焦平面探测器的非均匀性

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摘要随着红外焦平面探测器的快速发展及其在军事和民用方面的广泛应用,焦平面器件的不均匀性参数成为制约器件性能和应用的关键参数,降低不均匀性已成为红外焦平面器件的关键技术之一。本文分析了影响焦平面不均匀性的几个方面,并针对目前使用的行积分式DI型读出造成的不均匀性进行了分析,提出了一种改进方法,为提高焦平面器件的性能提供参考。

作者郭云芝

机构地区中国空空导弹研究院

出处《航空兵器》 2002年第6期14-16,共3页 Aero Weaponry

关键词焦平面探测器直接注入读出电路非均匀性红外探测器

分类号 TN215 [电子电信—物理电子学]

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