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一种基于光三角法的激光测振仪 被引量:5
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作者 张文伟 庄葆华 张吉华 《光电工程》 CAS CSCD 1999年第3期53-57,共5页
介绍了一种基于光三角法的激光非接触测振仪,对激光测振仪的结构参数的优化设计进行了分析。研制的激光测振仪的主要技术参数为工作距离 40m m ~2m ,测量范围 2~50m m ,测量分辨力 2~20μm ,频率响应 0~3k ... 介绍了一种基于光三角法的激光非接触测振仪,对激光测振仪的结构参数的优化设计进行了分析。研制的激光测振仪的主要技术参数为工作距离 40m m ~2m ,测量范围 2~50m m ,测量分辨力 2~20μm ,频率响应 0~3k Hz。 展开更多
关键词 激光振动测量 光三角法 激光非接触测量
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激光扫描形状自动检测仪及其误差分析 被引量:1
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作者 张国玉 安志勇 +3 位作者 张从周 赵铁钧 李成志 高玉军 《激光与红外》 CAS CSCD 北大核心 1997年第2期88-91,共4页
叙述了一种用于对回转体类零件形状进行自动非接触测量的激光扫描形状自动检测仪的总体结构及基本原理,并对其主要误差进行了理论分析,对仪器设计和提高仪器的测量精度起到了一定的作用。
关键词 激光扫描 误差分析 形状 自动检测仪
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激光振动测量的发展与展望 被引量:3
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作者 曾为 陈培峰 朱明珠 《光机电信息》 2005年第5期16-19,共4页
激光振动检测是激光测量技术的重要应用之一。本文综述了激光振动方法中的散斑法、光三角法、干涉法及全息法,并分析了其各自的发展状况和特点,指出了激光振动测量目前亟待解决的问题和今后的发展趋势。
关键词 激光振动测量 展望 激光测量技术 振动检测 振动方法 光三角法 发展状况 发展趋势 散斑法 全息法 干涉法
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激光吸收光谱成象技术探讨 被引量:1
4
作者 施柏煊 龚健 缪进 《光谱仪器与分析》 1995年第3期1-5,共5页
本文叙述以激光光声(光热)光谱技术为基础的一种吸收光谱成象技术。指出其显示的灰度编码象除了可直观地显示物质表面的吸收均匀性,识别可能存在的杂质外,还可检测到次表面的缺陷、杂质等。实验初步论证了以激光为光源的方案具有高的信... 本文叙述以激光光声(光热)光谱技术为基础的一种吸收光谱成象技术。指出其显示的灰度编码象除了可直观地显示物质表面的吸收均匀性,识别可能存在的杂质外,还可检测到次表面的缺陷、杂质等。实验初步论证了以激光为光源的方案具有高的信噪比,并分别以输出10mw 的 He—Ne 激光和输出3w 的 CO_2激光为光源,获得了表征单晶硅园盘切片表面吸收特性的信号振幅象。 展开更多
关键词 吸收光谱 光热效应 成象 激光
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大型机械平面度激光检测仪及精度分析 被引量:1
5
作者 魏乐林 戴书华 杨大弘 《长春光学精密机械学院学报》 1999年第2期33-36,共4页
本文详细分析了激光平面度检测仪的误差来源, 从理论和实践两方充分论证了该仪器检测数据的可靠性, 并指出了仪器进一步改进的方向, 为该类仪器的设计和精度分析提供了范例。
关键词 平面度 精度分析 激光检测仪 机械
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用激光振动测量技术检查心脏跳动
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作者 王恺宜 《光机电信息》 2006年第8期43-43,共1页
关键词 激光振动测量 技术检查 心脏 跳动 振动测量技术 光学技术 监测方法 激光多普勒 非接触式 试验研究
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激光测量仪信号的形成
7
作者 А.,Е 李绍贵 《国外计量》 1989年第3期 18-19,共2页
关键词 激光测量仪 信号 形成
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关于小角前向散射激光测粒仪准则数X的讨论 被引量:6
8
作者 沈建琪 王乃宁 《中国激光》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第10期891-896,共6页
在激光测粒仪的设计和数据处理过程中,都采用了无因次准则数X=1.357。之后,为了降低激光测粒仪的测量下限,经典的Mie散射理论在激光测粒仪的设计中得到了应用。讨论了在利用Mie光散射理论时,无因次准则数X的取值及其... 在激光测粒仪的设计和数据处理过程中,都采用了无因次准则数X=1.357。之后,为了降低激光测粒仪的测量下限,经典的Mie散射理论在激光测粒仪的设计中得到了应用。讨论了在利用Mie光散射理论时,无因次准则数X的取值及其影响因素。 展开更多
关键词 激光测粒仪 小角前向散射 FD理论 准则数X
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应用激光侧向散射测量粒径分布的理论研究 被引量:3
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作者 张志伟 卫敬明 +1 位作者 郑刚 王乃宁 《中国激光》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第11期1040-1044,共5页
提出一种新型的颗粒测量方法,基于Mie散射理论,从另一独特的视角接收大角度的侧向散射光,并建立新的理论模型,可使测量下限扩展,技术要求有所改善。结合目前已经成熟的半导体激光和CCD技术,运用此原理可使颗粒测量仪器向更... 提出一种新型的颗粒测量方法,基于Mie散射理论,从另一独特的视角接收大角度的侧向散射光,并建立新的理论模型,可使测量下限扩展,技术要求有所改善。结合目前已经成熟的半导体激光和CCD技术,运用此原理可使颗粒测量仪器向更轻便。 展开更多
关键词 侧向散射 粒径分布 条形阵列 光敏二极管
原文传递
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