期刊文献+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
共找到4篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
零件表面可剥离封存薄膜技术的发展概况 被引量：7
1
作者 曹钰 刘世参 《中国表面工程》 EI CAS CSCD 2000年第2期14-17,共4页
综述了零件表面可剥离封存薄膜材料的国内外发展及应用情况介绍了涂层的特点及性能研究的方法，并对可剥离涂层防腐封存技术的发展趋势进行了展望。
关键词 防腐封存 测试技术 零件 可剥离封存薄膜
在线阅读 下载PDF
关于加强青年教师思想道德建设的几点思考
2
作者 李小蔚 《淮海工学院学报（人文社会科学版）》 2001年第z1期15-17,共3页
面对新的形势和高教改革发展的新要求，从教师的地位、作用以及肩负的历史重任，针对青年 教师的特点，提出加强青年教师思想道德建设的措施，提高青年教师的综合素质．促进教育事业的发展．
关键词 青年教师 思想道德建设 思考
在线阅读 下载PDF
作为高介电常数栅介质材料的LaErO_3薄膜热稳定性和电学性质的研究 被引量：1
3
作者 张九如 殷江 《南京大学学报（自然科学版）》 CAS CSCD 北大核心 2009年第2期147-152,共6页
采用脉冲激光淀积法在硅衬底上生长了LaErO3薄膜,用X射线衍射仪、X射线电子能谱仪、高分辨透射电子显微镜研究了该薄膜的热学和电学性质.通过电容-电压测量得到了较好的电容-电压曲线,计算得出等效SiO2厚度为1.4nm.通过高分辨电镜可以... 采用脉冲激光淀积法在硅衬底上生长了LaErO3薄膜,用X射线衍射仪、X射线电子能谱仪、高分辨透射电子显微镜研究了该薄膜的热学和电学性质.通过电容-电压测量得到了较好的电容-电压曲线,计算得出等效SiO2厚度为1.4nm.通过高分辨电镜可以看出即使经过700℃30sN2中快速热退火处理LaErO3薄膜与硅衬底之间的反应层也仅有几个原子层的厚度.X射线电子能谱分析得到非常少量的SiO2在沉积的过程中形成.测量的热学和电学性质表明LaErO3薄膜是高介电常数栅介质材料非常有前途的候选材料. 展开更多
关键词 高介电常数栅介质材料 脉冲激光淀积 薄膜
在线阅读 下载PDF
导波法测量吸收薄膜的复介电系数和厚度 被引量：7
4
作者 蒋毅 曹庄琪 +1 位作者 沈启舜 陈英礼 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第5期642-646,共5页
具有吸收特性的波导薄膜 ,其衰减全反射 (ATR)峰的位置和形状包含了薄膜诸多特征参数的信息。在同时考虑棱镜的耦合和材料的吸收的基础上 ,本文用一阶微扰理论推导了微扰传播常数的解析公式 ,并且介绍了通过分析薄膜的衰减全反射峰来计... 具有吸收特性的波导薄膜 ,其衰减全反射 (ATR)峰的位置和形状包含了薄膜诸多特征参数的信息。在同时考虑棱镜的耦合和材料的吸收的基础上 ,本文用一阶微扰理论推导了微扰传播常数的解析公式 ,并且介绍了通过分析薄膜的衰减全反射峰来计算吸收薄膜的复介电系数和厚度的方法。 展开更多
关键词 导波法 吸收薄膜 复介电系数 衰减全反射 厚度
原文传递
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
上一页 1 下一页 到第 页
使用帮助 返回顶部