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STRIP-LINE测量技术在Ⅳ-Ⅵ族半导体远红外磁光光谱中的应用

THE APPLICATION OF THE STRIP-LINE TECHNIQUE IN THE FAR INFRARED MAGNETOSPECTROSCOPY OF Ⅳ-Ⅵ SEMICONDUCTORS
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摘要 描述了Strip-Line测量技术及其原理.深入讨论了Strip-Line技术在实际应用中模式耦合问题.从实验和理论两方面显示了模式耦合问题在应用Strip-Line技术研究Ⅳ-Ⅵ族铅化物半导体远红外磁光性质中的重要性. The Strip-Line technique and its principle are described in this paper. The mode coupling problem in the application of the Strip-Line technique has been studied. The im- portance of the mode coupling problem has been shown in the study of magnetospectro- scopy for the Ⅳ-Ⅵ lead compound semiconductors by the Strip-Line technique.
出处 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1992年第5期353-360,共8页 Journal of Infrared and Millimeter Waves
基金 联邦德国Alexand von Humboldt基金会部分资助课题
关键词 Ⅳ-Ⅵ族 化合物半导体 磁光光谱 lead compound semiconductors, far infrared, magnetospectroscopy.
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