摘要
HIOKI隆重推出新型3535 LCR测试仪,此LCR测试仪可将测试频率提高到100MHz以上。价格为同类仪器的四分之一 HIOKI3535LCR测试仪的频率范围为100kHz～120MHz;而同等频率范围的现有仪器价格为该仪器的四倍多。HIOKI3535LCR测试仪可提供最大采样率为6ms的高速比较功能,因此它广泛适用于宽频范围下进行高速监控的生产过程中(如感应芯片与磁头等)。另外,该测试仪所具有的特性使它成为高频元器件研发领域的理想选择。
出处
《国外电子测量技术》
2002年第6期34-34,共1页
Foreign Electronic Measurement Technology
