摘要
钇钡铜氧化物系统超导材料的表征组成为Y1Ba2-Cu3O7-x,材料中钇、钡、铜的精确测定是材料工艺过程中必不可少的。虽然材料中钇、钡、铜含量的化学法测定也属简便,但对薄膜样品的测定因试样量极少而显得困难,本法则克服了此弊端。 X射线荧光光谱分析法是一种精确、快速且成熟的分析方法。近年来已广泛应用于地质、冶金、建材等常规分析中。在X射线荧光光谱分析技术中,为获得精确的结果,一般均需经基体效应校正,而溶液滤纸片法是一种薄试样法,无需校正元素间效应,并已成功地应用于微量试样及稀土类试样的分析中。
出处
《理化检验（化学分册）》
CAS
CSCD
北大核心
1989年第3期25-26,共2页
Physical Testing and Chemical Analysis(Part B:Chemical Analysis)
