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多层非晶硅结构研究的新方法——电子显微术
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摘要
由非晶硅氢(a-Si:H)和硅氮氢(a-SiN_(x):H)交替超薄层构成的多层结构,是一种二维半导体材料,在物理上,是极为有趣的。更有趣的是,当a-Si:H很薄时,该材料的光隙明显地增加,还发现,电荷载流子从低功函数层向高功函数层流动时产生空间电荷掺杂效应。
作者
温树林
冯景伟
程如光
H.Fritzsche
机构地区
中国科学院上海硅酸盐研究所
美国芝加哥大学James Franck研究所
出处
《科学通报》
1985年第20期1588-1589,共2页
Chinese Science Bulletin
关键词
多层非晶硅结构
电子显微术
A-SI:H
分类号
O469 [理学—凝聚态物理]
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科学通报
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