SiC多型体的点阵象

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摘要 X射线衍射及电子衍射分析虽然可以给出很精确的晶体结构资料,但都是大量单胞的平均结果。利用电子显微镜的高分辨率。可以直接拍摄点阵象,揭示晶体点阵的周期性。一维点阵象能显示不同厚度的各种层状单元的堆垛顺序,特别适用于研究层状结构。

作者叶恒强周敬郭可信

机构地区中国科学院金属研究所

出处《科学通报》 1980年第4期164-166,共3页 Chinese Science Bulletin

关键词 X射线衍射电子衍射 SiC多型体点阵象

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科学通报

1980年第4期

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