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32位ARM嵌入式处理器的调试技术 被引量:12

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摘要 针对32位ARM处理器开发过程中调试技术的研究,分析了目前比较流行的基于JTAG的实时调试技术,介绍了正在发展的嵌入式调试标准,并展望其趋势。
出处 《电子技术应用》 北大核心 2003年第3期25-27,共3页 Application of Electronic Technique
  • 相关文献

参考文献4

  • 1[1]ARM Limited. Real time debug for System-on-Chip Devices. 1998
  • 2[2]David Marsh ,EDN Europe. Simple boundary-scan techniques tackle sophisticated systems. July 2001: 34
  • 3[3]Jack Ganssle. In-Circuit Emulators.Embedded Systems Programming, November 2001
  • 4[4]Timothy C.Kelly. Techniques and Technologies in Debugging and Optimizing Embedded Applications. Embedded Systems Conference. April 2001

同被引文献51

引证文献12

二级引证文献64

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