光电关联显微镜技术(Correlative light and electron microscopy, CLEM)将光学显微镜的颜色分辨能力和大视场与电子显微镜的高分辨率相结合,弥补了各自成像的局限,能获得更全面准确的定位及结构信息。本文提出了一种基于超景深光学显...光电关联显微镜技术(Correlative light and electron microscopy, CLEM)将光学显微镜的颜色分辨能力和大视场与电子显微镜的高分辨率相结合,弥补了各自成像的局限,能获得更全面准确的定位及结构信息。本文提出了一种基于超景深光学显微镜与场发射扫描电子显微镜(SEM)的光电关联与样品定位技术,用于解决SEM在样品定位过程中效率低、耗时长的问题。通过超景深光学显微镜的快速全景成像与颜色识别能力,结合高精度坐标转换算法,实现了目标区域的快速定位与SEM的高分辨率成像。实验结果表明,该技术显著提高了样品定位效率,大大缩短了定位时间,同时保持了良好的定位与成像精度。本研究为材料科学、生命科学等领域的大尺寸或复杂颜色分布样品的快速分析提供了有效解决方案。展开更多
扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope, SEM)的图像质量高度依赖于扫描电路输出信号的精度与稳定性。而现有研究对扫描信号至图像质量的影响仍缺乏深入分析。基于此,首先建立了从扫描信号到图像质量的传递机制,分析了扫描信号...扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope, SEM)的图像质量高度依赖于扫描电路输出信号的精度与稳定性。而现有研究对扫描信号至图像质量的影响仍缺乏深入分析。基于此,首先建立了从扫描信号到图像质量的传递机制,分析了扫描信号性能指标对图像影响;然后,通过高精度数字万用表与示波器对实际扫描信号进行精准测量,并结合端点拟合法进行数据处理,从而量化了场扫描与行扫描信号在512×512像素模式下误差水平;进一步通过MATLAB仿真各类误差对标准网格图像的影响,并导入实测信号数据,评估其在实际成像中的表现。研究表明,扫描信号整体线性性能良好,中心区域平均误差为1.884像素,优于边缘区域的2.749像素。展开更多
透射电子显微电镜(Transmission Electron Microscopy, TEM)是临床医学病理诊断和科研生物样品超微结构观察的重要工具。制备符合电镜观察要求的高质量样品是电镜观察的前提,本文对实验动物和细胞样品取材和固定操作中的注意事项和要求...透射电子显微电镜(Transmission Electron Microscopy, TEM)是临床医学病理诊断和科研生物样品超微结构观察的重要工具。制备符合电镜观察要求的高质量样品是电镜观察的前提,本文对实验动物和细胞样品取材和固定操作中的注意事项和要求进行了讨论和总结,以期为准备做电镜观察的研究者做参考。展开更多
文摘光电关联显微镜技术(Correlative light and electron microscopy, CLEM)将光学显微镜的颜色分辨能力和大视场与电子显微镜的高分辨率相结合,弥补了各自成像的局限,能获得更全面准确的定位及结构信息。本文提出了一种基于超景深光学显微镜与场发射扫描电子显微镜(SEM)的光电关联与样品定位技术,用于解决SEM在样品定位过程中效率低、耗时长的问题。通过超景深光学显微镜的快速全景成像与颜色识别能力,结合高精度坐标转换算法,实现了目标区域的快速定位与SEM的高分辨率成像。实验结果表明,该技术显著提高了样品定位效率,大大缩短了定位时间,同时保持了良好的定位与成像精度。本研究为材料科学、生命科学等领域的大尺寸或复杂颜色分布样品的快速分析提供了有效解决方案。
文摘扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope, SEM)的图像质量高度依赖于扫描电路输出信号的精度与稳定性。而现有研究对扫描信号至图像质量的影响仍缺乏深入分析。基于此,首先建立了从扫描信号到图像质量的传递机制,分析了扫描信号性能指标对图像影响;然后,通过高精度数字万用表与示波器对实际扫描信号进行精准测量,并结合端点拟合法进行数据处理,从而量化了场扫描与行扫描信号在512×512像素模式下误差水平;进一步通过MATLAB仿真各类误差对标准网格图像的影响,并导入实测信号数据,评估其在实际成像中的表现。研究表明,扫描信号整体线性性能良好,中心区域平均误差为1.884像素,优于边缘区域的2.749像素。
文摘透射电子显微电镜(Transmission Electron Microscopy, TEM)是临床医学病理诊断和科研生物样品超微结构观察的重要工具。制备符合电镜观察要求的高质量样品是电镜观察的前提,本文对实验动物和细胞样品取材和固定操作中的注意事项和要求进行了讨论和总结,以期为准备做电镜观察的研究者做参考。
