在实时动态测试领域中,测试系统微型化是一个重要的研究方向.片上系统技术的发展,为降低系统体积、功耗提供了有效的技术手段.本文利用该技术对微型测试系统进行了研究,对包括SoC(Systemon Ch ip)单片机、基于FPGA(F ie ld P rogramm ab...在实时动态测试领域中,测试系统微型化是一个重要的研究方向.片上系统技术的发展,为降低系统体积、功耗提供了有效的技术手段.本文利用该技术对微型测试系统进行了研究,对包括SoC(Systemon Ch ip)单片机、基于FPGA(F ie ld P rogramm ab le G ate A rray)的SoPC(System s on a P rogramm ab leCh ip),S IP(System-in-package),A S IC(A pp lication Spec ific In tegrated C ircu its)等片上系统技术在动态测试领域中的应用进行了探讨.设计了SoC单片机及SoPC在动态测试中的应用方案,并进行了试验测试.结果表明,片上技术能更好地完成动态测试.展开更多
针对储存测试系统微型化的瓶颈问题,设计了具有多采样策略的ASIC(application specific inte-grated circuit)。该芯片可以根据被测信号的变化规律在一次测试过程中设置多种采样频率,可以有效利用系统有限的储存空间,减少储存芯片的数...针对储存测试系统微型化的瓶颈问题,设计了具有多采样策略的ASIC(application specific inte-grated circuit)。该芯片可以根据被测信号的变化规律在一次测试过程中设置多种采样频率,可以有效利用系统有限的储存空间,减少储存芯片的数量。多种采样频率的转换通过触发信号自动完成。采用此ASIC的测试系统不仅在体积微型化方面提供了有效的途径,还提高了ASIC的灵活性,使其具有更加广泛的应用空间。芯片进行了测试和验证,能够达到设计要求,可以进行实际应用。基于此ASIC的存储测试系统比现有存储测试系统体积减小40%～60%。展开更多
文摘在实时动态测试领域中,测试系统微型化是一个重要的研究方向.片上系统技术的发展,为降低系统体积、功耗提供了有效的技术手段.本文利用该技术对微型测试系统进行了研究,对包括SoC(Systemon Ch ip)单片机、基于FPGA(F ie ld P rogramm ab le G ate A rray)的SoPC(System s on a P rogramm ab leCh ip),S IP(System-in-package),A S IC(A pp lication Spec ific In tegrated C ircu its)等片上系统技术在动态测试领域中的应用进行了探讨.设计了SoC单片机及SoPC在动态测试中的应用方案,并进行了试验测试.结果表明,片上技术能更好地完成动态测试.
文摘针对储存测试系统微型化的瓶颈问题,设计了具有多采样策略的ASIC(application specific inte-grated circuit)。该芯片可以根据被测信号的变化规律在一次测试过程中设置多种采样频率,可以有效利用系统有限的储存空间,减少储存芯片的数量。多种采样频率的转换通过触发信号自动完成。采用此ASIC的测试系统不仅在体积微型化方面提供了有效的途径,还提高了ASIC的灵活性,使其具有更加广泛的应用空间。芯片进行了测试和验证,能够达到设计要求,可以进行实际应用。基于此ASIC的存储测试系统比现有存储测试系统体积减小40%～60%。
