激光扫描显微术和散射光层析法

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摘要激光扫描显微术和红外层析法目前在各个科学和应用领域获得巨大发展和运用。下面分析我们在激光诊断综合体上实现的某些新方法,并讨论所订工作方式在研究半导体的局部特性时的可能应用。当用聚焦红外辐射探测半导体时,不仅要检测反射和透射通量,也要检测偏振和散射红外辐射,它能提供被研究物体性质的补充信息,特别是半导体光学各向异性方面的信息。

作者白光

出处《国外激光》 CSCD 1992年第12期28-30,共3页

关键词激光扫描显微术散射光层析法

分类号 TN249 [电子电信—物理电子学]

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