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M-I型纳米颗粒膜逾渗阈值的测量及验证

MEASUREMENT AND VERIFICATION OF PERCOLATION THRESHOLD FOR M-I NANO-GRANULAR FILM
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摘要 采用磁控溅射法 ,在玻璃基片上制备了一系列不同Ni79Fe2 1含量的 (Ni79Fe2 1) x(Al2 O3 ) 1-xM I型纳米颗粒膜。测量并分析了电阻率与体积分数的关系 ,得出该颗粒膜的体积分数逾渗阈值大约为 0 .5 1。分别用 4种方法验证了M I型纳米颗粒膜的逾渗阈值。 A series of (Ni 79Fe 21) x(Al 2O 3) 1-x M-I nano-granular films were fabricated on the glass substrates with magneto sputtering technique. The relations between the volume fraction of the magneto metal and resistivity were analyzed. The percolation threshold of the film was determined. Four methods were used to verify the percolation threshold. Experimental results show that the determined threshold is exact.
作者 胡松青 杨渭
出处 《石油大学学报(自然科学版)》 CSCD 北大核心 2003年第1期116-118,125,共4页 Journal of the University of Petroleum,China(Edition of Natural Science)
关键词 磁控溅射法 (Ni79Fe21)x(Al2O3)1-x M-I型纳米颗粒膜 逾渗阈值 magneto sputtering technique (Ni 79Fe 21) x(Al 2O 3) 1-x M-I nano-granular film percolation threshold
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