管腔内水汽对运算放大器电参数影响的研究

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摘要介绍了分析运算放大器管腔内水汽对其电参数影响的工作。试验表明,运算放大器管腔内过量水汽对其Iib、Ios、Vos三个参数影响较大。通过其参数Iib和Ios的温度响应曲线可以测定其水汽的露点,并大致确定其管壳内的水汽含量和“危险”工作区。

作者田耀亭

机构地区航天时代电子公司

出处《航天制造技术》 2004年第2期34-36,共3页 Aerospace Manufacturing Technology

关键词运算放大器电参数影响因素管腔温度响应曲线电路稳定性

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航天制造技术

2004年第2期

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