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典型低地球轨道的粒子辐射环境定量分析研究
1
作者
董玉凤
王志达
+4 位作者
崔安定
王甜
肖远清
雷志锋
张战刚
《电子产品可靠性与环境试验》
2026年第1期1-8,共8页
基于Space Radiation 7.0软件,对500 km和1 100 km两条典型低地球轨道在不同空间天气(太阳极小、太阳极大与太阳耀斑)和不同屏蔽条件下的粒子辐射环境与剂量进行了计算分析,包括轨道离子谱、电离总剂量和位移损伤剂量。根据轨道离子谱,...
基于Space Radiation 7.0软件,对500 km和1 100 km两条典型低地球轨道在不同空间天气(太阳极小、太阳极大与太阳耀斑)和不同屏蔽条件下的粒子辐射环境与剂量进行了计算分析,包括轨道离子谱、电离总剂量和位移损伤剂量。根据轨道离子谱,得到了不同线性能量传输(LET)值范围内的轨道离子通量。结果表明,在500 km轨道舱内、太阳极小条件下,当LET阈值从15 MeV·cm^(2)/mg提高至37 MeV·cm^(2)/mg时,对应的敏感离子通量从84/(cm^(2)·年)下降至0.016/(cm^(2)·年)。进一步计算了14 nm鳍式场效应晶体管(FinFET)工艺静态随机存取存储器(SRAM)在轨重离子错误率,在1 100 km轨道、太阳极小条件下的重离子翻转率为7.99×10^(-10)/(bit·d)。此外,通过对比舱内与舱外的电离总剂量和位移损伤剂量,发现舱外辐射剂量约为舱内剂量的10^(4)倍。研究结果可为典型低地球轨道的空间辐射防护设计与评估提供参考。
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关键词
低地轨道
空间辐射
电离总剂量
位移损伤剂量
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职称材料
题名
典型低地球轨道的粒子辐射环境定量分析研究
1
作者
董玉凤
王志达
崔安定
王甜
肖远清
雷志锋
张战刚
机构
工业和信息化部电子第五研究所
电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室
中兴通讯股份有限公司
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
2026年第1期1-8,共8页
基金
国家自然科学基金项目:面向航空应用的纳米FinFET器件大气中子单粒子效应机理及评价方法研究(12175045)资助。
文摘
基于Space Radiation 7.0软件,对500 km和1 100 km两条典型低地球轨道在不同空间天气(太阳极小、太阳极大与太阳耀斑)和不同屏蔽条件下的粒子辐射环境与剂量进行了计算分析,包括轨道离子谱、电离总剂量和位移损伤剂量。根据轨道离子谱,得到了不同线性能量传输(LET)值范围内的轨道离子通量。结果表明,在500 km轨道舱内、太阳极小条件下,当LET阈值从15 MeV·cm^(2)/mg提高至37 MeV·cm^(2)/mg时,对应的敏感离子通量从84/(cm^(2)·年)下降至0.016/(cm^(2)·年)。进一步计算了14 nm鳍式场效应晶体管(FinFET)工艺静态随机存取存储器(SRAM)在轨重离子错误率,在1 100 km轨道、太阳极小条件下的重离子翻转率为7.99×10^(-10)/(bit·d)。此外,通过对比舱内与舱外的电离总剂量和位移损伤剂量,发现舱外辐射剂量约为舱内剂量的10^(4)倍。研究结果可为典型低地球轨道的空间辐射防护设计与评估提供参考。
关键词
低地轨道
空间辐射
电离总剂量
位移损伤剂量
Keywords
low earth orbit
space radiation
total ionizing dose
displacement damage dose
分类号
TP311 [自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
P422.33 [天文地球—大气科学及气象学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
典型低地球轨道的粒子辐射环境定量分析研究
董玉凤
王志达
崔安定
王甜
肖远清
雷志锋
张战刚
《电子产品可靠性与环境试验》
2026
0
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