录像磁带磁层缺陷的研究

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摘要一、前言录像磁带磁层的缺陷可以造成磁带的信号失录:单位时间内失录数目的多少是衡量录像磁带质量好坏的一个重要参数。因此已有不少人采用不同方法对磁带磁层的缺陷进行了研究,探索缺陷形成的各种原因,以便尽量减少磁层的缺陷。主要的方法有:用光学显微镜、扫描电子显微镜直接观察磁层的缺陷和从录像磁带失录信号的波形去分析磁层的缺陷等。

作者罗河烈冯远冰李秀英

机构地区中国科学院物理研究所

出处《科学通报》 EI CAS CSCD 北大核心 1989年第15期1135-1137,共3页 Chinese Science Bulletin

关键词录像磁带磁层缺陷录像磁带

分类号 TQ587.13 [化学工程—精细化工]

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科学通报

1989年第15期

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