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单发实验测量软X射线多层膜反射镜反射特性
被引量:
2
1
作者
王伟
倪元龙
+7 位作者
万炳根
孙今人
吴江
王琛
孙玉琴
周关林
顾援
王世绩
《强激光与粒子束》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001年第5期525-528,共4页
提出了一种单发实验测量软 X射线波段多层膜反射镜反射特性的简易方法。实验采用激光等离子体软 X射线源作为光源 ,用平焦场光栅谱仪分光 ,在光路中引入掠入射镜以消除高级次谱的影响 ,用软 X光 CCD记录 ,在一发激光打靶实验中 ,测量了...
提出了一种单发实验测量软 X射线波段多层膜反射镜反射特性的简易方法。实验采用激光等离子体软 X射线源作为光源 ,用平焦场光栅谱仪分光 ,在光路中引入掠入射镜以消除高级次谱的影响 ,用软 X光 CCD记录 ,在一发激光打靶实验中 ,测量了设计中心波长为 1 3 .9nm的
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关键词
Mo/Si多层膜反射镜
反射率
软X射线
激光等离子体
场光栅谱仪
测量
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职称材料
题名
单发实验测量软X射线多层膜反射镜反射特性
被引量:
2
1
作者
王伟
倪元龙
万炳根
孙今人
吴江
王琛
孙玉琴
周关林
顾援
王世绩
机构
上海激光等离子体研究所高功率激光物理国家实验室
出处
《强激光与粒子束》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001年第5期525-528,共4页
基金
国家 8 63激光技术领域资助课题 (863 -4 10 -3 .3
文摘
提出了一种单发实验测量软 X射线波段多层膜反射镜反射特性的简易方法。实验采用激光等离子体软 X射线源作为光源 ,用平焦场光栅谱仪分光 ,在光路中引入掠入射镜以消除高级次谱的影响 ,用软 X光 CCD记录 ,在一发激光打靶实验中 ,测量了设计中心波长为 1 3 .9nm的
关键词
Mo/Si多层膜反射镜
反射率
软X射线
激光等离子体
场光栅谱仪
测量
Keywords
Light reflection
Mirrors
分类号
TN249.25 [电子电信—物理电子学]
O432.2 [机械工程—光学工程]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
单发实验测量软X射线多层膜反射镜反射特性
王伟
倪元龙
万炳根
孙今人
吴江
王琛
孙玉琴
周关林
顾援
王世绩
《强激光与粒子束》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001
2
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