电子器件可靠性试验简介

Brief Introduction to Reliability Testing of Electronic Devices

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摘要本文主要介绍可靠性试验的基本概念、种类、方法以及环境试验项目。 This paper mainly introduces fundamental concept,types,and tech- niques of reliability testing.Items of enviromental testing are also given.

作者黄志刚

机构地区重庆光电技术研究所

出处《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 1992年第3期282-287,共6页 Semiconductor Optoelectronics

关键词可靠性试验环境试验电子设备 Reliability Testing Environmental Testing

分类号 TN06 [电子电信—物理电子学]

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1张敏.论可靠性试验与环境试验[J].四川兵工学报,1990,11(3):145-147.
2陈昭宪.电子元器件的有关可靠性试验[J].电子产品可靠性与环境试验,1995(6):63-66. 被引量：1
3马春燕.电子产品的可靠性试验[J].家用电声技术（北无通讯）,1990(1):48-64.
4窦长瑞.电源设备可靠性试验三要素及其关系[J].通信电源技术,1994(3):10-13.
5阿马立斯基,何振斌.木工机床可靠性试验用的模数试验台[J].木工机床,1990(2):60-64.
6金恂叔.人造卫星的环境试验[J].中国航天,1993(8):15-19.
7隋喜奎.发动机可靠性试验分析[J].内燃机与配件,2017(20):37-38.
8张雪薇,吴昱姣,姜曼,杨戈.SMA-JB2A/SMA-JB2A-L型电缆组件的研制[J].电子技术与软件工程,2017(18):128-128. 被引量：1
9王莎,耿艳东.深水防喷器控制系统试验样机研制[J].石油矿场机械,2017,46(5):71-74. 被引量：1
10高森林,宁书岩,孟繁亮,孙权.型式评价试验设备的测量不确定度评定[J].工业计量,2017,27(S2):91-93.

半导体光电

1992年第3期

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