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用近场显微镜观测纳米材料的成分

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摘要 远场显微术因受波长限制而导致图像模糊,故不能用于观测多元纳米结构上不同类型材料的成分。
出处 《光机电信息》 2002年第10期42-42,共1页 OME Information
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