Innoventions存储器测试仪可检测PC333 DDR模块
出处
《电子质量》
2003年第2期91-91,共1页
Electronics Quality
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1可检测PC333 DDR模块的存储器测试仪[J].电子元器件应用,2003,5(3):27-27.
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2Innoventions推出RAHCHECK Plus存储器测试仪[J].电子质量,2003(4):40-40.
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3陈赤华.内存混插导致的死机故障解决[J].电子乐园,2009(2):32-32.
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4熊仕猛,沈苏彬,李莉.边界扫描技术的功能测试应用[J].微计算机信息,2011,27(10):73-75. 被引量:1
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5Maxim用于DDR存储模块的温度传感器[J].电子产品世界,2006,13(12X):46-46.
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664位电脑完美配置两则[J].计算机与网络,2005(21):15-15.