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Co/C/Si(100)结构固相外延生长CoSi_2 被引量:1
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作者 屈新萍 徐蓓蕾 +4 位作者 茹国平 李炳宗 W.Y.Cheung S.P.Wong Paul K.Chu 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第1期63-67,共5页
采用 Co/C/Si多层薄膜结构的中间层诱导固相外延方法在 Si(10 0 )上制备外延 Co Si2 薄膜 .用四探针电阻仪、XRD、AES、RBS等分析手段对该结构固相反应形成的薄膜的电学特性、组分、晶体结构等进行了表征 .结果表明 ,Co/C/Si多层结构经... 采用 Co/C/Si多层薄膜结构的中间层诱导固相外延方法在 Si(10 0 )上制备外延 Co Si2 薄膜 .用四探针电阻仪、XRD、AES、RBS等分析手段对该结构固相反应形成的薄膜的电学特性、组分、晶体结构等进行了表征 .结果表明 ,Co/C/Si多层结构经快速热退火 ,可以在 Si(10 0 )衬底上得到导电性能和高温稳定性良好的 Co Si2 薄膜 .C层的加入阻碍了 Co和 Si的互扩散和互反应 ,从而促进了 Co Si2 在硅衬底上的外延 . 展开更多
关键词 固相反应 固相外延 金属硅化物 二硅化钴 中间层诱导
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紫膜LB膜中的三波混频和前向相位共轭 被引量:1
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作者 章献民 叶险峰 陈抗生 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 1994年第3期282-284,302,共4页
在纯紫膜LB膜中实现了三波混频和光学前向相位共轭输出,分析了前向共轭光强度和信号光、泵浦光强度的关系,估算出了紫膜LB膜非线性折射率n2=3.8X10-6m2/W。实验还观察到了高次光学非线性输出。
关键词 菌紫质 LB膜 光学相位共轭 紫膜LB膜
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溅射方式对NbN薄膜结构及热稳定性的影响 被引量:1
3
作者 张宏森 丁明惠 +1 位作者 张丽丽 蒋保江 《材料科学与工程学报》 CAS CSCD 北大核心 2010年第3期458-462,共5页
用射频磁控溅射和直流磁控溅射的方法分别在Si(100)衬底和Cu膜间制备了30nm的NbN薄膜,Cu/NbN/Si样品在高纯氮气保护下退火至700℃。用四探针电阻测试仪(FPP)、AFM、SEM、XRD、AES研究了溅射方式对NbN薄膜扩散阻挡性能的影响。退火前XRD... 用射频磁控溅射和直流磁控溅射的方法分别在Si(100)衬底和Cu膜间制备了30nm的NbN薄膜,Cu/NbN/Si样品在高纯氮气保护下退火至700℃。用四探针电阻测试仪(FPP)、AFM、SEM、XRD、AES研究了溅射方式对NbN薄膜扩散阻挡性能的影响。退火前XRD结果表明,直流溅射制备的NbN薄膜为典型的晶态结构,射频溅射制备的薄膜为典型的非晶态结构。高温退火后的XRD、SEM、FPP、AES研究结果表明非晶态结构的NbN薄膜有更好的扩散阻挡性能,700℃时仍能很好地阻挡Cu原子的扩散。 展开更多
关键词 NbN薄膜 扩散阻挡层 CU互连 磁控溅射
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薄膜工艺制备乳酸传感器
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作者 饶能高 奚日辉 +2 位作者 李华清 王利 蔡新霞 《仪表技术与传感器》 CSCD 北大核心 2004年第12期6-7,46,共3页
薄膜工艺制备的传感器具有体积小、性能可靠、成本低等优点 ,在电化学传感器的微型化、集成化方面应用广泛。在薄膜工艺制备的微电极上固定乳酸氧化酶 ,制备出高性能的乳酸传感器 ,该传感器用于血清中乳酸的测定 ,其灵敏度和线性范围分... 薄膜工艺制备的传感器具有体积小、性能可靠、成本低等优点 ,在电化学传感器的微型化、集成化方面应用广泛。在薄膜工艺制备的微电极上固定乳酸氧化酶 ,制备出高性能的乳酸传感器 ,该传感器用于血清中乳酸的测定 ,其灵敏度和线性范围分别为 4 5 0nA/mM ,0 5~ 10mM线性相关系数为0 988;响应时间≤ 30s. 展开更多
关键词 薄膜工艺 铂黑颗粒 电化学修饰 乳酸传感器
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Ni/Pd/Si固相反应及NiSi热稳定性增强研究
5
作者 屈新萍 茹国平 +2 位作者 李炳宗 C.Detavernier R.Van Meirhaeghe 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第11期1173-1177,共5页
研究了 Ni/ Pd双层薄膜在硅衬底上的硅化物形成过程 .结果表明 ,加入 Pd层后 ,退火形成 Ni1 - x Pdx Si固熔体 ,该固熔体比 Ni Si的热稳定性好 ,使得 Ni Si向 Ni Si2 的转变温度升高 .加入 Pd的量越多 ,Ni Si2 的成核温度越高 ,并用经... 研究了 Ni/ Pd双层薄膜在硅衬底上的硅化物形成过程 .结果表明 ,加入 Pd层后 ,退火形成 Ni1 - x Pdx Si固熔体 ,该固熔体比 Ni Si的热稳定性好 ,使得 Ni Si向 Ni Si2 的转变温度升高 .加入 Pd的量越多 ,Ni Si2 的成核温度越高 ,并用经典成核理论解释了该现象 . 展开更多
关键词 NISI 成核 固熔体 热稳定性 硅化镍 集成电路 镍钯硅三元化合物 Ni/Pd/Si固相反应
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应用厚缓冲层实现蓝宝石上高质量AlN外延层的MOCVD生长
6
作者 李艳炯 赵红 +2 位作者 赵文伯 叶嗣荣 杨晓波 《半导体光电》 CAS 北大核心 2015年第3期412-416,共5页
在蓝宝石衬底上采用由低温AlN成核层、中温AlN生长层、温度渐变AlN生长层和高温AlN生长层组成的厚三维生长缓冲层来实现AlN外延层位错密度的减少和应力的释放。用光学显微镜、原子力显微镜(AFM)及X射线衍射仪对样品进行了表征,结果表明... 在蓝宝石衬底上采用由低温AlN成核层、中温AlN生长层、温度渐变AlN生长层和高温AlN生长层组成的厚三维生长缓冲层来实现AlN外延层位错密度的减少和应力的释放。用光学显微镜、原子力显微镜(AFM)及X射线衍射仪对样品进行了表征,结果表明所生长外延层表面无裂纹,并显示出清晰的阶梯流表面形貌,其平均粗糙度为0.160nm,KOH腐蚀坑密度为5.8×108 cm-2,(0002)和(10-12)回摆曲线FWHM分别为210″和396″。详细论述了AlN外延层的生长模式、位错行为和应力释放途径。 展开更多
关键词 ALN MOCVD 原子力显微镜 X射线衍射
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立方GaAs(100)衬底上制备单相六方GaN薄膜 被引量:4
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作者 孙一军 李爱珍 齐鸣 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第3期313-316,共4页
立方 Ga As (10 0 )衬底上制备的 Ga N薄膜多为立方结构且立方相为亚稳相 ,采用水平常压 MOCVD方法在立方 Ga As (10 0 )衬底上制备出了 Ga N薄膜 . XRD测试表明 ,薄膜具有单一的相 .结合对工艺条件的分析 ,认为薄膜具有六方结构 .最后 ... 立方 Ga As (10 0 )衬底上制备的 Ga N薄膜多为立方结构且立方相为亚稳相 ,采用水平常压 MOCVD方法在立方 Ga As (10 0 )衬底上制备出了 Ga N薄膜 . XRD测试表明 ,薄膜具有单一的相 .结合对工艺条件的分析 ,认为薄膜具有六方结构 .最后 ,通过 Raman光谱测试 ,证实在立方 Ga As衬底上制备出了单相六方 Ga N薄膜 .还对立方 Ga As衬底上制备出六方 Ga 展开更多
关键词 金属有机化学气相沉积 氮化镓 砷化镓衬底 薄膜
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超薄纳米晶Zr-N扩散阻挡性能及其热稳定性的研究 被引量:2
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作者 丁明惠 张丽丽 +1 位作者 盖登宇 王颖 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第9期1545-1548,共4页
用射频反应磁控溅射的方法在Si(100)衬底和Cu膜间制备了25nm的纳米晶Zr-N阻挡层,Cu/Zr-N/Si样品在高纯氮气保护下退火至700℃。用四探针电阻测试仪(FPP)、AFM、SEM、XRD、AES研究了溅射参数对Zr-N薄膜电阻率和扩散阻挡性能的影响。实验... 用射频反应磁控溅射的方法在Si(100)衬底和Cu膜间制备了25nm的纳米晶Zr-N阻挡层,Cu/Zr-N/Si样品在高纯氮气保护下退火至700℃。用四探针电阻测试仪(FPP)、AFM、SEM、XRD、AES研究了溅射参数对Zr-N薄膜电阻率和扩散阻挡性能的影响。实验结果表明,N2分压从20%增加到25%,电阻率快速增高;溅射偏压不同,Zr-N的结构可由非晶态结构转变为纳米晶。纳米晶Zr-N阻挡层650℃退火1h后仍能有效地阻止Cu的扩散。 展开更多
关键词 Zr-N纳米晶 扩散阻挡层 CU互连 射频反应磁控溅射
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磁控溅射温度对Zr-N薄膜扩散阻挡性能的影响 被引量:1
9
作者 丁明惠 张宏森 +1 位作者 张丽丽 王颖 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第10期1612-1614,共3页
在不同的沉积温度下,用射频反应磁控溅射的方法在Si(100)衬底和Cu膜间制备了Zr-N阻挡层。用四探针电阻测试仪(FPP)、AFM、XRD、AES研究了沉积温度对Zr-N薄膜扩散阻挡性能的影响。沉积态的XRD、AFM结果表明,随着沉积温度的升高,Zr-N薄膜... 在不同的沉积温度下,用射频反应磁控溅射的方法在Si(100)衬底和Cu膜间制备了Zr-N阻挡层。用四探针电阻测试仪(FPP)、AFM、XRD、AES研究了沉积温度对Zr-N薄膜扩散阻挡性能的影响。沉积态的XRD、AFM结果表明,随着沉积温度的升高,Zr-N薄膜的结构由非晶态向晶态转变,晶粒的尺寸增大;650℃退火后的FPP、XRD、AES的对比结果说明沉积温度的升高有利于提高Zr-N薄膜的扩散阻挡性能。 展开更多
关键词 Zr-N薄膜 扩散阻挡层 CU互连 射频反应磁控溅射
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MBE生长轻掺硅GaAs材料光荧光谱杂质特性研究 被引量:1
10
作者 牛智川 黎健 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 1996年第2期133-136,共4页
采用低温光荧光谱测试方法,研究了MBE生长的轻掺硅GaAs材料的杂质特性,并结合Hall测量结果,讨论了MBE关键生长条件Ⅴ/Ⅲ束流比等对Si在GaAs中掺杂特性的影响,研究表明掺杂元素Si在GaAs中起两性(施主或... 采用低温光荧光谱测试方法,研究了MBE生长的轻掺硅GaAs材料的杂质特性,并结合Hall测量结果,讨论了MBE关键生长条件Ⅴ/Ⅲ束流比等对Si在GaAs中掺杂特性的影响,研究表明掺杂元素Si在GaAs中起两性(施主或受主)杂质作用,适当提高Ⅴ/Ⅲ束流比可以抑制Si的自补偿效应,从而减小载流子的补偿度,进一步提高迁移率。通过优化生长条件,本实验已获得了杂质浓度小于1012cm-3,77K下迁移率大于1.6×105cm2/V·s的高纯、高迁移率GaAs材料。 展开更多
关键词 光荧光 掺杂 分子束外延 MBE生长 砷化镓
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光敏蛋白菌紫质分子及其在光信息处理中的应用
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作者 王从健 章献民 陈抗生 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 1996年第1期23-28,59,共7页
有机高分子和生物分子材料近年来在分子、光子器件的研究中已引起了广泛重视。文章介绍其中一种新型光敏蛋白分子──紫膜菌紫质的结构和光致色变特性,重点阐述了其在全息干涉测量术和实时模式识别等光子器件和系统中的应用。
关键词 光子器件 生物半导体 菌紫质 光信息处理
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BSQ-Ⅰ型钯管氢气净化器温控线路的改进
12
作者 曾德胜 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 1993年第4期388-390,共3页
分析了外购氢气净化器的不足,对其温控线路进行了改进。改进后的氢气净化器,故障少、可靠性高、电路工作范围宽,维修方便。
关键词 氢气净化器 温度控制 半导体基片
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印度生物芯片研究获重要突破
13
作者 王瑞明 《全球科技经济瞭望》 1999年第7期43-43,共1页
关键词 印度 生物芯片 计算机硬件 研究
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Integral蛋白质半导体器件特性研究
14
作者 雷鸣亮 温殿忠 《黑龙江大学自然科学学报》 CAS 1996年第4期62-66,共5页
在分析蛋白质半导体特性的基础上,提出了细胞膜中IntegralProtein的半导体器件模型,并给出了它的等效电路图。结果表明,在硅固态半导体材料上制造的PN结二极管仅具备细胞膜的一部分电功能。
关键词 蛋白质 半导体特性 细胞膜 等效电路 禁带宽度
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核苷酸纳米管
15
作者 TariqMalik 王永升 《科学(中文版)》 2003年第2期14-14,共1页
关键词 核苷酸纳米管 制造 有机纳米管 鸟嘌呤 胞嘧啶
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菌紫质分子─—未来蛋白质光生物材料
16
作者 钱霞 杨检华 《世界科学》 1999年第3期19-21,共3页
关键词 菌紫质分子 蛋白质 光生物材料 菌紫质膜
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走向通用化的扭曲衬底
17
《激光与光电子学进展》 CSCD 1999年第8期24-25,共2页
关键词 通用化 扭曲衬底 外延生长 Ⅲ-Ⅳ族 半导体材料
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