红外检测中缺陷大小和深度的测量被引量：26

Measuring Defect Diameter and Depth in Infrared Testing

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摘要文中介绍了红外层析检测的基本原理。 The paper introduces the basal theory of Infrared Thermal tomography testing. It puts emphasis on methods of measuring defect diameter and depth.

作者王永茂郭兴旺李日华

机构地区北京航空航天大学机械工程及自动化学院

出处《激光与红外》 CAS CSCD 北大核心 2002年第6期404-406,共3页 Laser & Infrared

基金国家自然科学基金资助 (E0 5 0 2 0 40 2 )

关键词红外检测缺陷大小测量热层析无损检测缺陷深度 infrared testing thermal tomography nondestructive testing

分类号 TN21 [电子电信—物理电子学]

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