摘要
脆性 X 综合征是家族性智力低下的最常见病因,以数量异常的 CCG 重复构成遗传DNA 序列为其特征。该 DNA 在有丝分裂和减数分裂时均不稳定。作者认为这些遗传不稳定的 DNA 顺序也可能在基因组的其它部位存在,并可能解释经典遗传机理所无法解释的许多遗传问题,如早现遗传,不完全外显率,变量表达和可能的印迹(imprinting),花斑及多因子遗传。
出处
《国外医学（遗传学分册）》
1992年第6期320-322,共3页
Foreign Medical Sciences(Section of Genetics )
