组合逻辑多故障诊断 被引量：4

1

作者 梁玉英 蔡金燕 +1 位作者 封吉平 黄允华 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2000年第3期185-187,192,共4页

通过对布尔差分法的剖析 ,得到了组合电路单固定故障测试生成的简化方法。该方法不必进行异或运算 ,只须求解恒等式就能得到组合逻辑电路的测试矢量。多故障的测试码产生可以对高阶布尔差分经过变换 ,转化为一阶布尔差分来处理 ,从而极... 通过对布尔差分法的剖析 ,得到了组合电路单固定故障测试生成的简化方法。该方法不必进行异或运算 ,只须求解恒等式就能得到组合逻辑电路的测试矢量。多故障的测试码产生可以对高阶布尔差分经过变换 ,转化为一阶布尔差分来处理 ,从而极大地减少了多故障测试生成的计算工作量。 展开更多

关键词 数字电路 组合电路 故障诊断

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基于布尔偏导数的组合电路双故障检测的新方法 被引量：3

2

作者 余党军 陈偕雄 《浙江大学学报（理学版）》 CAS CSCD 2003年第5期536-538,共3页

分析了布尔偏导数与布尔差分的关系,给出了基于布尔偏导数的组合电路双故障测试集的方程,引入了奇集合的概念.在此基础上提出了基于布尔偏导数的组合电路双故障检测的新方法.实例表明该方法具有思路清晰、操作简单及易于掌握的优点.

关键词 组合电路 双故障检测 布尔偏导数 布尔差分 奇集合 检测方法 数字电路

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P+P:同步时序电路的并行码和并行故障模拟器 被引量：2

3

作者 陈后鹏 吕原 +1 位作者 石志钢 林争辉 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 1998年第1期76-79,共4页

开发的一个新的快速故障模拟器Ｐ＋Ｐ．该模拟器使用了并行码与并行故障模拟算法，实现了同步时序电路故障模拟的两路并行性．采用了全局故障分组、锥形操作、电路级化及改进的组号ＩＤ等技术．Ｐ＋Ｐ已在ＳＵＮＳＰＡＲＣ－２工作站上... 开发的一个新的快速故障模拟器Ｐ＋Ｐ．该模拟器使用了并行码与并行故障模拟算法，实现了同步时序电路故障模拟的两路并行性．采用了全局故障分组、锥形操作、电路级化及改进的组号ＩＤ等技术．Ｐ＋Ｐ已在ＳＵＮＳＰＡＲＣ－２工作站上实现，运行了大部分的ＩＳＣＡＳＢｅｎｃｈｍａｒｋ同步时序电路．最后给出了实验结果． 展开更多

关键词 并行码 并行故障模拟器 逻辑电路 同步时序电路

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随机测试中的最优输入信号概率分布 被引量：3

4

作者 向东 张钻 《计算机学报》 EI CSCD 北大核心 1991年第3期233-235,共3页

1.问题的提出和一些概念 在测试过程中,如果要测图1(a)所示输入端的故障,在这些输入端的信号中希望至少有n-1个“1”信号,而当要测试如图1(b)所示的n-输入“或”门时,则需要至少n-1个“0”信号。 有人曾经对一个10-输入“与”门作过一... 1.问题的提出和一些概念 在测试过程中,如果要测图1(a)所示输入端的故障,在这些输入端的信号中希望至少有n-1个“1”信号,而当要测试如图1(b)所示的n-输入“或”门时,则需要至少n-1个“0”信号。 有人曾经对一个10-输入“与”门作过一次实验,当各“与”门输入端信号概率为0. 展开更多

关键词 测试 概率分布 输入信号 逻辑电路

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一阶布尔差分在组合逻辑电路测试生成中的应用 被引量：1

5

作者 欧阳一鸣 杜晓荣 梁兴琦 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 1999年第1期38-41,共4页

文章给出了一阶布尔差分的几种求法，并对这几种方法进了分析、比较，进而通过具体逻辑电路阐述如何用布尔差分及其性质迅速求出逻辑电路的单故障测试集。

关键词 布尔差分 逻辑电路 测试 数字电路

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同步时序电路测试生成研究 被引量：1

6

作者 何新华 宫云战 吕昌龄 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 1997年第2期175-181,共7页

本文分析了固定故障所反映出的状态变换特征，提出状态变换故障模型。基于无复位时序电路，详细研究了有复位状态的同步电路测试生成问题及在无复位电路中的应用。

关键词 同步时序电路 测试 逻辑电路

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控制输入跟踪算法和测试衍生算法 被引量：1

7

作者 曾成碧 苗虹 王健波 《系统工程与电子技术》 EI CSCD 2000年第12期19-20,40,共3页

以组合电路的满足性测试生成算法为基础 ,提出了控制输入跟踪算法和测试衍生算法。控制输入跟踪算法从源输出开始 ,根据一定的指导策略 ,向源输入搜索 ,在搜索过程中生成一条临界路径 ,该路径中全部的故障可以用满足临界条件的输入向量... 以组合电路的满足性测试生成算法为基础 ,提出了控制输入跟踪算法和测试衍生算法。控制输入跟踪算法从源输出开始 ,根据一定的指导策略 ,向源输入搜索 ,在搜索过程中生成一条临界路径 ,该路径中全部的故障可以用满足临界条件的输入向量来测试。测试衍生则利用一个测试的信息 ,通过临界路径变换衍生一系列新的测试。这两种算法嵌入测试生成的满足性算法中 ,大大减少了故障 ,压缩了CNF的构成时间和搜索空间。 展开更多

关键词 测试衍生算法 组合电路 控制输入跟踪算法

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单链扫描可测性设计中存储元件的排序 被引量：1

8

作者 叶波 郑增钰 《计算机学报》 EI CSCD 北大核心 1995年第8期598-603,共6页

本文提出了扫描设计中存储元件在扫描链中的最优排序方法．采用文迭测试体制和区间法能快速求出最优解．对于确定的测试向量集，用该方法构造的扫描链能使电路总的测试时间最少．

关键词 扫描设计 存储元件 时序电路 测试

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OBDD在组合逻辑电路测试中的应用研究

9

作者 吕宗伟 张镭 林争辉 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2000年第6期374-377,394,共5页

由于传统的组合电路测试方法 ,如 D算法、PODEM算法和 FAN算法等 ,在搜索过程中都不可避免地要进行反向回溯 ,因此严重地影响了算法的效率。而 OBDD是一种表示和操纵布尔函数的有效方法 ,用 OBDD来表示电路中每个节点所代表的逻辑函数 ... 由于传统的组合电路测试方法 ,如 D算法、PODEM算法和 FAN算法等 ,在搜索过程中都不可避免地要进行反向回溯 ,因此严重地影响了算法的效率。而 OBDD是一种表示和操纵布尔函数的有效方法 ,用 OBDD来表示电路中每个节点所代表的逻辑函数 ,可以把反向回溯过程转换为 OBDD的 satisfiability问题 ,从而避免了反向回溯过程 ,加快了故障测试的速度。同时 ,OBDD在测试矢量集的生成以及 necessary assignment的确定中也显示出一定的优越性。 展开更多

关键词 组合逻辑电路 OBDD 电路测试

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时序逻辑电路故障的一种检测方法

10

作者 高泽涵 黄岚 《现代电子技术》 1999年第7期4-6,共3页

阐述了时序逻辑电路的故障检测序列集的生成和验证方法，说明了主要包括：状态描述，检测序列生成，模拟验证。其中检测序列集的生成和检验最为重要，只要得到经过检验的检测序列集，那么顺序地向待测电路施加检测序列，并逐次测量电路... 阐述了时序逻辑电路的故障检测序列集的生成和验证方法，说明了主要包括：状态描述，检测序列生成，模拟验证。其中检测序列集的生成和检验最为重要，只要得到经过检验的检测序列集，那么顺序地向待测电路施加检测序列，并逐次测量电路的响应，就可以达到电路故障检测的目的。 展开更多

关键词 时序电路 状态表 后继树 电路模拟 逻辑电路

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提高边界扫描电路延迟故障被测度的有效技术

11

作者 彭新光 《国外电子测量技术》 1998年第5期33-34,共2页

本文提出了一种用于边界扫描易测试设计电路中锁存器排序算法,并借助于ATPG自动测试矢量生成工具生成通路延迟故障测试集。其算法已用C语言在工作站上实现,故障模拟结果表明,排序算法明显地改善了延迟测试质量。

关键词 边界扫描电路 延迟故障 故障被测度 逻辑电路

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一种生成组合电路故障测试集的方法

12

作者 张端仪 《华东船舶工业学院学报》 1993年第3期86-91,共6页

本文介绍笔者提出的一种通过寻找临界最小项获得故障检测测试集的方法.这种方法与故障表法、布尔差分法及D算法不同,只需进行普通的加、减运算及求集合的交等.而且全部计算均采用人们熟悉的十进制数.最后.还介绍了实现这种方法的计算机... 本文介绍笔者提出的一种通过寻找临界最小项获得故障检测测试集的方法.这种方法与故障表法、布尔差分法及D算法不同,只需进行普通的加、减运算及求集合的交等.而且全部计算均采用人们熟悉的十进制数.最后.还介绍了实现这种方法的计算机运行输出结果. 展开更多

关键词 计算机 故障检测 组合电路

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加速路径时滞故障的强健测试产生

13

作者 赵振峰 李晓维 吴良芝 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 1996年第4期288-294,共7页

探讨如何利用针对固定型故障测试产生的比较成熟的算法，结合时滞故障的特点，进行路径时滞故障的强健测试产生。在十值逻辑完备性的基础上，提出最大输入值组的概念，减少测试过程中不完善和重复的选择；给出多路回退过程中的目标传播... 探讨如何利用针对固定型故障测试产生的比较成熟的算法，结合时滞故障的特点，进行路径时滞故障的强健测试产生。在十值逻辑完备性的基础上，提出最大输入值组的概念，减少测试过程中不完善和重复的选择；给出多路回退过程中的目标传播规则，以减少传播过程中的目标个数，加快回退速度；改进了路径敏化方法，强调了对局部结果的保存和利用，减少重复计算；探讨了时滞测试中ＸＯＲ／ＮＸＯＲ门的直接处理方法；在ＦＡＮ算法基础上，实现了一个实验性路径时滞故障测试产生系统，并给出实验结果。 展开更多

关键词 逻辑电路 故障 测试 路径时滞

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采用FAN算法的组合电路测试生成系统

14

作者 王新玲 王占宁 《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心 1991年第2期46-50,共5页

鉴于测试产生的重要性和可测性设计技术尚未完善,测试生成系统的研究仍很重要。FAN 算法是近年来提出的比以往的测试码产生方法更加有效的一种算法。本文给出一个组合电路测试生成系统CCTGS,用FAN 算法产生测试码,采用并行故障模拟、故... 鉴于测试产生的重要性和可测性设计技术尚未完善,测试生成系统的研究仍很重要。FAN 算法是近年来提出的比以往的测试码产生方法更加有效的一种算法。本文给出一个组合电路测试生成系统CCTGS,用FAN 算法产生测试码,采用并行故障模拟、故障模型为单固定故障。该系统从使用者提供的电路描述和用户参数文件出发,能求得在给定测试序列下所获得的故障覆盖率,也可求出给定电路的完全测试集,系统在VAX-11机上运行。 展开更多

关键词 FAN算法 组合电路 测试 生成系统

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逻辑电路故障诊断的专家系统

15

作者 孙少辰 吴海明 《河北工业大学学报》 CAS 1999年第1期72-74,共3页

利用专家系统的原理、结构以及其在不同领域应用的特点，对逻辑电路中与非门故障进行诊断，给出了用人工智能语言ＴｕｒｂｏＰｒｏｌｏｇ实现基于产生式规则的逻辑电路故障诊断专家系统的步骤；在逻辑电路与非门故障知识库的树形结构图... 利用专家系统的原理、结构以及其在不同领域应用的特点，对逻辑电路中与非门故障进行诊断，给出了用人工智能语言ＴｕｒｂｏＰｒｏｌｏｇ实现基于产生式规则的逻辑电路故障诊断专家系统的步骤；在逻辑电路与非门故障知识库的树形结构图、数据流图的基础上，设计出最终程序模块和规则组织的结构图；通过实例对该系统进行使用说明。 展开更多

关键词 逻辑电路 专家系统 知识库 推理机 故障诊断

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利用门延时特性处理组合电路的测试问题

16

作者 张中 魏道政 《计算机学报》 EI CSCD 北大核心 1992年第9期717-720,共4页

1.引言 为了解决数字电路的测试问题,国内外不少专家学者已经做了大量的研究工作,比如在测试产生方法的研究成果中,有布尔差分法、D算法、PODEM算法、FAN算法、主路径敏化法等。虽然已经取得很大进展。

关键词 组合电路 测试 门延时

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数字逻辑电路实验机的研制

17

作者 王国宪 王振宇 《实验室研究与探索》 CAS 1996年第1期76-78,共3页

数字逻辑电路实验机的研制合肥电子工程学院王国宪，王振宇我们实验室的数字逻辑实验仪是八十年代初购买的北京无线电学校的产品，该仪器供学生做实验的电源只有＋５Ｖ一种，实验器件品种与数量少，而且位置固定。随着器件和技术的飞速... 数字逻辑电路实验机的研制合肥电子工程学院王国宪，王振宇我们实验室的数字逻辑实验仪是八十年代初购买的北京无线电学校的产品，该仪器供学生做实验的电源只有＋５Ｖ一种，实验器件品种与数量少，而且位置固定。随着器件和技术的飞速发展，数字逻辑电路实验内容不断更新... 展开更多

关键词 数字逻辑电路 实验机 研制 数字电路

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两端驱动存在时差的ECL传输线

18

作者 彭心炯 胡军 《计算机工程与科学》 CSCD 1999年第1期57-60,共4页

本文给出传输线两端驱动器的跃变存在时差时的信号传输图解方法。用该方法求出了ＥＣＬ电路“线或”连接时的一些波形，它们与用示波器实测的结果一致。

关键词 传输线 ECL电路 逻辑电路 测试

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组合电路内部故障及多故障测试

19

作者 欧阳一鸣 《合肥工业大学学报（自然科学版）》 CAS CSCD 1999年第1期116-119,共4页

给出了用一阶布尔差分法的扩展来求组合电路内部单故障测试集的方法；同时也讨论了如何用高阶布尔差分法来求组合电路的多故障测试集，进而给出了求组合电路双重故障测试集的４个公式。

关键词 单故障 多故障 组合电路 故障测试 逻辑电路

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ISP-PLD器件在数字逻辑电路实验中的应用

20

作者 刘国范 陈永红 《黑龙江大学自然科学学报》 CAS 2000年第3期63-65,共3页

通过对数字逻辑电路演示装置的研制，介绍采用在系统可编程逻辑器件ＩＳＰ—ＰＬＤ和ＩＳＰ－Ｓｙｎａｒｉｏ ｓｙｓｔｅｍ开发软件对数字逻辑系统进行层次化的设计方法和应用的重要特点。

关键词 在系统 层次结构

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