密度的影响,并与实验数据进行了比较.... 通过在Al_(x)Ga_(1-x)N层引入离化电荷面密度,结合自发极化和压电极化引起的极化电荷面密度,利用变分法计算二维电子气面密度随Al组分和Al_(x)Ga_(1-x)N厚度的变化关系.研究了相对介电常数对电子气密度的影响,并与实验数据进行了比较.通过在Al_(x)Ga_(1-x)N的相对介电常量中引入高阶项,使得计算结果更好地拟合了高Al组分的电子气密度.计算得到的离化电荷面电荷密度与极化电荷面电荷密度相当,从而证明离化面电荷密度对二维电子气形成的贡献. 展开更多
关键词 algan/GAN异质结 二维电子气 离化态 变分法
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基于分离多量子垒电子阻挡层的AlGaN基深紫外发光二极管 被引量:1
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作者 申国文 鲁麟 +3 位作者 许福军 吕琛 高文根 代广珍 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2024年第7期1156-1162,共7页
通过分离多量子垒电子阻挡层(EBL)结构,实现了AlGaN基DUV-LED器件性能的提升。由仿真结果可得,与传统的块状EBL相比,采用分离多量子垒结构的EBL可以获得更高的空穴浓度和辐射复合速率。这得益于EBL中间的夹层形成了空穴加速区,使得空穴... 通过分离多量子垒电子阻挡层(EBL)结构,实现了AlGaN基DUV-LED器件性能的提升。由仿真结果可得,与传统的块状EBL相比,采用分离多量子垒结构的EBL可以获得更高的空穴浓度和辐射复合速率。这得益于EBL中间的夹层形成了空穴加速区,使得空穴在加速区获得能量,从而提高了空穴注入效率。另外,多量子势垒结构还能够通过提高电子势垒有效抑制电子泄漏,从而大幅度提升器件性能。综上所述,多量子垒电子阻挡层的引入可以显著提升AlGaN基DUV-LED器件的性能。 展开更多
关键词 algan 深紫外发光二极管 电子阻挡层
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AlGaN/GaN HEMT器件高温栅偏置应力后栅极泄漏电流机制分析 被引量:1
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作者 陈欢欢 张贺秋 +9 位作者 邢鹤 夏晓川 张振中 蔡涛 叶宇帆 郭文平 席庆南 黄慧诗 梁晓华 梁红伟 《大连理工大学学报》 CAS CSCD 北大核心 2024年第1期90-95,共6页
AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)的栅特性会受到温度应力和电应力的影响.在高温栅偏置(HTGB)应力下,器件的栅特性会发生退化,如栅极泄漏电流增大.为了研究退化机理,分析了AlGaN/GaN HEMT在栅电压为-2 V时,250℃高温应力作用后的栅极... AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)的栅特性会受到温度应力和电应力的影响.在高温栅偏置(HTGB)应力下,器件的栅特性会发生退化,如栅极泄漏电流增大.为了研究退化机理,分析了AlGaN/GaN HEMT在栅电压为-2 V时,250℃高温应力作用后的栅极泄漏电流机制.随着HTGB时间的增加,栅极泄漏电流持续增大,受到应力器件在室温下静置后栅极泄漏电流密度恢复约20%.结果表明,在正向偏置范围内,栅极泄漏电流是由热电子发射(TE)引起的.在反向偏置范围内,普尔-弗伦克尔(PF)发射在小电压范围内占主导地位.阈值电压附近的范围由势垒层中的陷阱辅助隧穿(TAT)引起;在大电压范围内,福勒-诺德海姆(FN)隧穿导致栅极发生泄漏. 展开更多
关键词 algan/GaN HEMT 高温栅偏置应力 栅极泄漏电流机制
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AlGaN基深紫外LED的可靠性研究及寿命预测 被引量:2
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作者 宫明峰 孙雪娇 +5 位作者 雷程 梁庭 李丰超 谢宇 李开心 刘乃鑫 《光电子技术》 CAS 2024年第2期106-115,共10页
围绕AlGaN基深紫外LED的外延生长、工艺制备等因素对深紫外LED可靠性的影响以及加速寿命预测等方面开展了系统的研究。探索了量子垒(Quantum Barrier,简称QB)中Al组分、电子阻挡层(Electron Barrier Layer,简称EBL)中Al组分、同尺寸芯... 围绕AlGaN基深紫外LED的外延生长、工艺制备等因素对深紫外LED可靠性的影响以及加速寿命预测等方面开展了系统的研究。探索了量子垒(Quantum Barrier,简称QB)中Al组分、电子阻挡层(Electron Barrier Layer,简称EBL)中Al组分、同尺寸芯片不同台面面积等因素对深紫外LED可靠性的影响,确定QB结构Al组分为74%,EBL结构Al组分为75%,台面面积为P68。对优化后的深紫外LED设计了热、电应力老化试验,结合阿伦纽斯模型、逆幂律模型、指数最小二乘拟合对深紫外LED的寿命进行预测。实验结果表明,随着电、热应力的增加,深紫外LED可靠性随之降低,阿伦纽斯模型预测寿命为5027 h,逆幂律模型预测寿命为5400 h,正常工作电流40 mA下,深紫外LED实际寿命为5582 h,逆幂律模型预测精度较阿伦纽斯模型提升了6.7%。本研究将为提高深紫外LED的可靠性和产品应用普及提供坚实的理论基础。 展开更多
关键词 algan 深紫外发光二极管 可靠性 寿命预测
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AlGaN/GaN HEMT小信号放大电路设计及放大增益预测 被引量:1
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作者 叶宇帆 张贺秋 +4 位作者 夏晓川 郭文平 黄慧诗 梁晓华 梁红伟 《大连理工大学学报》 CAS CSCD 北大核心 2024年第4期412-417,共6页
采用计算机辅助设计技术(TCAD)对AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)器件进行了仿真,并利用Multisim设计了AlGaN/GaN HEMT器件的低频小信号放大电路.由于GaN材料的宽带隙和高载流子迁移率,HEMT器件可以在空间科学应用中取代Si基MOSFET.T... 采用计算机辅助设计技术(TCAD)对AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)器件进行了仿真,并利用Multisim设计了AlGaN/GaN HEMT器件的低频小信号放大电路.由于GaN材料的宽带隙和高载流子迁移率,HEMT器件可以在空间科学应用中取代Si基MOSFET.TCAD的仿真结果通过与测试结果的比较进行了修正.通过Multisim仿真结果与搭建的AlGaN/GaN HEMT共源共栅放大电路的测试结果对放大电路的放大特性进行了验证.以此为基础,利用TCAD模拟改变了结构参数的器件特性并采用改进了结构参数的AlGaN/GaN HEMT设计共源共栅放大电路.仿真结果表明,该放大电路在低频和室温下的电压放大能力可达6 200倍. 展开更多
关键词 algan/GaN HEMT TCAD仿真 放大增益 小信号模型
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