期刊文献+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息

晶片级可靠性评估

在线阅读 下载PDF
导出
摘要 本文介绍一种晶片级可靠性(WLR)研究技术。与传统可靠性保证技术相比,WLR技术的成本低,对破坏性失效机理很敏感,工艺评价速度快。
作者 宋湘云
出处 《微电子学》 CAS CSCD 1992年第2期70-73,共4页 Microelectronics
关键词 半导体 集成电路 晶片 可靠性
分类号 TN406 [电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 相关文献
微电子学
1992年 第2期

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部