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微波半导体器件S参数的测量
被引量：
3
1
作者
周春林
《宇航计测技术》
CSCD
北大核心
1989年第3期24-29,共6页
本文介绍了用重新计算系统误差参数的方法来实现夹具误差修正的基本原理,详细介绍了应用HP85014A有源器件测量软件的主程序,通过研制加工测试夹具和编写相应的修正夹具误差的子程序,以实现测量多种不同外型尺寸的器件的方法。本文给出...
本文介绍了用重新计算系统误差参数的方法来实现夹具误差修正的基本原理,详细介绍了应用HP85014A有源器件测量软件的主程序,通过研制加工测试夹具和编写相应的修正夹具误差的子程序,以实现测量多种不同外型尺寸的器件的方法。本文给出了编写修正夹具误差子程序的方框图及在设计和使用测试夹具中应考虑的几个问题。最后给出了用我们新设计的测试夹具和相应的夹具误差修正软件得到的测量结果与用HP85041A夹具和HP85014A软件得到的测量结果的对比。
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关键词
半导体器件
微波
S参数
测量
在线阅读
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职称材料
微波晶体管噪声参数CAT
2
作者
陈玲
侯露莹
《电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1997年第4期382-386,共5页
介绍了一种测量微波晶体管噪声参数的方法，并用矢量网络分析仪和噪声系数测试仪组建了一套自动测试系统。在系统软件的控制下，该系统可对微波晶体管噪声参数进行快速、准确的测量；并给出了部分测试结果，还与厂家典型值进行了比较。
关键词
微波晶体管
噪声参数
自动测试系统
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职称材料
大信号有源器件S参数测试方法研究
3
作者
邱伟
蒋敬旗
高学邦
《半导体情报》
1997年第3期24-27,共4页
利用ＨＰ８５１０自动网络分析仪小信号测试系统，研究实现了大信号Ｓ参数的测试方法，并建立了大信号Ｓ参数测试系统。研究设计的适应多种尺寸的有源测试夹具和整个系统的误差修正方法。
关键词
大信号
有源器件
S参数
测试方法
微波功率器件
在线阅读
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职称材料
用超短光脉冲测量半导体微波器件的S参数
4
作者
袁树忠
潘家齐
+2 位作者
吕福云
范万德
李献元
《中国激光》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1998年第6期495-499,共5页
描述了用超短光脉冲测量微波器件Ｓ参数的基本原理和建立的测量系统。用该系统测量了频率高达３６ＧＨｚ器件的Ｓ参数，并同网络分析仪的测量结果进行了比较，一致性很好。该系统测量频率可达１００ＧＨｚ。
关键词
超短光脉冲
光导开关
S参数
半导体微波器件
原文传递
题名
微波半导体器件S参数的测量
被引量：
3
1
作者
周春林
机构
机械电子工业部十三所十三室
出处
《宇航计测技术》
CSCD
北大核心
1989年第3期24-29,共6页
文摘
本文介绍了用重新计算系统误差参数的方法来实现夹具误差修正的基本原理,详细介绍了应用HP85014A有源器件测量软件的主程序,通过研制加工测试夹具和编写相应的修正夹具误差的子程序,以实现测量多种不同外型尺寸的器件的方法。本文给出了编写修正夹具误差子程序的方框图及在设计和使用测试夹具中应考虑的几个问题。最后给出了用我们新设计的测试夹具和相应的夹具误差修正软件得到的测量结果与用HP85041A夹具和HP85014A软件得到的测量结果的对比。
关键词
半导体器件
微波
S参数
测量
分类号
TN385.07 [电子电信—物理电子学]
在线阅读
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职称材料
题名
微波晶体管噪声参数CAT
2
作者
陈玲
侯露莹
机构
电子科技大学微波中心
出处
《电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1997年第4期382-386,共5页
基金
国家"八五"重点科研项目
文摘
介绍了一种测量微波晶体管噪声参数的方法，并用矢量网络分析仪和噪声系数测试仪组建了一套自动测试系统。在系统软件的控制下，该系统可对微波晶体管噪声参数进行快速、准确的测量；并给出了部分测试结果，还与厂家典型值进行了比较。
关键词
微波晶体管
噪声参数
自动测试系统
Keywords
humidity
films
alumina
humidity sensor
anodic spark deposition
分类号
TN385.07 [电子电信—物理电子学]
在线阅读
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职称材料
题名
大信号有源器件S参数测试方法研究
3
作者
邱伟
蒋敬旗
高学邦
机构
电子工业部第十三研究所
出处
《半导体情报》
1997年第3期24-27,共4页
基金
电子工业部重点测量课题经费资助
文摘
利用ＨＰ８５１０自动网络分析仪小信号测试系统，研究实现了大信号Ｓ参数的测试方法，并建立了大信号Ｓ参数测试系统。研究设计的适应多种尺寸的有源测试夹具和整个系统的误差修正方法。
关键词
大信号
有源器件
S参数
测试方法
微波功率器件
Keywords
Large signal Active device S parameter Measurement
分类号
TN385.07 [电子电信—物理电子学]
在线阅读
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职称材料
题名
用超短光脉冲测量半导体微波器件的S参数
4
作者
袁树忠
潘家齐
吕福云
范万德
李献元
机构
南开大学现代光学研究所国家教委光学信息技术科学开放实验室
出处
《中国激光》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1998年第6期495-499,共5页
基金
"863"计划光电子主题
国家自然科学基金
文摘
描述了用超短光脉冲测量微波器件Ｓ参数的基本原理和建立的测量系统。用该系统测量了频率高达３６ＧＨｚ器件的Ｓ参数，并同网络分析仪的测量结果进行了比较，一致性很好。该系统测量频率可达１００ＧＨｚ。
关键词
超短光脉冲
光导开关
S参数
半导体微波器件
Keywords
ultrashort optical pulses, photoconduction switch, S parameter
分类号
TN385.07 [电子电信—物理电子学]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
微波半导体器件S参数的测量
周春林
《宇航计测技术》
CSCD
北大核心
1989
3
在线阅读
下载PDF
职称材料
2
微波晶体管噪声参数CAT
陈玲
侯露莹
《电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1997
0
在线阅读
下载PDF
职称材料
3
大信号有源器件S参数测试方法研究
邱伟
蒋敬旗
高学邦
《半导体情报》
1997
0
在线阅读
下载PDF
职称材料
4
用超短光脉冲测量半导体微波器件的S参数
袁树忠
潘家齐
吕福云
范万德
李献元
《中国激光》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1998
0
原文传递
已选择
0
条
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引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
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