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Yield strengths and stress induced crackles in copper films:effects of substrate and passivated layer 被引量:3

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出处 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2004年第2期205-211,共7页 中国物理B(英文版)
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参考文献22

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引证文献3

二级引证文献1

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