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题名提高路径敏感缺陷检测方法的效率及精度研究
被引量：9
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作者
赵云山
宫云战
刘莉
肖庆
杨朝红
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机构
北京邮电大学网络与交换技术国家重点实验室
装甲兵工程学院信息工程系
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出处
《计算机学报》
EI
CSCD
北大核心
2011年第6期1100-1113,共14页
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基金
国家"八六三"高技术研究发展计划项目基金(2009AA012404)
国家自然科学基金项目"航天嵌入式软件缺陷检测方法研究
+1 种基金
系统研发及应用"(91018002
2010)资助
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文摘
路径敏感的缺陷检测方法其缺陷状态会关联当前控制流节点的所有数据流信息,由于其中包含与缺陷检测无关的数据流,因此会导致分析效率下降.为了避免全路径敏感分析时的路径爆炸问题,一般会在控制流汇合节点进行缺陷状态合并,而这种粗糙的合并策略带来的精度损失会引起误报.针对上述问题,文中提出一种基于缺陷的程序切片方法,该方法基于缺陷特征和路径条件建立切片准则,根据控制流节点上的数据流信息与切片准则的包含关系进行程序切片,得到的切片程序在缺陷检测时切片掉了缺陷无关节点且与源程序完全等价,以提高缺陷检测效率.为了进一步减少路径敏感分析方法的误报,提出一种基于切片的缺陷状态合并策略,根据控制流分支节点的路径条件,对缺陷状态添加状态属性,从而有选择地对控制流汇合节点进行状态合并,减少精度损失.文中所述方法已在缺陷检测系统(DTSGCC)中实现.对大量Linux中GCC开源工程的测试结果表明,文中提出的方法可以提高路径敏感缺陷检测方法的效率,并减少误报.
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关键词
静态分析
缺陷检测
路径敏感
误报
程序切片
上下文敏感分析
域敏感分析
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Keywords
static analysis
defect detecting
path-sensitive
false positive
program slicing
context-sensitive analysis
field-sensitive analysis
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分类号
TP311
[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
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题名静态时序分析及其在IC设计中的应用
被引量：5
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作者
张富彬
HO Ching-yen
彭思龙
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机构
中国科学院自动化研究所国家专用集成电路设计工程研究中心
Synopsys Inc.Mountain View CA
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出处
《电子器件》
EI
CAS
2006年第4期1329-1333,共5页
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文摘
讨论了静态时序分析算法及其在IC设计中的应用。首先,文章讨论了静态时序分析中的伪路径问题以及路径敏化算法,分析了影响逻辑门和互连线延时的因素。最后通过一个完整的IC设计流程介绍了静态时序分析的应用。
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关键词
静态时序分析
敏化路径
伪路径
D-算法
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Keywords
static timing analysis
sensitize paths false paths d-algorithm
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分类号
TP391.72
[自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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