摘要
由X光胶片特性曲线推导出中子照相反差公式 ,应用此公式 ,可以估算使用指示剂的最佳用量 ,以及用此剂量指示剂进行中子照相所能发现缺陷的反差值。由此可以更好地控制中子照相的质量 ,即更好地控制产品的质量 ,同时还介绍了中子照相总不清晰度的估算方法。
From characteristic curve of X ray film,the neutron radiographic contrast formulas are developed.Optimum value of applied indicator can be determined from these formulas to evaluate the neutron radiograph contrast value of defect.So the quality of neutron radiograph and,relevant products under NDT can be well controlled.The method to estimate total indistinctness of is also introduced.
出处
《宇航材料工艺》
CAS
CSCD
北大核心
2002年第6期47-49,共3页
Aerospace Materials & Technology
