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一种由单片机控制的零件尺寸的光电检测方法

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摘要本文所介绍的零件尺寸检测方法,是采用电荷耦合器件CCD作为检测元的光电非接触检测方法。由于采用CCD器件及单片机数据处理,使其检测精度高、速度快、功能强。同时也较为详细地介绍了CCD测量的工作原理以及单片机与CCD的接口等。

作者谷东兵

机构地区长春光机学院

出处《试验技术与试验机》 1992年第1期35-36,44,共3页 Test Technology and Testing Machine

关键词 CCD 微机控制光电检测法尺寸

分类号 TN386.5 [电子电信—物理电子学]

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试验技术与试验机

1992年第1期

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