附加斜面法用于三维物体面形计算

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摘要本文提出了一种新的三维物体面形计算方法。用硬件电路实现结构光特征提取,然后对畸变光条分布进行总体面形拟合处理。处理中得到附加一个斜面的物体面形,通过同样方法,得到斜面面形。将二者相减,即可得到实际物体面形。和一般方法相比,本文采用的方法具有数据处理量小、速度快、精度高等特点。

作者吴平凡余飞鸿李正民孙扬远

机构地区杭州浙江大学光仪系

出处《光电子．激光》 EI CAS CSCD 北大核心 1992年第6期328-332,共5页 Journal of Optoelectronics·Laser

基金国家自然科学基金

关键词三维物体测量计算结构光法

光电子．激光

1992年第6期

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