针对高分辨透射电子显微镜(high⁃resolution transmission electron microscope,HRTEM)所拍摄的图像存在像差造成的分辨率下降问题,本文提出一种自动测量像差参数的方案:以相对随机的方式,模仿实验像与模拟像的人工对比过程,可以求解电...针对高分辨透射电子显微镜(high⁃resolution transmission electron microscope,HRTEM)所拍摄的图像存在像差造成的分辨率下降问题,本文提出一种自动测量像差参数的方案:以相对随机的方式,模仿实验像与模拟像的人工对比过程,可以求解电镜像差。求得的像差结合改进单图重建波函数算法,可以去除图像的像差影响并获得单张图的波函数的相位像。本文运用模拟像验证后,方案与算法用于单层二硫化钼的实验HRTEM像,测得像差参数精度高,校正后的图像细节更优。本文算法计算精度好、效率高,有望应用于针对晶格像的像差测量问题。展开更多
文摘针对高分辨透射电子显微镜(high⁃resolution transmission electron microscope,HRTEM)所拍摄的图像存在像差造成的分辨率下降问题,本文提出一种自动测量像差参数的方案:以相对随机的方式,模仿实验像与模拟像的人工对比过程,可以求解电镜像差。求得的像差结合改进单图重建波函数算法,可以去除图像的像差影响并获得单张图的波函数的相位像。本文运用模拟像验证后,方案与算法用于单层二硫化钼的实验HRTEM像,测得像差参数精度高,校正后的图像细节更优。本文算法计算精度好、效率高,有望应用于针对晶格像的像差测量问题。
