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Theoretical Studies on the Si(001)-SiO_2 Interface Structure 被引量:1
1
作者 ZHOU Ming-Xiu YANG Chun +2 位作者 DENG Xiao-Yan YU Wei-Fei LI Jin-Shan 《Chinese Journal of Structural Chemistry》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2006年第6期647-652,共6页
Novel models (2× 1) of Si(001)-SiO2 interface structure have been established. The method of the first-principle General Gradient Approximation (GGA) is employed to structurally optimize the established the... Novel models (2× 1) of Si(001)-SiO2 interface structure have been established. The method of the first-principle General Gradient Approximation (GGA) is employed to structurally optimize the established theoretical models under the K-point space of periodic boundary condition. The structures after optimization have been analyzed, and the results show that the interfaces present in disordered state and both Si-O-Si and Si=O structures exist. Meanwhile, the bonding of surface structure is analyzed via the graphics of electron localization function(ELF). 展开更多
关键词 SI/sio2 DFT interface structure
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AFM and XPS Study on the Surface and Interface States of CuPc and SiO_2 Films
2
作者 陈金伙 王永顺 +2 位作者 朱海华 胡加兴 张福甲 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第8期1360-1366,共7页
A CuPc/SiO2 sample is fabricated. Its morphology is characterized by atomic force microscopy, and the electron states are investigated by X-ray photoelectron spectroscopy. In order to investigate these spectra in deta... A CuPc/SiO2 sample is fabricated. Its morphology is characterized by atomic force microscopy, and the electron states are investigated by X-ray photoelectron spectroscopy. In order to investigate these spectra in detail, all of these spectra are normalized to the height of the most intense peak,and each component is fitted with a single Gaussian function. Analysis shows that the O element has great bearing on the electron states and that SiO2 layers produced by spurting technology are better than those produced by oxidation technology. 展开更多
关键词 CuPc/sio2 X-ray photoelectron spectroscopy surface and interface analysis
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Local corrosion mechanism of SiO2-based refractories caused by slag movement near solid–liquid–gas interface in different slag systems 被引量:1
3
作者 Zhang-fu YUAN Shan-shan XIE +2 位作者 Xiang-tao YU Yan-gang ZHANG Rong-yue WANG 《Transactions of Nonferrous Metals Society of China》 SCIE EI CAS CSCD 2019年第9期1975-1982,共8页
Slag movement on SiO2-based prism refractories in different slag systems was observed. The cross section shape evolution mechanism was discussed. Two types of shape evolution appear. For PbO-SiO2 slag whose surface te... Slag movement on SiO2-based prism refractories in different slag systems was observed. The cross section shape evolution mechanism was discussed. Two types of shape evolution appear. For PbO-SiO2 slag whose surface tension improves with SiO2 concentration, slag film flows up along four edges under axial Marangoni shear force and wettability. Then, it flows down along four lateral faces under gravity. Corrosion rate at edges is larger than that on lateral faces due to different SiO2 solubilities of ascending and descending flow. Prism cross section shape changes from square to round. For FetO-SiO2 slag whose surface tension reduces with the increase of SiO2 concentration, slag film flows up under the inflence of wettability. Then, it flows down under Marangoni shear force and gravity. Compared to four edges, slag is mainly up and down on four lateral faces due to larger surface tension and size. So, prism cross section shape keeps square. 展开更多
关键词 Marangoni convection slag film local corrosion solid-liquid-gas interface sio2-based refractories
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Ga在SiO_2-Si复合结构中的热分布研究 被引量:5
4
作者 裴素华 孙海波 +2 位作者 修显武 张晓华 江玉清 《稀有金属材料与工程》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2005年第2期275-278,共4页
用 H2 和 Ga_2O_3的高温反应形成元素 Ga 的恒定表面源,通过 SiO_2-Si 复合结构实现了 Ga 在 Si 中的高均匀性掺杂;利用二次离子质谱分析(SIMS)、扩展电阻(SRP)、四探针测试等方法,对 P 型杂质 Ga 在 SiO_2薄膜、SiO_2-Si 两固相接触的... 用 H2 和 Ga_2O_3的高温反应形成元素 Ga 的恒定表面源,通过 SiO_2-Si 复合结构实现了 Ga 在 Si 中的高均匀性掺杂;利用二次离子质谱分析(SIMS)、扩展电阻(SRP)、四探针测试等方法,对 P 型杂质 Ga 在 SiO_2薄膜、SiO_2-Si 两固相接触的内界面、近 Si 表面的热分布进行分析;揭示出开管方式扩散 Ga 的实质是由 SiO_2薄膜对 Ga 原子的快速输运及其在 SiO_2-Si 内界面分凝效应两者统一的必然结果;并对该过程 Ga 杂质浓度分布机理进行了分析和讨论。 展开更多
关键词 GA sio2-si结构 浓度分布
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SiO_2/SiC界面对4H-SiC n-MOSFET反型沟道电子迁移率的影响 被引量:4
5
作者 徐静平 吴海平 +1 位作者 黎沛涛 韩弼 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第2期200-205,共6页
提出了一种基于器件物理的 4 H- Si C n- MOSFET反型沟道电子迁移率模型 .该模型包括了界面态、晶格、杂质以及表面粗糙等散射机制的影响 ,其中界面态散射机制考虑了载流子的屏蔽效应 .利用此模型 ,研究了界面态、表面粗糙度等因素对迁... 提出了一种基于器件物理的 4 H- Si C n- MOSFET反型沟道电子迁移率模型 .该模型包括了界面态、晶格、杂质以及表面粗糙等散射机制的影响 ,其中界面态散射机制考虑了载流子的屏蔽效应 .利用此模型 ,研究了界面态、表面粗糙度等因素对迁移率的影响 ,模拟结果表明界面态和表面粗糙度是影响沟道电子迁移率的主要因素 .其中 ,界面态密度决定了沟道电子迁移率的最大值 ,而表面粗糙散射则制约着高场下的电子迁移率 .该模型能较好地应用于器件模拟 . 展开更多
关键词 SIC n—M0sFET sio2/SiC界面 迁移率
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强脉冲X射线辐照Si-SiO_2界面对C-V和I-V特性曲线的影响 被引量:1
6
作者 杨志安 靳涛 +3 位作者 杨祖慎 姚育娟 罗尹虹 戴慧莹 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第2期302-306,共5页
利用强脉冲 X射线对 Si-Si O2 界面进行了辐照 ,测量了 C-V曲线和 I-V曲线。实验发现 ,经过强脉冲 X射线对 Si-Si O2 界面进行的辐照 ,使 C-V曲线产生了正向漂移 ,这一点与低剂量率辐射结果不同 ;辐射后 ,感生 I-V曲线产生畸变 ;特别地 ... 利用强脉冲 X射线对 Si-Si O2 界面进行了辐照 ,测量了 C-V曲线和 I-V曲线。实验发现 ,经过强脉冲 X射线对 Si-Si O2 界面进行的辐照 ,使 C-V曲线产生了正向漂移 ,这一点与低剂量率辐射结果不同 ;辐射后 ,感生 I-V曲线产生畸变 ;特别地 ,从 I-V曲线上还反映出强脉冲 X射线辐照的总剂量效应造成电特性参数明显退化 ,最后甚至失效。讨论了强脉冲 X射线辐照对 Si-Si O2 界面产生损伤的机理 。 展开更多
关键词 强脉冲X射线 Si-sio2界面 辐射损伤 C-V曲线 I-V曲线 损伤机理 MOS器件
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肖特基势垒二极管SiO_2-Si_3N_4复合钝化膜研究 被引量:1
7
作者 石霞 孙俊峰 顾晓春 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2010年第4期344-348,共5页
对Si肖特基势垒二极管的钝化技术进行了研究。研究了不同淀积温度、气体流量、射频功率以及气体压力等工艺技术条件下,淀积PECVD SiO_2和LPCVD Si_3N_4膜的介电强度E、介电常数ε_r、耐压V、针孔密度、漏电流I、内应力σ、片间均匀性以... 对Si肖特基势垒二极管的钝化技术进行了研究。研究了不同淀积温度、气体流量、射频功率以及气体压力等工艺技术条件下,淀积PECVD SiO_2和LPCVD Si_3N_4膜的介电强度E、介电常数ε_r、耐压V、针孔密度、漏电流I、内应力σ、片间均匀性以及片内均匀性等性能。研究了PECVD SiO_2膜的增密技术。提出了一种应力小、漏电流小且抗辐照能力较好的PECVD SiO_2/LPCVD Si_3N_4复合介质膜钝化工艺方法和技术条件,提高了肖特基势垒二极管的性能。 展开更多
关键词 sio2-si3N4复合介质膜 钝化技术 漏电流 应力 增密
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SiO_2-Si界面实现Ga掺杂的研究
8
作者 裴素华 黄萍 程文雍 《稀有金属材料与工程》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2006年第11期1797-1799,共3页
通过原子力显微镜(AFM)、二次离子质谱(SIMS)、扩展电阻(SRP)等方法对Ga在SiO2薄层、SiO2-Si界面的扩散特性进行测试表征与机理分析。其结果表明:源于H2和Ga2O3高温反应新生成的元素Ga,经SiO2薄层的快速吸收和输运,到达SiO2-Si的界面,... 通过原子力显微镜(AFM)、二次离子质谱(SIMS)、扩展电阻(SRP)等方法对Ga在SiO2薄层、SiO2-Si界面的扩散特性进行测试表征与机理分析。其结果表明:源于H2和Ga2O3高温反应新生成的元素Ga,经SiO2薄层的快速吸收和输运,到达SiO2-Si的界面,其吸收-输流量在确定的扩散条件下正比于掺杂时间;Ga在SiO2-Si界面按照固-固扩散原理和凭借在Si内有较高溶解度特性实现了Si体内有效扩散;上述两者的有机结合,使Ga原子通过理想表面扩入硅体,从而得到高均匀性、高重复性的扩散结果。 展开更多
关键词 GA sio2 sio2-si界面 吸收和输运 固-固扩散
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SiO_2-Si_3N_4-SiO_2复合梁谐振式压力传感器结构设计与分析
9
作者 李新 薛阳 李春风 《仪表技术与传感器》 CSCD 北大核心 2015年第8期13-15,共3页
提出了一种采用SiO2-Si3N4-SiO2复合谐振梁结构的谐振式压力传感器。采用有限元分析技术分别对谐振梁和传感器芯片结构进行了电热分析、模态分析以及谐响应分析,最后对SiO2-Si3N4-SiO2复合梁谐振式压力传感器的工艺进行了探讨,表明通过... 提出了一种采用SiO2-Si3N4-SiO2复合谐振梁结构的谐振式压力传感器。采用有限元分析技术分别对谐振梁和传感器芯片结构进行了电热分析、模态分析以及谐响应分析,最后对SiO2-Si3N4-SiO2复合梁谐振式压力传感器的工艺进行了探讨,表明通过多晶硅牺牲层技术能更好地得到Si O2-Si3N4-Si O2复合谐振梁,具有良好的选频特性。 展开更多
关键词 有限元 sio2-si3 N4-sio2复合梁 压力传感器
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P型杂质Ga在SiO_2-Si内界面分凝规律研究
10
作者 裴素华 修显武 +2 位作者 孙海波 周忠平 张晓华 《科学技术与工程》 2003年第1期71-74,共4页
采用开管方式和SiO_2/Si系统,实现了P型杂质Ca在硅中的可控制掺杂。借助二次离子质谱(SIMS)和扩展电阻(SRP)分析方法,对已掺Ga的杂质硅,在二次氧化过程中产生的分凝效应进行了系统研究,首次得出Ga分凝的规律性,导出了Ca在SiO_2-Si内界... 采用开管方式和SiO_2/Si系统,实现了P型杂质Ca在硅中的可控制掺杂。借助二次离子质谱(SIMS)和扩展电阻(SRP)分析方法,对已掺Ga的杂质硅,在二次氧化过程中产生的分凝效应进行了系统研究,首次得出Ga分凝的规律性,导出了Ca在SiO_2-Si内界面Si一侧最低浓度值随时间变化的表达式。为全面理解Ga的扩散特性和建立开管扩Ga模型奠定了基础。 展开更多
关键词 P型杂质 GA sio2-si内界面 分凝效应 掺杂 半导体器件
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碳化硅与LAS(Li_2O-Al_2O_3-SiO_2)界面化学稳定性研究
11
作者 曹涯路 王利 +1 位作者 杨光义 潘颐 《材料科学与工程学报》 CAS CSCD 北大核心 2004年第6期881-885,共5页
借助最新最权威基本的热力学数据 ,按化学平衡理论 ,分析SiC和LAS(Li2 O Al2 O3 SiO2 )之间可能发生的化学反应 ,定量计算在SiC中不同C活度 ,不同温度下SiC和LAS间诸反应各气相产物的分压和分压总和 ,精确分析SiC和LAS界面的热力学稳定... 借助最新最权威基本的热力学数据 ,按化学平衡理论 ,分析SiC和LAS(Li2 O Al2 O3 SiO2 )之间可能发生的化学反应 ,定量计算在SiC中不同C活度 ,不同温度下SiC和LAS间诸反应各气相产物的分压和分压总和 ,精确分析SiC和LAS界面的热力学稳定性 ,提供在一个大气压惰性气体环境下 ,SiC和LAS界面的热力学失稳判据 ,为SiC材料研究者提供可靠的参考资料。 展开更多
关键词 LI2O-AL2O3-sio2 LAS 碳化硅 界面化学 气相 产物 惰性气体 化学平衡理论 热力学稳定性 稳定性研究
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在不同热氧化条件下SiO_2-Si结构的电子辐射效应研究 被引量:2
12
作者 谢茂浓 《四川大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 1998年第3期372-377,共6页
利用2MV电子静电加速器,研究了热氧化工艺与SiO2Si结构的电子辐射效应和辐射损伤机制.结果表明,高能电子辐照SiO2Si结构引起的MOS电容平带电压漂移ΔVfb与SiO2膜厚d2ox成正比.由P型硅为衬底或掺... 利用2MV电子静电加速器,研究了热氧化工艺与SiO2Si结构的电子辐射效应和辐射损伤机制.结果表明,高能电子辐照SiO2Si结构引起的MOS电容平带电压漂移ΔVfb与SiO2膜厚d2ox成正比.由P型硅为衬底或掺氯氧化的SiO2Si结构对电子辐射较敏感;而由磷处理或干N2热退火的SiO2Si结构能有效地降低对电子辐射的敏感性. 展开更多
关键词 电子辐射效应 热氧化 MOS器件 sio2-si结构
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The effects of radiation damage on power VDMOS devices with composite SiO_2-Si_3N_4 films 被引量:1
13
作者 高博 刘刚 +5 位作者 王立新 韩郑生 宋李梅 张彦飞 腾瑞 吴海舟 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2013年第3期393-398,共6页
Total dose effects and single event effects on radiation-hardened power vertical double-diffusion metal oxide semiconductor(VDMOS) devices with composite SiO2-Si3N4 film gates are investigated.The relationships amon... Total dose effects and single event effects on radiation-hardened power vertical double-diffusion metal oxide semiconductor(VDMOS) devices with composite SiO2-Si3N4 film gates are investigated.The relationships among the important electrical parameters of the samples with different thickness SiO2-Si3N4 films,such as threshold voltage,breakdown voltage,and on-state resistance in accumulated dose,are discussed.The total dose experiment results show that the breakdown voltage and the on-state resistance barely change with the accumulated dose.However,the relationships between the threshold voltages of the samples and the accumulated dose are more complex,and not only positively drift,but also negatively drift.At the end of the total dose experiment,we select the group of samples which have the smaller threshold voltage shift to carry out the single event effect studies.We find that the samples with appropriate thickness ratio SiO2-Si3N4 films have a good radiation-hardening ability.This method may be useful in solving both the SEGR and the total dose problems with the composite SiO2-Si3N4 films. 展开更多
关键词 power VDMOS device total dose effects single event effects composite sio2-si3N4 films
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掺纳米SiO_2与掺硅粉的水泥硬化浆体的性能比较 被引量:45
14
作者 陈荣升 叶青 《混凝土》 CAS CSCD 2002年第1期7-10,共4页
作者应用XRD物相分析净浆稠度与凝结时间和硬化浆体强度试验 ,对掺纳米SiO2 与掺硅粉的水泥硬化浆体的性能进行了比较性研究。研究得到 :与掺硅粉的水泥浆体相比 ,掺纳米SiO2 的浆体具有流动性变小和凝结时间缩短的现象 ,掺入纳米SiO2 ... 作者应用XRD物相分析净浆稠度与凝结时间和硬化浆体强度试验 ,对掺纳米SiO2 与掺硅粉的水泥硬化浆体的性能进行了比较性研究。研究得到 :与掺硅粉的水泥浆体相比 ,掺纳米SiO2 的浆体具有流动性变小和凝结时间缩短的现象 ,掺入纳米SiO2 能显著地提高水泥硬化浆体的早期强度 ,能更有效更迅速地吸收界面上富集的氢氧化钙 ,能更有效更大幅度地降低界面氢氧化钙的取向程度。 展开更多
关键词 纳米sio2 氢氧化钙 高性能混凝土 硅酸盐水泥 硬化浆体
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Ga在SiO_2/Si系下的扩散模型与分布规律 被引量:3
15
作者 裴素华 张晓华 +1 位作者 孙海波 于连英 《稀有金属材料与工程》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2005年第6期920-923,共4页
为给出受主杂质Ga通过SiO2/Si系统实现开管掺杂过程的模型描述和Si体内遵循的主要分布规律,利用二次离子质谱分析(SIMS)、薄层电阻(R□)测量方法,对Ga在SiO2/Si系下的扩散特性、硅表面及体内分布进行了系统研究,得出新的结论:(1)Ga在SiO... 为给出受主杂质Ga通过SiO2/Si系统实现开管掺杂过程的模型描述和Si体内遵循的主要分布规律,利用二次离子质谱分析(SIMS)、薄层电阻(R□)测量方法,对Ga在SiO2/Si系下的扩散特性、硅表面及体内分布进行了系统研究,得出新的结论:(1)Ga在SiO2中的固溶度较低而扩散系数很大,故形成线性分布形式,Ga在Si中的溶解度相比SiO2很大,SiO2-Si界面的分凝使其以较高平衡浓度分配入硅中,两者的连续确立了开管扩Ga模型。(2)在严格控制硅片温度TSi、杂质源分解温度TGa2O3、反应气体流量CH2,调整预沉积、再分布及其两者的重复组合,便可在硅内得到任意理想的杂质分布;(3)Ga原子是通过理想表面(SiO2-Si界面)扩散入体内,避免与外界的接触沾污,获得了高均匀性、高重复性的扩散表面及非常平行的平面结。 展开更多
关键词 开管扩Ga模型 分布规律 分凝效应 sio2-si界面
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衬底温度对VUV光直接光CVD SiO_2/Si界面缺陷的影响 被引量:2
16
作者 谢茂浓 杜开瑛 刘玉荣 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 1998年第3期198-201,共4页
研究了VUV(真空紫外)光直接光CVD(化学汽相淀积)SiO2/Si界面微结构缺陷与衬底温度(Ts)的关系。实验结果表明:在32℃~180℃的温度范围内,与Si-O-Si伸缩模相对应的IR峰位随Ts的降低从1060c... 研究了VUV(真空紫外)光直接光CVD(化学汽相淀积)SiO2/Si界面微结构缺陷与衬底温度(Ts)的关系。实验结果表明:在32℃~180℃的温度范围内,与Si-O-Si伸缩模相对应的IR峰位随Ts的降低从1060cm-1增加至1080cm-1。固定氧化物电荷密度(ΔNot)在Ts>120℃后,呈正电性,与位于3.10eV的氧空位缺陷相关;在Ts<100℃一侧,呈负电性,与2.84eV能级位置的过剩氧缺陷相关;而在100℃~120℃间,ΔNot具有极小值,其大小约在1010cm-2数量级。 展开更多
关键词 真空紫外光CVD 界面缺陷 二氧化硅
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应用渐进因子分析法研究SiO_2/Si样品俄歇深度剖析 被引量:1
17
作者 谢舒平 范垂祯 《分析测试学报》 CAS CSCD 1997年第5期5-7,共3页
首次利用渐进因子分析法对SiO2/Si样品俄歇深度剖析过程进行研究,发现SiO2/Si界面处有SiOx成分存在,x值在10~15之间,厚度约为30nm,含量接近50%。Ar+离子束的轰击使得SiO2薄膜内分解产生... 首次利用渐进因子分析法对SiO2/Si样品俄歇深度剖析过程进行研究,发现SiO2/Si界面处有SiOx成分存在,x值在10~15之间,厚度约为30nm,含量接近50%。Ar+离子束的轰击使得SiO2薄膜内分解产生亚稳态SiO2,含量在17%左右。研究结果表明,渐进因子分析法非常适合于俄歇深度剖析的化学态分析。 展开更多
关键词 界面 俄歇电子谱 化学态 硅半导体 二氧化硅
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界面活性Pd/SiO_2催化剂用于水相加氢反应
18
作者 郝雅娟 薛楠 +2 位作者 刘玲玲 张晓明 杨恒权 《中国科技论文》 CAS 北大核心 2018年第6期655-659,713,共6页
将Pd/SiO2进行表面疏水化修饰后,获得具有界面活性的固体催化剂,并以此作为稳定剂成功制备了气体微泡。这种微泡体系可以增加气-液反应界面,减小传质阻力,为水介质中进行的气-液-固多相反应提供了一种高效的催化反应平台。研究表明,与... 将Pd/SiO2进行表面疏水化修饰后,获得具有界面活性的固体催化剂,并以此作为稳定剂成功制备了气体微泡。这种微泡体系可以增加气-液反应界面,减小传质阻力,为水介质中进行的气-液-固多相反应提供了一种高效的催化反应平台。研究表明,与传统的多相反应体系相比,这种微泡催化体系在水相催化烯烃的氢化反应中显示出更高的催化活性。经过7次反应循环,催化剂活性没有明显降低。 展开更多
关键词 物理化学 界面活性Pd/sio2 微泡 多相反应体系 加氢反应
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工艺参数对真空紫外光直接光CVDSiO_2/Si界面特性的影响
19
作者 谢茂浓 杜开瑛 刘玉荣 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 1998年第3期172-175,共4页
采用高频(1MHz)C-V测试和红外谱,研究了工艺参数对Xe激发真空紫外光(VUV)直接光CVDSiO2的SiO2/Si界面特性的影响。结果表明:衬底温度Ts对固定氧化物电荷密度ΔNot、慢界面态密度ΔNst的影响比... 采用高频(1MHz)C-V测试和红外谱,研究了工艺参数对Xe激发真空紫外光(VUV)直接光CVDSiO2的SiO2/Si界面特性的影响。结果表明:衬底温度Ts对固定氧化物电荷密度ΔNot、慢界面态密度ΔNst的影响比反应室总气压Pc和SiH2/O2分压比显著。ΔNot和ΔNst在110°C附近有极小值,大小为1010cm-2量级。Ts>120°C,ΔNot呈正电荷性,Ts<110°C,ΔNot呈负电荷性。Si-O-Si伸缩振动吸收峰位在1060~1080cm-2间,随Ts的减少而增加。 展开更多
关键词 光CVD 半导体 光化学汽相淀积
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Novel SiO2 nanoparticle-decorated BiOCl nanosheets exhibiting high photocatalytic performances for the removal of organic pollutants 被引量:17
20
作者 Changlin Yu Hongbo He +2 位作者 Xingqiang Liu Julan Zeng Zhen Liu 《Chinese Journal of Catalysis》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2019年第8期1212-1221,共10页
Novel SiO2/BiOCl composites were fabricated by decorating BiOCl nanosheets with SiO2 nanoparticles via a simple hydrothermal process. The as-prepared pure BiOCl and SiO2/BiOCl composites were intensively characterized... Novel SiO2/BiOCl composites were fabricated by decorating BiOCl nanosheets with SiO2 nanoparticles via a simple hydrothermal process. The as-prepared pure BiOCl and SiO2/BiOCl composites were intensively characterized by various techniques such as XRD, FT-IR, SEM/TEM, BET, UV-vis, DRS, XPS, and photocurrent measurements. The SiO2/BiOCl composite nanosheets displayed high photocatalytic activity and excellent stability in the degradation of organic pollutants such as phenol, bisphenol A (BPA), and rhodamine B (RhB). With respect to those over bare BiOCl, the degradation rates of RhB, BPA, and phenol over 1.88% SiO2/BiOCl increased 16.5%, 29.0%, and 38.7%, respectively. Radical capturing results suggested that h^+ is the major reactive species and that hydroxyl (·OH) and superoxide (·O2^-) radicals could also be involved in the degradation of organic pollutants. The enhanced photocatalytic performances of SiO2/BiOCl composites can be mainly attributed to the improved texture and the formation of intimate SiO2/BiOCl interfaces, which largely promoted the adsorption of organic pollutants, enhanced the light harvesting, and accelerated the separation of e^– and h^+. 展开更多
关键词 sio2/BiOCl NANOSHEETS Organic pollutant PHOTOCATALYSIS interface
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