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固体钽电容器损耗变化的原因及工艺改进

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摘要作者在研制非密封超小型固体钽电解电容器中,发现试制的50V/2.2μF样品在常温储存一段时间后,损耗明显上升,损耗角正切值变化极大,已影响产品的使用。经过一系列试验和分析,找出了损耗角正切值变大的内在原因。改进生产工艺后,试制出的50V/2.2μF样品的损耗角正切值不变,电性能稳定。

作者谢艺

机构地区国营

出处《电子元件与材料》 CAS CSCD 1992年第3期55-58,共4页 Electronic Components And Materials

关键词钽电容器储存损耗变化工艺改进

分类号 TM535.1 [电气工程—电器]

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电子元件与材料

1992年第3期

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