摘要
1 引言
高纯铜(Cu＞99.95%)中,As,Sb,Bi,Fe,Pb,Sn,Ni和Zn测定时,受基体铜严重干扰,经分离富集后ICP-AES测定,不但耗时长,而且受空白值漂移困扰.本文通过对ICP-AES测定中工作参数,基体及光谱干扰研究后,采用基体匹配与多组分谱图拟合(MSF)联合校正,消除Cu的干扰,直接ICP-AES测定.检测限降低5～7倍,方法准确、简便、快速.试样测定下限LQD 0.X～X μg/g,标准回收率94%～104%,与分离富集后ICP-AES法及国家标样分析结果吻合.
出处
《分析化学》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第5期635-635,共1页
Chinese Journal of Analytical Chemistry
