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基于RRAM的神经常微分方程网络全模拟架构设计
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作者 孙玉丽 燕博南 +1 位作者 陶耀宇 杨玉超 《集成电路与嵌入式系统》 2025年第10期1-9,共9页
针对神经常微分方程网络推理在冯·诺依曼架构中面临“功耗墙”和“存储墙”瓶颈、在传统存内计算架构中因存在大量数/模、模/数转换而产生过多的时间和功耗开销等问题,提出一种基于RRAM的面向神经常微分方程网络的全模拟存内计算架... 针对神经常微分方程网络推理在冯·诺依曼架构中面临“功耗墙”和“存储墙”瓶颈、在传统存内计算架构中因存在大量数/模、模/数转换而产生过多的时间和功耗开销等问题,提出一种基于RRAM的面向神经常微分方程网络的全模拟存内计算架构,能够实现纯模拟数据流的神经常微分方程网络推理。架构仿真工作在Cadence Virtuoso平台上完成,通过该平台对RRAM器件、阵列及其外围电路进行仿真与分析。架构测试工作基于40 nm工艺的RRAM测试平台和差分输入/输出PCB板,完成整个系统的功能验证。结合测试误差对神经常微分方程网络分类任务进行实验与评估,最终证明了该架构的功能性和可靠性,为后续的硬件实现和应用部署奠定了坚实基础。 展开更多
关键词 rram存内计算 神经常微分方程 全模拟数据流 架构设计
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Enhanced Reliability and Stability of Vanadium Oxide-Based RRAM by Constructing VO_(x)/TiO_(2)/n^(++)Si p-i-n Structure
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作者 WANG Ze ZHOU Xin +1 位作者 ASAD Khaleeq WANG Chunrui 《Journal of Donghua University(English Edition)》 2025年第3期242-250,共9页
Vanadium oxide(VO_(x))has garnered significant attention in the realm of resistive random-access memory(RRAM)owing to its outstanding resistive switching characteristics.However,the ambiguous mechanisms of resistive s... Vanadium oxide(VO_(x))has garnered significant attention in the realm of resistive random-access memory(RRAM)owing to its outstanding resistive switching characteristics.However,the ambiguous mechanisms of resistive switching and inferior stability hinder its practical applications.Herein,an RRAM named VO_(x)/TiO_(2)/n^(++)Si device is prepared.It displays bipolar resistive switching behavior and shows superior cycle endurance(>200),a significantly high on/off ratio(>10^(2))and long-term stability.The tremendous improvement in the stability of the VO_(x)/TiO_(2)/n^(++)Si device compared with the Cu/VOx/n^(++)Si device is due to the p-i-n structure of VO_(x)/TiO_(2)/n^(++)Si.The switching mechanism of the VO_(x)/TiO_(2)/n^(++)Si device is attributed to the growth and annihilation of Cu conductive filaments. 展开更多
关键词 vanadium oxide bipolar resistive switching p-i-n junction resistive random-access memory(rram) titanium dioxide double-layer structure
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基于分区再训练的RRAM阵列多缺陷容忍算法
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作者 王梦可 杨朝晖 +1 位作者 查晓婧 夏银水 《计算机应用研究》 CSCD 北大核心 2024年第10期3068-3072,共5页
针对RRAM单元制造工艺不完善造成神经网络矩阵向量乘法计算错误问题,根据RRAM阵列多缺陷特性进行建模,提出了多缺陷容忍算法。首先根据RRAM阵列常见的转变缺陷和粘连缺陷对神经网络计算准确度的影响,对两种缺陷统一建模;然后对神经网络... 针对RRAM单元制造工艺不完善造成神经网络矩阵向量乘法计算错误问题,根据RRAM阵列多缺陷特性进行建模,提出了多缺陷容忍算法。首先根据RRAM阵列常见的转变缺陷和粘连缺陷对神经网络计算准确度的影响,对两种缺陷统一建模;然后对神经网络进行划分,基于改进的知识蒸馏方式进行分区训练;最后选择适配的损失函数加入归一化层,进一步优化算法。在MNIST和Cifar-10数据集上进行实验,结果表明该方法在多个神经网络上能够得到98%以上的恢复率,说明该方法可有效降低RRAM阵列多缺陷对神经网络计算准确度的影响。 展开更多
关键词 rram阵列 缺陷容忍 神经网络 知识蒸馏
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基于ATE与结构分析的RRAM芯片测试技术研究 被引量:3
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作者 奚留华 徐昊 +2 位作者 张凯虹 武乾文 王一伟 《电子与封装》 2024年第7期36-42,共7页
为了测试阻变存储器(RRAM)芯片,基于RRAM芯片的基本结构、接口定义、功能,分析并总结了其性能、工作模式和芯片时序。通过公式计算与实测技术相结合的方法,测定了RRAM芯片的容量。结果表明,基于结构分析的公式计算可依据RRAM存储单元的... 为了测试阻变存储器(RRAM)芯片,基于RRAM芯片的基本结构、接口定义、功能,分析并总结了其性能、工作模式和芯片时序。通过公式计算与实测技术相结合的方法,测定了RRAM芯片的容量。结果表明,基于结构分析的公式计算可依据RRAM存储单元的间距推导出RRAM芯片的容量。利用自动测试系统对RRAM芯片进行功能验证。同时,设计了1款RRAM芯片耐久性测试装置,全面评估了RRAM芯片的擦写性能。 展开更多
关键词 rram芯片 ATE 测试算法 结构分析
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基于28 nm RRAM的可重构真随机数发生器
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作者 宋长坤 郑彩萍 陈铖颖 《浙江大学学报(工学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2024年第7期1516-1523,共8页
基于阻变存储器(RRAM)电流饥饿型环形振荡器的真随机数发生器(TRNG)方案,提出交替读写的操作模式,优化熵源重构机制.针对现有RRAM在多操作周期下跨导线性化问题,提出熵可配置电阻窗口钳位电路.通过减小电阻窗口获得RRAM非线性的最大化,... 基于阻变存储器(RRAM)电流饥饿型环形振荡器的真随机数发生器(TRNG)方案,提出交替读写的操作模式,优化熵源重构机制.针对现有RRAM在多操作周期下跨导线性化问题,提出熵可配置电阻窗口钳位电路.通过减小电阻窗口获得RRAM非线性的最大化,所提电路能够有效避免RRAM出现过度置位、过度复位的现象,保证熵源稳定性.基于UMC 28 nm HKMG工艺对TRNG进行流片.输出数据统计性测试结果通过了NIST SP800-22所有测试集的真随机数标准测试.检测结果表明,在高斯分布的95%置信区间,所有统计数据的自相关函数值均落在-0.003~0.003,输出序列具有良好的随机性. 展开更多
关键词 阻变存储器(rram) 真随机数发生器(TRNG) 熵源 电流饥饿型环形振荡器 跨导线性
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Stable switching behavior of low-temperature ZrO_(2)RRAM devices realized by combustion synthesis-assisted photopatterning
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作者 Bongho Jang Junil Kim +2 位作者 Jieun Lee Jaewon Jang Hyuk-Jun Kwon 《Journal of Materials Science & Technology》 SCIE EI CAS CSCD 2024年第22期68-76,共9页
We have realized efficient photopatterning and high-quality ZrO_(2)films through combustion synthesis and manufactured resistive random access memory(RRAM)devices with excellent switching stability at low temperatures... We have realized efficient photopatterning and high-quality ZrO_(2)films through combustion synthesis and manufactured resistive random access memory(RRAM)devices with excellent switching stability at low temperatures(250℃)using these approaches.Combustion synthesis reduces the energy required for oxide conversion,thus accelerating the decomposition of organic ligands in the UV-exposed area,and promoting the formation of metal-oxygen networks,contributing to patterning.Thermal analysis confirmed a reduction in the conversion temperature of combustion precursors,and the prepared combustion ZrO_(2)films exhibited a high proportion of metal-oxygen bonding that constitutes the oxide lattice,along with an amorphous phase.Furthermore,the synergistic effect of combustion synthesis and UV/O_(3)-assisted photochemical activation resulted in patterned ZrO_(2)films forming even more complete metal-oxygen networks.RRAM devices fabricated with patterned ZrO_(2)films using combustion synthesis exhibited excellent switching characteristics,including a narrow resistance distribution,endurance of 103 cycles,and retention for 105 s at 85℃,despite low-temperature annealing.Combustion synthesis not only enables the formation of high-quality metal oxide films with low external energy but also facilitates improved photopatterning. 展开更多
关键词 ZrO_(2) Combustion SOL-GEL rram PATTERNING
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Biodegradable and flexible i-carrageenan based RRAM with ultralow power consumption
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作者 卞景垚 陶冶 +4 位作者 王中强 赵晓宁 林亚 徐海阳 刘益春 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2024年第2期21-27,共7页
Transient memories,which can physically disappear without leaving traceable remains over a period of normal operation,are attracting increasing attention for potential applications in the fields of data security and g... Transient memories,which can physically disappear without leaving traceable remains over a period of normal operation,are attracting increasing attention for potential applications in the fields of data security and green electronics.Resistive random access memory(RRAM)is a promising candidate for next-generation memory.In this context,biocompatible l-carrageenan(l-car),extracted from natural seaweed,is introduced for the fabrication of RRAM devices(Ag/l-car/Pt).Taking advantage of the complexation processes between the functional groups(C–O–C,C–O–H,et al.)and Ag metal ions,a lower migration barrier of Ag ions and a high-speed switching(22.2 ns for SET operation/26 ns for RESET operation)were achieved,resulting in an ultralow power consumption of 56 fJ.And the prepared Ag/l-car/Pt RRAM devices also revealed the capacities of multilevel storage and flexibility.In addition,thanks to the hydrophilic groups of l-car molecule,the RRAM devices can be rapidly dissolved in deionized(DI)water within 13 minutes,showing excellent transient characteristics.This work demonstrates that l-car based RRAM devices have great potential for applications in secure storage applications,flexible electronics and transient electronics. 展开更多
关键词 rram transient electronics i-carrageenan ultralow power consumption
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缺陷对RRAM材料阻变机理的影响 被引量:1
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作者 杨金 代月花 +5 位作者 徐太龙 蒋先伟 许会芳 卢金龙 罗京 陈军宁 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第17期2481-2485,共5页
基于密度泛函理论(DFT)的第一性原理和VASP仿真软件,分析了阻变随机存储器(RRAM)阻变效应的物理机制。对比计算了单斜晶相HfO2中Ag掺杂体系、氧空位缺陷体系和Ag及氧空位缺陷共掺杂复合缺陷体系的能带、态密度、分波电荷态密度面和形成... 基于密度泛函理论(DFT)的第一性原理和VASP仿真软件,分析了阻变随机存储器(RRAM)阻变效应的物理机制。对比计算了单斜晶相HfO2中Ag掺杂体系、氧空位缺陷体系和Ag及氧空位缺陷共掺杂复合缺陷体系的能带、态密度、分波电荷态密度面和形成能,结果表明在相同浓度下Ag掺杂体系能形成导电通道,而氧空位缺陷体系不能形成导电通道;共掺杂体系中其阻变机制以Ag传导为主,氧空位缺陷为辅,且其形成能变小,体系更加稳定。计算共掺杂体系的布居数和迁移势垒,得出在氧空位缺陷存在的前提下,Ag—O键长明显增加,Ag离子的迁移势垒变小,电化学性能增强。进一步计算了缺陷间的相互作用能,其值为负,表明缺陷间具有相互缔合作用,体系更加稳定。 展开更多
关键词 VASP 阻变效应 缺陷 导电通道 rram
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基于带符号位的浮点数运算的多位宽3D RRAM设计 被引量:1
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作者 王兴华 王天 +1 位作者 王乾 李潇然 《北京理工大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2022年第12期1299-1304,共6页
本文介绍了卷积神经网络(convolutional neutral network,CNN)系统中具有多位存储的三维阻变式存储器(threedimensional resistive random-access memory,3D RRAM)的带符号位的浮点数运算.与其他类型存储器相比,3D RRAM可以在存储器内... 本文介绍了卷积神经网络(convolutional neutral network,CNN)系统中具有多位存储的三维阻变式存储器(threedimensional resistive random-access memory,3D RRAM)的带符号位的浮点数运算.与其他类型存储器相比,3D RRAM可以在存储器内部进行运算,且具有更高的读取速率和更低的能耗,为解决冯诺依曼架构的瓶颈问题提供新方案.单个RRAM单元的最大和最小电阻分别达到10 GΩ和10 MΩ,可在多级电阻状态下稳定,以存储多比特位宽的数据.测试结果表明,带符号位的浮点数的卷积运算系统的精度可以达到99.8%,测试中3D RRAM模型的峰值读取速度为0.529 MHz. 展开更多
关键词 3D rram 存算一体 带符号位的浮点数卷积运算 多级电阻 峰值读取速度
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一种基于斯坦福RRAM模型的参数提取方法
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作者 孙海燕 张硕 +1 位作者 张晓波 戴澜 《半导体技术》 CAS 北大核心 2022年第8期670-675,共6页
阻变随机存取存储器(RRAM)是一种新型非易失性存储器件,比主流的闪存(Flash)器件具有更快的读/写速度、更低的编程电压和功耗。然而由于工艺不成熟等因素,RRAM准确的器件模型需要在已有的斯坦福物理模型基础上,对多达6个曲线拟合参数反... 阻变随机存取存储器(RRAM)是一种新型非易失性存储器件,比主流的闪存(Flash)器件具有更快的读/写速度、更低的编程电压和功耗。然而由于工艺不成熟等因素,RRAM准确的器件模型需要在已有的斯坦福物理模型基础上,对多达6个曲线拟合参数反复进行调整,具有一定的建模难度。提出了一种简并参数的建模方法,通过器件实测数据计算出其中4个曲线拟合参数I_(0)、g_(0)、γ_(0)、β。该方法大大降低了将物理模型适配为实际模型的建模难度,且由于基于实测数据,该建模方法理论上对不同工艺具有适配性。最后在不同工艺条件下制作了基于HfO_(x)材料的RRAM器件,并验证了该方法的有效性、先进性和准确性。 展开更多
关键词 阻变随机存取存储器(rram) 非易失性存储器 器件模型 HfOx材料 导电细丝理论
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Low-cost dual-stage offset-cancelled sense amplifier with hybrid read reference generator for improved read performance of RRAM at advanced technology nodes
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作者 Qiao Wang Donglin Zhang +4 位作者 Yulin Zhao Chao Liu Xiaoxin Xu Jianguo Yang Hangbing Lv 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 2021年第8期60-65,共6页
In this work,two process-variation-tolerant schemes for a current-mode sense amplifier(CSA)of RRAM were proposed:(1)hybrid read reference generator(HRRG)that tracks process-voltage-temperature(PVT)variations and solve... In this work,two process-variation-tolerant schemes for a current-mode sense amplifier(CSA)of RRAM were proposed:(1)hybrid read reference generator(HRRG)that tracks process-voltage-temperature(PVT)variations and solve the nonlinear issue of the RRAM cells;(2)a two-stage offset-cancelled current sense amplifier(TSOCC-SA)with only two capacitors achieves a double sensing margin and a high tolerance of device mismatch.The simulation results in 28 nm CMOS technology show that the HRRG can provide a read reference that tracks PVT variations and solves the nonlinear issue of the RRAM cells.The proposed TSOCC-SA can tolerate over 64% device mismatch. 展开更多
关键词 rram double sensing margin device mismatch cancellation nonlinearity of rram resistance hybrid reference-cell
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基于RRAM PUF的轻量级RFID认证协议 被引量:2
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作者 陈飞鸿 张锋 +1 位作者 陈军宁 吴秀龙 《计算机工程与应用》 CSCD 北大核心 2021年第1期141-149,共9页
针对当前轻量级的射频识别(RFID)加密方案信息防护手段有限的问题,结合由阻变存储器(RRAM)构成的物理不可克隆函数(PUF),提出了一种新型的轻量级RFID双向认证协议。利用多级响应加密机制实现阅读器与标签之间的安全认证处理。结合RRAM ... 针对当前轻量级的射频识别(RFID)加密方案信息防护手段有限的问题,结合由阻变存储器(RRAM)构成的物理不可克隆函数(PUF),提出了一种新型的轻量级RFID双向认证协议。利用多级响应加密机制实现阅读器与标签之间的安全认证处理。结合RRAM PUF模型,采用了特殊的纠错处理方法提高PUF响应的可靠性并阻止了信息泄露。此外添加了密钥更新机制和异常攻击标识,抵御了追踪攻击和去同步攻击等威胁。经仿真、分析和对比结果表明,该协议可以有效抵抗多种攻击手段,具有较高的安全性和较低的计算成本。 展开更多
关键词 射频识别(RFID) 阻变存储器(rram) 物理不可克隆函数(PUF) 安全认证协议 轻量级
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RRAM的氧空位与金属细丝机制SPM的比较 被引量:2
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作者 李丛飞 傅兴华 +1 位作者 李良荣 赵海臣 《微纳电子技术》 CAS 北大核心 2014年第1期24-29,共6页
应用扫描探针显微镜(SPM)技术实现了氧化物阻变薄膜局部区域高低阻态的互相转变。通过电激励、编程和擦除等操作,控制细丝的产生和断裂,实现了阻变薄膜局域的重复编程/擦除操作。用该方法分别研究了氧空位机制与金属导电细丝机制的氧化... 应用扫描探针显微镜(SPM)技术实现了氧化物阻变薄膜局部区域高低阻态的互相转变。通过电激励、编程和擦除等操作,控制细丝的产生和断裂,实现了阻变薄膜局域的重复编程/擦除操作。用该方法分别研究了氧空位机制与金属导电细丝机制的氧化物薄膜的阻变特性,对两种机制做了对比研究。结果表明:在阻变存储器(RRAM)中氧空位机制在导电细丝和数据密度方面要高于金属细丝机制。同时,金属细丝机制阻变薄膜部分区域因编程/擦除操作发生了永久性形貌变化,可能对阻变器件的电极产生永久性破坏,这说明氧空位机制阻变薄膜在未来的高密度存储上具有较好的应用前景。 展开更多
关键词 阻变存储器(rram) 导电原子力显微镜(CAFM) 扫描探针显微镜(SPM) 阻变机制 氧空位机制 金属细丝机制
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用于高密度RRAM单端式可编程灵敏放大器设计 被引量:1
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作者 马文龙 张锋 +1 位作者 杨红官 陈铖颖 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2013年第10期735-739,共5页
针对现代科技生活中对高密度阻变存储器(RRAM)的应用需求,提出了一种单端式可编程灵敏放大器结构。该灵敏放大器结构无需额外的参考电路,从而避免了参考电流受工艺、温度等条件波动对读出结果的影响。通过在电路中引入可编程模式,使该... 针对现代科技生活中对高密度阻变存储器(RRAM)的应用需求,提出了一种单端式可编程灵敏放大器结构。该灵敏放大器结构无需额外的参考电路,从而避免了参考电流受工艺、温度等条件波动对读出结果的影响。通过在电路中引入可编程模式,使该灵敏放大器结构能够有效克服工艺偏差对存储单元能否正确存储信息的影响,从而实现存储信息的正确读出。该灵敏放大器基于HHNEC 0.13μmCMOS工艺设计实现,并且成功应用于8 Mbit RRAM设计中,通过后仿真验证,结果表明,在2~32μA电流范围内,灵敏放大器最小分辨率可达1μA。 展开更多
关键词 阻变存储器(rram 单端式 可编程 灵敏放大器 阈值电压
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1T1R结构RRAM的故障可测性设计 被引量:2
15
作者 陈传兵 许晓欣 +1 位作者 李晓燕 李颖弢 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2018年第5期388-393,400,共7页
阻变随机存储器(RRAM)中存在的故障严重影响产品的可靠性和良率。采用精确高效的测试方法能有效缩短工艺优化周期,降低测试成本。基于SMIC 28 nm工艺平台,完成了1T1R结构的1 Mbit RRAM模块的流片。详细分析了测试中的故障响应情况,并... 阻变随机存储器(RRAM)中存在的故障严重影响产品的可靠性和良率。采用精确高效的测试方法能有效缩短工艺优化周期,降低测试成本。基于SMIC 28 nm工艺平台,完成了1T1R结构的1 Mbit RRAM模块的流片。详细分析了测试中的故障响应情况,并定义了一种故障识别表达式。在March算法的基础上,提出针对RRAM故障的有效测试算法,同时设计了可以定位故障的内建自测试(BIST)电路。仿真结果表明,该测试方案具有占用引脚较少、测试周期较短、故障定位准确、故障覆盖率高的优势。 展开更多
关键词 1T1R结构 阻变随机存储器(rram) 内建自测试(BIST) 故障类型 测试算法 故障定位
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基于木马的方式增强RRAM计算系统的安全性 被引量:1
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作者 邹敏辉 周俊龙 +1 位作者 孙晋 汪成亮 《软件学报》 EI CSCD 北大核心 2021年第8期2457-2468,共12页
基于新型存储器件RRAM的计算系统因为能够在内存中执行矩阵点乘向量运算而受到广泛的关注.然而,RRAM计算系统的安全性却未受到足够的重视.攻击者通过访问未授权的RRAM计算系统,进而以黑盒攻击的方式来获取存储于RRAM计算系统中的神经网... 基于新型存储器件RRAM的计算系统因为能够在内存中执行矩阵点乘向量运算而受到广泛的关注.然而,RRAM计算系统的安全性却未受到足够的重视.攻击者通过访问未授权的RRAM计算系统,进而以黑盒攻击的方式来获取存储于RRAM计算系统中的神经网络模型.以阻止此种攻击为目标,所提出的防御方法是基于良性木马,即当RRAM计算系统未授权时,系统中的木马极容易被激活,进而影响系统的输出预测准确性,从而保证系统不能正常运行;当RRAM计算系统被授权时,系统中的木马极难被误激活,从而系统能够正常运行.实验结果表明,该方法能够使未授权的RRAM计算系统的输出预测准确性降低至15%以下,并且硬件开销小于系统中RRAM硬件的4.5%. 展开更多
关键词 rram计算系统 木马 安全
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增强RRAM可靠性的热通量压缩算法 被引量:1
17
作者 项中元 张锋 《北京航空航天大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第5期992-998,共7页
为提高阻变存储器(RRAM)的可靠性,研究了RRAM中的热串扰问题,提出了一种热通量压缩(TFC)算法,通过在RRAM读写电路之前加入TFC算法,降低在RRAM中产生的焦耳热,从而减弱RRAM中的热串扰问题,提高RRAM的可靠性。TFC算法通过分析计算写入数... 为提高阻变存储器(RRAM)的可靠性,研究了RRAM中的热串扰问题,提出了一种热通量压缩(TFC)算法,通过在RRAM读写电路之前加入TFC算法,降低在RRAM中产生的焦耳热,从而减弱RRAM中的热串扰问题,提高RRAM的可靠性。TFC算法通过分析计算写入数据流产生的真实焦耳热热量进而判断是否对写入数据流进行翻转编码,即TFC算法会在原始写入数据流和翻转编码数据流二者中选择热通量较小者通过算法层,从而达到减小RRAM存储器中焦耳热热量的目的。理论分析和仿真结果表明:以字节为单位数据块条件下TFC算法平均可降低30%以上的写入焦耳热,阻变单元的保持时间估值平均增加了35%以上。 展开更多
关键词 阻变存储器(rram) 焦耳热 热串扰 保持时间 热通量压缩(TFC)算法
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一种基于RRAM热串扰的奇偶重排编码算法 被引量:1
18
作者 李云 张锋 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2018年第4期26-31,共6页
阻变存储器(resistive random access memory,RRAM)作为未来一种高性能的非挥发性存储器,具有面积小、操作电压低、兼容性好等特点.但是,在高集成存储器和频繁的写操作下,热串扰问题会严重影响RRAM的保持特性.严重情况下,热串扰问题甚... 阻变存储器(resistive random access memory,RRAM)作为未来一种高性能的非挥发性存储器,具有面积小、操作电压低、兼容性好等特点.但是,在高集成存储器和频繁的写操作下,热串扰问题会严重影响RRAM的保持特性.严重情况下,热串扰问题甚至会造成一系列的错误翻转.因此,本文引入了一种高效的奇偶重排编码算法(parity rearrangement coding scheme,PRCoder)来有效缓解热串扰对RRAM的影响,并在算法层和电路层上分别进行设计与仿真.试验结果表明,PRCoder算法平均降低了32.7%的误翻转率,并同时只会在每一个存储行带来1bit的额外开销.此外,PRCoder仅仅带来0.3%的性能增加和0.008%的面积增加. 展开更多
关键词 rram 热串扰 奇偶重排 算法
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金属掺杂改善HfO_(2)阻变存储器(RRAM)氧空位导电细丝性能 被引量:2
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作者 王菲菲 代月花 +4 位作者 卢文娟 鲁世斌 汪海波 万丽娟 蒋先伟 《材料科学与工程学报》 CAS CSCD 北大核心 2021年第3期445-451,共7页
本研究采用金属掺杂的方式调控氧空位导电细丝的电子结构以获得更好的器件性能。计算了HfO_(2)体系中四组氧空位的形成能,得到V_(O4)-V_(O23)-V_(O34)-V_(O46)最易形成的氧空位簇;分波电荷态密度进一步表明在[010]晶向上电荷聚集形成导... 本研究采用金属掺杂的方式调控氧空位导电细丝的电子结构以获得更好的器件性能。计算了HfO_(2)体系中四组氧空位的形成能,得到V_(O4)-V_(O23)-V_(O34)-V_(O46)最易形成的氧空位簇;分波电荷态密度进一步表明在[010]晶向上电荷聚集形成导电通道。另外,研究了Ag、Mg、Ni、Cu、Al、Ta、Ti掺杂对该缺陷体系电子结构的影响,显示Ni与其它金属相比,在共缺陷体系中最易形成,体系最稳定;V_(O)-Ni共缺陷体系中导电细丝最均匀,最高等势面值最大,证明导电细丝最易形成;V_(O)-Ni之间相互作用能为-2.335eV,表明缺陷相互吸引;金属Ni具有很强的局域电子能力。 展开更多
关键词 阻变存储器 氧空位 导电细丝 掺杂 第一性原理
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基于RRAM的运用MIG逻辑设计的加法器电路 被引量:3
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作者 刘文楷 范冬宇 +1 位作者 戴澜 张锋 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2017年第12期50-54,共5页
本文采用SMIC 0.18μm CMOS工艺,设计了一种基于阻变随机存储器(RRAM)的加法器电路.区别于传统的蕴含逻辑(IMP)型加法器,本设计选取新型的多数表决器逻辑(Majority-Inverter Graph,MIG)实现加法运算.文中设计并验证了基于MIG逻辑的一位... 本文采用SMIC 0.18μm CMOS工艺,设计了一种基于阻变随机存储器(RRAM)的加法器电路.区别于传统的蕴含逻辑(IMP)型加法器,本设计选取新型的多数表决器逻辑(Majority-Inverter Graph,MIG)实现加法运算.文中设计并验证了基于MIG逻辑的一位全加器的全部运算,证明了新逻辑在存储器计算方面的可行性.与传统RRAM一位全加器相比较,本设计的一位全加器因为采用新的逻辑方法使得RRAM多个单元可以并行进行数据操作,从而减少了运算步骤,及原有冗长运算引起的误差,有效提高了运算速度,为存储器内部计算提供了新的思路. 展开更多
关键词 阻变随机存储器 多数表决器逻辑 存储器计算 加法器
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